HORIBA全資收購MANTA拓寬顆粒表征儀器技術
分析測試百科網訊 近日,株式會社堀場制作所 (HORIBA, Ltd.)宣布,集團旗下美國子公司HORIBA Instruments Incorporated(總部位于美國Irvine;以下稱“HORIBA Instruments”)于1月24日,以全部股份收購的形式完成對MANTA Instruments, Inc.(總部位于美國圣地亞哥;以下簡稱“MANTA”)的收購。 MANTA的納米顆粒表征技術因其突破性的多光譜納米顆粒跟蹤技術而享有盛譽,該技術是由加州大學圣地亞哥分校(University of California, San Diego)開發并申請ZL的。MANTA這家領先的納米顆粒跟蹤分析系統開發商、制造商和供應商將成為HORIBA Instruments的全資子公司,并拓寬了HORIBA顆粒表征儀器技術。 收購過程完成后,MANTA的開發和生產功能將轉移到HORIBA Instruments,從而通過......閱讀全文
HORIBA全資收購MANTA-拓寬顆粒表征儀器技術
分析測試百科網訊 近日,株式會社堀場制作所 (HORIBA, Ltd.)宣布,集團旗下美國子公司HORIBA Instruments Incorporated(總部位于美國Irvine;以下稱“HORIBA Instruments”)于1月24日,以全部股份收購的形式完成對MANTA Instr
顆粒表征
1. 顆粒尺寸激光散射法具體是怎樣的,可以舉例說明嗎激光照射到顆粒上會發生光散射,散射光的強度和角度與顆粒尺寸有關。大顆粒的散射光較強,但散射角度較窄;小顆粒的散射光強度較弱,但角度較寬。將不同角度檢測器收集到的光信號,根據數學模型轉換成顆粒尺寸。2. 請問DSL測定納米粒徑時,溶液的溶劑,濃度,溫
顆粒表征小貼士
? ? 人們可以制造各種顆粒,自然界存在更多種類的粒子。而我們需要量子力學或更復雜的理論去解釋那些基本的粒子,如中子,電磁學和經典的機械物理學通常足以解釋大于1nm的粒子的基本行為。但這并不意味著我們可以輕而易舉的預判諸如此類的粒子的行為,科學家幾乎每天都能碰到讓人眼花繚亂難以捉摸的粒子行為,在這一
HORIBA粒度表征技術交流會將召開
“HORIBA最新 激光粒度表征技術暨其在新材料領域的應用交流會”將于2011年5月19日在廣州華南理工大學舉行,本屆交流會將對激光粒度表征技術在新材料、新能源領域的發展及應用進行交流,同時也會對最先進的HORIBA激光粒度表征技術(SZ 100 & LA950V2)進行現場展示。來自華
麥克儀器將舉行顆粒表征分析技術研討會
美國麥克儀器公司Micromeritics Instrument Corporation自1962年成立以來,一直致力于發展創新細微顆粒的表征技術,在細微顆粒表征儀器領域內始終處于世界領先地位。麥克儀器公司在中國已有32年的商務歷史,并于2011年成立了獨資進出口商貿公司麥克默瑞提克(上海)
顆粒表征基本概念
1 描述顆粒大小的概念1顆粒最大長度、最大寬度顆粒投影最大外接四邊形的長為顆粒最大長度za,四邊形的寬為顆粒最大寬度zb,如(圖2-1)所示,b是最大外接四邊形。2顆粒長度,顆粒寬度顆粒投影最小外接四邊形的長為顆粒長度ka,四邊形的寬為顆粒寬度kb,如(圖2-2)所示,b是最小外接四邊形。3等效圓直
KSV-NIMA表征儀器
界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS)帶偏振模塊的紅外反射吸收光譜儀主要用來決定分子的取向和化學組成。布魯斯特角顯微鏡(BAM)可進行薄膜的均一性、相行為和形貌的單分子層成像和光學觀測,并可提供不同的分辨率和其他分析數據選項。表面電位測量儀(SPOT)使用振動盤技術來監測薄膜的電位變化,從而對單
掃描電鏡(SEM)和顆粒表征
掃描電鏡(SEM)和顆粒表征?如上所述,掃描電鏡(SEM)對 AM 工藝制造的產品的表面進行成像和表征。?另外,對于粉末材料的表征,可以使用專用軟件,例如由飛納電鏡開發的顆粒統計分析測量系統(ParticleMetric)。???該軟件可以自動檢測掃描電鏡樣品上存在的顆粒,并通過測量幾種最重要的物理
油墨中納米顆粒的表征方法
表征某一特定過程種顆粒體系的特性時不僅需要考慮到多方面因素的影響還要考慮到最終的使用。表征顆粒體系時必須要包括但不僅僅局限于以下幾點:粒徑分布、表面積、孔隙率、形狀和顆粒的帶電性。實際上,將所有的表征參數結合起來可以讓我們對顆粒有更清晰的認識。通過粉體流動性、分散性、藥物療效、干燥涂層效果、懸浮穩定
探索新材料,創造“芯”未來-——HORIBA半導體材料表征主題研討會圓滿召開!
