二次離子質譜的原理組成和結構
二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可降低到1-2μm直徑和5nm的深度，正是適合表面成分分析的功能，它是表面分析的典型手段之一。 應用離子照射樣品產生二次離子的基礎研究工作最初是R.H.斯隆（1938）和R.F.K.赫佐格（1949）等人進行的。1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研制成了直接成像式離子質量分析器。1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上，用離子束代替電子束，以質譜儀代替X 射線分光計研制成掃描......閱讀全文
SIMS介紹
當固體樣品被幾keV能量的一次離子濺射時，從靶發射出來的一部分顆粒被電離。二次離子質譜法是使用質譜儀分析這些二次離子。離子轟擊下固體表面的二次離子發射提供了有關其最上面的原子層的元素、同位素和分子組成的信息。根據化學環境和濺射條件（離子、能量、角度），二次離子產生率會有很大的變化。這會增加該技術的量
SIMS是什么
次級離子質譜
二次離子質譜儀（SIMS）
二次離子質譜儀（SIMS）分析方法介紹美信檢測 失效分析實驗室 1.簡介?二次離子質譜儀（secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS），是利用質譜法分析初級 離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜儀分 析對象包括金屬及合金、半導
2026年國際SIMS會議定于廣州舉行
10月14日，記者從香港科技大學（廣州）獲悉，中國廣州已成功獲得2026年國際SIMS會議的舉辦權。這將是國際SIMS會議首次由中國主辦，大會將在香港科技大學（廣州）舉行。 據介紹，香港科技大學（廣州）材料表征與制備中心主任、先進材料學域兼任教授翁祿濤是申辦此次國際會議中國團隊中的核心成員，他同
結合錫鉍合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介質。名義上無水礦物中的水含量對巖石礦物的物理化學性質有深刻影響，是重要的地球化學指標，氧同位素對礦物本身以及水的來源也具有重要指示意義。這兩個指標的同時測試，不僅能拓展儀器功能，使大型二次離子質譜（SIMS）儀器的使用效率提升一倍，還可避免因地質樣品中廣泛存在的不
結合錫鉍合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介質。名義上無水礦物中的水含量對巖石礦物的物理化學性質有深刻影響，是重要的地球化學指標，氧同位素對礦物本身以及水的來源也具有重要指示意義。這兩個指標的同時測試，不僅能拓展儀器功能，使大型二次離子質譜（SIMS）儀器的使用效率提升一倍，還可避免因地質樣品中廣泛存在的不均勻性而導致
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次
動態二次離子質譜分析（D-SIMS）
動態二次離子質譜分析（D-SIMS）1. 飛行時間二次離子質譜技術二次離子質譜技術（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子的質量來測定元素種類，具有極
ToF-SIMS助力研究人員解開“塔利怪物”之謎
分析測試百科網訊 萊斯特大學的研究團隊最近解開了一塊3億年前的化石“塔利怪物”之謎，利用獨有的眼部表征技術，確定古老的“塔利怪物”為古代脊椎動物。 被俗稱為“塔里怪物”的古老生物化石，是在北美洲的伊利諾伊州煤炭采石場被發現的， “塔利怪物”化石具有一個條紋狀的身體，一條長長的尾巴，在其頭部還具
SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次離子質譜圖文
1.儀器介紹二次離子質譜（SIMS）是一種用于通過用聚焦的一次離子束濺射樣品表面并收集和分析噴射的二次離子來分析固體表面和薄膜的組成的技術。SIMS是最靈敏的表面分析技術，元素檢測限為百萬分之幾到十億分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument