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ICP-AES，ICP-OES，ICP-MS光譜儀的差別ICP-AES (Inductively Coupled Plasma atomic emission spectrometry)電感耦合等離子體原子發射光譜儀，ICP-AES等離子體發射光譜儀是近三十年迅速發展的一種十分理想的痕量元素分析儀器.它基于物質在高頻電磁場所形成的高溫等離子體中,有良好特征譜線發射,進而實現對不同元素的測定.它具有檢出限極低、重現性好，分析元素多等顯著特點。附特殊裝置還可以實現更多非金屬元素的測量。ICP-OES(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer ) 電感耦合等離子體發射光譜儀，現在的稱呼。因為現在icp發射光譜技術用到了越來越多的離子線，"原子發射光譜儀"已經不是那么科學，所以現在都叫oes了。ICPOES可同時分析常量和痕量組分，無需繁復的雙向......閱讀全文
ICP-MS（ICP質譜）前些年只有幾個廠家生產，是那些各個領域的TOP實驗室用來耍，用來出高級研究成果的。最近明顯的感覺是：哇塞，怎么如雨后春筍般出現了十來家？催產因素有哪些呢？小編掰著手指頭數數，大概有
ICP可以檢測的元素范圍B～U，原子吸收同樣是這個范圍，請教二者各自的優勢在哪些元素的檢測上？ICP-MS、ICP-AES 及AAS的比較（本資料來自儀器信息網）誘人的ICP-AES的流行使很多的分析家在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉，還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術ICP-MS
電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)及電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP-OES)在某些領域例如地質學，始終扮演著獨具魅力的角色。時至今日，ICP-MS仍然活躍在新進展的前沿，在某些熱點領域如金屬組學和納米顆粒分析方面繼續大放異彩。
2017年BCEIA展會上，萊伯泰科在慶祝公司成立15年之際，創始人胡克先生邀請自己在美國求學時的導師、美國愛荷華州立大學Robert Samuel Houk教授來到中國。Houk教授是全球光譜質譜屆極負盛名的大咖級人物、ICP-MS發明人之一，在化學界獲獎無數。分析測試百科網記者在展臺采訪了H
——訪國家地質實驗測試中心研究員 李冰教授 【導語】在中國960萬平方公里的廣袤國土上，有一批數十年專注于地質科學研究的奉獻者，他們在國土資源勘察、地球化學、資源開采等眾多與國計民生、經濟發展息息相關的領域中作出了重要的貢獻；而儀器技術是他/她們手中重要的科學工具
和大多數科學儀器一樣，ICP-MS也是先由實驗室發布概念機。1980年，Houk在一篇發表的文章中提出了ICP-MS的可行性，1983-1984年，VG和SCIEX紛紛推出商品化的ICP-MS（演化為我們后來熟知的賽默飛和PerkinElmer的ICP-MS）。經過了近40年的發展，現ICP-M
電感耦合等離子體質譜（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，ICP-MS）是80年代后發展起來的分析測試技術，它是以獨特的接口技術將電感耦合等離子體（ICP）的高溫電離特性與四級桿質量分析器（MS）的快速靈敏掃描的優點相結合而形成一種元素和同位
電感耦合等離子體質譜（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，ICP-MS）是80年代后發展起來的分析測試技術，它是以獨特的接口技術將電感耦合等離子體（ICP）的高溫電離特性與四級桿質量分析器（MS）的快速靈敏掃描的優點相結合而形成一種元素和同位
陳登云：現代的四極桿ICP-MS儀器均采用碰撞/反應池（CRC）技術來消除質譜干擾，最近這些年最重要的創新在于各種新型的碰撞/反應池技術越來越得到實用化。傳統上，碰撞/反應池技術都是需要采用反應性氣體來消除干擾，如氫氣、氨氣、氧氣、甲烷或者它們的混合氣體。對于高純材料和半導體行業等組成單一且穩定的樣
誘人的ICP-AES的流行使很多的分析家在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉，還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術ICP-MS已呈現在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收（GFAAS）更低的檢出限。這篇文章簡要地論述這三種技術，并指出如何根據你的分
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7900 ICP-MS的前輩們為安捷倫ICP-MS贏得了全球銷量第一的美譽 安捷倫在ICP-MS上不僅持續創新，而且不斷創造銷量傳奇。1987年，安捷倫推出PMS系列第一臺計算機控制的ICP-MS，1994年推出業界首款臺式采用雙曲面四極桿技術的HP 4500，該產品創新的屏蔽炬技術結
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——德國耶拿ICP-MS 產品研發經理Iouri Kalinitchenko采訪 分析測試百科網訊 2015年2月，在歐洲冬季等離子體光譜學術會議（EWCPS）上，德國耶拿公司推出了其自收購原布