2024年3月23日,HORIBA 開放日——半導體材料表征主題研討會在HORIBA集團全新投資的厚立方大樓(C-CUBE) 成功舉辦。本次研討會由HORIBA攜手上海集成電路材料研究院、集成電路材料創新聯合體共同舉辦,吸引了諸多技術專家與前端企業共聚一堂,共同探討光刻膠、寬禁帶材料和光掩膜等關
BCEIA-2015-HORIBA-SZ100納米顆粒分析儀
分析測試百科網訊 2015年10月26日,第十六屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2015)于北京國家會議中心舉辦。本屆展覽會共有461家展商參加,展出當今國內外分析測試領域的前沿技術和先進儀器設備,分析測試百科網對流變儀、熱分析儀、粒度儀等部分優秀物性檢測分析儀器進行了盤點。 H
微流成像圖像法顆粒分析技術助力顆粒表征
《梓夢科技》微流成像顆粒分析系統采用高頻成像檢測器對動態連續的樣品中的顆粒物進行靜態的圖像捕獲,獲取一系列的數據照片,并通過軟件對顆粒物進行形態學參數描述和計數分析,根據形態學參數可對顆粒進行大致分類,比如蛋白聚體、硅油、氣泡、纖維等。蛋白質藥物易于形成可見或亞可見(在顯微鏡下可見)的聚集體,從而影
Horiba推出MEXA-2010SPCS
分析測試百科網訊 作為排放測量和汽車測試系統的領先供應商,Horiba將其固體粒子數的測量能力進一步擴展到納米范圍新的MEXA-2010SPCS(Solid Particle Counting System)固體粒子計數系統的引入使粒子測量低于當前23nm的法定檢測限。在最近的科學證據表明納米顆
激光粒度儀怎么表征顆粒群粒度大小
? ? 一般情況下由同一粒徑顆粒組成的顆粒群稱為單分散顆粒群。實際上單分散顆粒群是極少的。顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成。? ? 以粒度為橫坐標,以顆粒單位粒徑寬度內的顆粒含量(體積含量、個數含量、表面積含量等)為縱坐標,繪出的曲線稱為粒度分布曲線(又稱頻率分布)。如果縱坐標采用某一粒度下顆粒
激光粒度儀怎么表征顆粒群粒度大小
一般情況下由同一粒徑顆粒組成的顆粒群稱為單分散顆粒群。實際上單分散顆粒群是極少的。顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成。? ? 以粒度為橫坐標,以顆粒單位粒徑寬度內的顆粒含量(體積含量、個數含量、表面積含量等)為縱坐標,繪出的曲線稱為粒度分布曲線(又稱頻率分布)。如果縱坐標采用某一粒度下顆粒的累積含
直擊HORIBA新品拉曼-LabRAM-Soleil搭載多個“首次”亮相發布會
分析測試百科網訊 2020年5月19日,HORIBA拉曼新品LabRAM Soleil(高分辨超靈敏智能拉曼成像儀)在線上如期舉行。HORIBA擁有著200年的光學發展歷史沉淀,近50年來,始終致力于拉曼光譜的制造與研發。此次LabRAM Soleil新品發布吸引了諸多領域專家學者關注,分析測試
為行業育才,賦能科研突破與產業轉化——第二屆外泌體實驗技能實訓營圓滿舉辦!
2025 年 5 月 28 至 30 日,第二屆外泌體實驗技能實訓營在 HORIBA 前沿應用開發中心(Analytical Solution Plaza,簡稱 ASP)圓滿舉行。作為北京恩澤康泰生物科技有限公司(以下簡稱“恩澤康泰”)與 HORIBA 達成戰略合作后的首次實踐,實訓營吸引了 50
HORIBA構建SPRi儀器的戰略伙伴關系
自2010年3月1日,HORIBA Jobin Yvon (隸屬于HORIBA Scientific)與CLIPP(法國臨床蛋白質組學創新平臺)所屬成員FEMTO-ST研究所(法國貝桑松)及IFR100研究所(法國第戎)構建了R&D合作伙伴關系,合作開發SPRi-M
化工常見實驗儀器及表征儀器原理動畫
1.紫外分光光譜UV 分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中電子能級的躍遷 譜圖的表示方法:相對吸收光能量隨吸收光波長的變化 提供的信息:吸收峰的位置、強度和形狀,提供分子中不同電子結構的信息。物質分子吸收一定的波長的紫外光時,分子中的價電子從低能級躍遷到高能級而產生的吸收光譜較紫外光譜。紫
HORIBA重組歐洲業務-成立HORIBA-FRANCE-SAS
分析測試百科網訊 近日,HORIBA宣布其旗下HORIBA Jobin Yvon SAS與其子公司HORIBA FRANCE SARL合并。新公司將被稱為HORIBA FRANCE SAS。 HORIBA Jobin Yvon SAS主營材料科學和生物制藥儀器以及高性能光學元件,其子公司HOR
70周年紀念|Horiba開發創新技術推動科學發展
HORIBA 為研發和 QC 實驗室提供范圍廣泛的儀器和系統,專門從事拉曼、熒光、X 射線熒光 (XRF)、顯微光譜、流體控制、水質、氣體分析、粒徑和元素分析。 HORIBA 在開發創新技術以推動科學發展方面有著悠久的歷史,現在為全球大學和研究機構、政府和各種制造業的實驗室的研究、分析和 QC
英國馬爾文儀器攜兩款頂級納米顆粒表征產品出席WCPT7
第七屆世界顆粒學大會(The 7th World Congress of Particle Technology,簡稱WCPT7)于2014年5月19~22日在北京國際會議中心召開。英國馬爾文儀器作為全球顆粒表征領域領先的解決方案供應商,為本次大
安東帕收購Cilas的顆粒表征產品線
分析測試百科網訊 近日,安東帕宣布收購Cilas的顆粒表征產品線以擴大粒子表征的產品組合。 PSA儀器基于光散射原理或圖像分析。他們提供關于顆粒的尺寸分布和形狀的信息。應用范圍從調查到干粉末到分散體中的顆粒研究。 新產品將被納入安東帕現有的粒子表征業務領域。業務部門負責人Jakob Sant
創新實踐,化學人才孵化新陣地-——-廈大化院與HORIBA共建實習基地
在戰略合作揭牌儀式上,任斌教授回憶起與HORIBA的初識,感嘆當年第一次接觸HORIBA的時候,他還是個學生,如今已肩負起教書育人的責任。而正因如此,任教授對學生實習基地成立的充滿期待,他表示:學生實習基地的成立,不僅將為學生們提供實踐創新的平臺,也將成為校企雙方互利共贏的新契機! 為鼓勵更多
顆粒表征分檢及篩網標準化技委會顆粒分委會成立
6月21日,全國顆粒表征與分檢及篩網標準化技術委員會顆粒分技術委員會成立大會在中科院過程工程研究所舉行。會議由主任委員李洪鐘院士主持。出席大會的有過程工程所名譽所長郭慕孫院士、國家標準化管理委員會工業一部王軍偉處長和王宇、中科院計劃財務局姚冠輝副研究員、過程工程所副所長江明等領導及全體
守護健康,照耀生命——HORIBA生命科學主題研討會圓滿召開
2024年3月28日, “HORIBA開放日生命科學主題研討會” 在HORIBA集團全新投資的厚立方(C-CUBE)大樓成功舉辦。此次會議匯聚了眾多行業先驅,共同探討疾病診斷與藥物開發等領域的前沿技術,深入分析光譜技術在顯微成像、單細胞分析、病理診斷、藥物研發及工藝優化等領域的前沿進展、應用實例
光電創新耀未來——武漢光電國家研究中心能源光子學研究部“HORIBA-科學獎”頒獎儀式成功舉行
2024年1月8日,首屆武漢光電國家研究中心(以下簡稱:中心)能源光子學研究部“HORIBA 科學獎”頒獎儀式在光電信息大樓成功舉行。武漢光電國家研究中心能源光子學研究部執行主任王磊教授、黨支部書記胡彬教授、工程科學學院行政副院長徐書華、HORIBA 集團科學儀器事業部中國區總經理濮玉梅女士、銷
麥克默瑞提克顆粒表征技術講座成功舉辦
???????? 麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司于2011年4月27日在北京中科院過程工程研究所過程大廈成功的舉辦了2011年第5次“顆粒表征技術講座”。在此次講座中,來自美國麥克儀器公司的資深專家Simon Yunes博士和Andres先生深入淺出地講解了物理吸附,化學吸附,電阻
藥物顆粒表征及方法驗證研討會-邀請函
藥物顆粒表征及方法驗證研討會 隨著醫藥工業的飛速發展,越來越多的醫藥企業正投入大量資源進行新藥研發及產品的質量控制, 而藥物的粒度分布和顆粒形態正是影響藥物釋放,生物利用度及配方穩定性的重要因素,更成為原料藥和制劑等醫藥產品的必測參數。同時,由于醫藥行業的特殊性質,FDA和G