? 隨著ICP-AES的流行，使很多實驗室在思考購買一臺ICP-AES是否是明智之舉，還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術lCP-MS已呈現在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收(GFAAS)更低的檢出限。??這篇文章簡要地論述
隨著ICP-AES的流行使很多的分析家在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉.還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術lCP-MS已呈現在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收(GFAAS)更低的檢出限。 這篇文章簡要地論述這三種技術
隨著ICP-AES的流行使很多的分析家在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉.還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術lCP-MS已呈現在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收(GFAAS)更低的檢出限。 對于擁有ICP-AES技術背景的人來講，ICP-
誘人的ICP-AES的流行使很多的分析家在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉，還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術ICP-MS已呈現在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收（GFAAS）更低的檢出限。這篇文章簡要地論述這三種技術，并指出如何根據你的分
等離子質譜儀——ICP-MS配套液氬杜瓦液氬罐的整體方式 等離子質譜儀——ICP-MS全稱是電感耦合等離子體-質譜法(Inductively coupled plasma-Mass Spectrometry)它是一種將ICP技術和質譜結合在一起的分析儀器，它能同時測定幾十種痕量無機元素
對于擁有ICP-AES技術背景的人來講，ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等離子體(ICP)，而質譜學家則認為ICP-MS是一個以ICP為源的質譜儀。事實上，ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是極其相似的。ICP-AES測量的是光學光譜(165～800nm)，ICP-MS 測量
對于擁有ICP-AES技術背景的人來講，ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等離子體(ICP)，而質譜學家則認為ICP-MS是一個以ICP為源的質譜儀。事實上，ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是極其相似的。ICP-AES測量的是光學光譜(165～800nm)，ICP-MS 測量的是
【ICP】即：電感耦合等離子體。但有時，人們也可能會在口語中，以簡稱的“ICP”來代替“ICP-OES，和ICP-AES”。ICP-MS，就是“以ICP方式離子化的”質譜——也就是說，還有其它種類的質譜，有時，人們也會叫“ICP質譜”。那么他們和AAS有何區別?在選擇分析方法時該如何選
【ICP】即：電感耦合等離子體。但有時，人們也可能會在口語中，以簡稱的“ICP”來代替“ICP-OES，和ICP-AES”。ICP-MS，就是“以ICP方式離子化的”質譜——也就是說，還有其它種類的質譜，有時，人們也會叫“ICP質譜”。那么他們和AAS有何區別？在選擇分析方法時該如何選擇？本文告訴你
安捷倫ICP-MS產品經理Tomoyuki Yamada先生 來自日本的安捷倫ICP-MS產品經理Tomoyuki Yamada先生為大家詳細的介紹了安捷倫最新的7900 ICP-MS產品的技術特點及具體應用。7900 ICP-MS 首先Tomoyuki Yamada先
1 引言 近年來，電感耦合等離子體質譜（以下簡稱ICP-MS）技術有了快速發展，并成為一種非常強大的元素分析技術。ICP-MS技術的分析精密度較高，受到的干擾較少，能與多種分離技術相結合，被逐漸應用到環境監測中。通過了解ICP-MS儀器在環境監測中的具體實用情況，對大家購買電感耦合
【ICP】即：電感耦合等離子體。但有時，人們也可能會在口語中，以簡稱的“ICP”來代替“ICP-OES，和ICP-AES”。ICP-MS，就是“以ICP方式離子化的”質譜——也就是說，還有其它種類的質譜，有時，人們也會叫“ICP質譜”。那么他們和AAS有何區別？在選擇分析方法時該如何選擇？本文告
【ICP】即：電感耦合等離子體。但有時，人們也可能會在口語中，以簡稱的“ICP”來代替“ICP-OES，和ICP-AES”。ICP-MS，就是“以ICP方式離子化的”質譜——也就是說，還有其它種類的質譜，有時，人們也會叫“ICP質譜”。那么他們和AAS有何區別？在選擇分析方法時該如何選擇？本文告訴你
隨著ICP-AES的流行使很多的分析家在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉.還是留在原來可信賴的AAS上。現在一個新技術lCP-MS已呈現在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收(GFAAS)更低的檢出限。 ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等