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  • 邁克爾遜干涉儀工作原理

    邁克爾遜干涉儀,是1883年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中,如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理,研制出多種專用干涉儀。 工作原理 邁克爾遜干涉儀(英文:Michelson interferometer)是光學干涉儀中常見的一種,其是美國物理學家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,這兩束光從而能夠發生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調節干涉臂長度以及改變介質的折射率來實現,從而能夠形成不同的干涉圖......閱讀全文

    邁克爾遜干涉儀工作原理

      3q認證是指質量體系認證iq(安裝驗證 ) 、OQ(操作驗證) 、PQ(性能驗證)。   IQ,安裝確認(Installation Qualification),確認儀器文件、部件及安裝過程。   OQ,運行確認(Operational Qualification),確認儀器在空轉狀態下,在

    邁克爾遜干涉儀工作原理

      邁克爾遜干涉儀,是1883年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等

    邁克爾遜干涉儀的工作原理

    邁克爾遜干涉儀(英文:Michelson interferometer)是光學干涉儀中最常見的一種,其發明者是美國物理學家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,這兩束光從而能夠發生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調節干涉臂長度以及改變

    邁克爾遜干涉儀的工作原理

    邁克爾遜干涉儀(英文:Michelson interferometer)是光學干涉儀中最常見的一種,其發明者是美國物理學家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,這兩束光從而能夠發生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調節干涉臂長度以及改變

    邁克爾遜干涉儀原理

    邁克爾遜干涉儀,是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效于

    邁克爾遜干涉儀原理

    邁克爾遜干涉儀的結構和工作原理:G2是一面鍍上半透半反膜,M1、M2為平面反射鏡,M1是固定的,M2和精密絲相連,使其可前后移動,最小讀數為10-4mm,可估計到10-5mm,?M1和M2后各有幾個小螺絲可調節其方位。當M2和M1’嚴格平行時,M2移動,表現為等傾干涉的圓環形條紋不斷從中心“吐出”或

    關于邁克爾遜干涉儀的工作原理概述

      邁克爾遜干涉儀(英文:Michelson interferometer)是光學干涉儀中最常見的一種,其發明者是美國物理學家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光經過分光鏡分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,因為這兩束光頻率相同、振動方向相同且相位差恒定(即滿足干涉條件)

    邁克爾遜干涉儀的原理

    邁克爾遜干涉儀,是1883年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器.它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉.通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋.主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效于

    邁克爾遜干涉儀原理詳述

      S為點光源,M1(上邊)、M2(右邊)為平面全反射鏡,其中M1是定鏡;M2為動鏡,它和精密螺絲絲相連,轉動鼓輪可以使其向前后方向移動,最小讀數為10mm,可估計到10mm,。M1和M2后各有3個小螺絲可調節其方位。G1(左)為分光鏡,其右表面鍍有半透半反膜,使入射光分成強度相等的兩束(反射光和透

    邁克爾遜干涉儀

      邁克爾遜干涉儀是根據光的干涉原理制成的精密測量儀器,它可精密地測量長度及長度的微小改變等。在現代科學技術中有著廣泛的應用。  邁克爾遜干涉儀光學結構如圖(1)所示,M1和M2是精密磨光的平面反射鏡,相互垂直安裝構成干涉儀的兩臂,M1是動鏡,在直線運動機構的驅動下沿軸向前后移動,如圖中箭頭所示,M

    單束光照射邁克爾遜干涉儀的工作原理

       干涉儀是由固定不動的反射鏡M1(定鏡),可移動的反射鏡M2(動鏡)及分光束器B組成,M1和M2是互相垂直的平面反射鏡。B以45°角置于M1和M2之間,B 能將來自光源的光束分成相等的兩部分,一半光束經B 后被反射,另一半光束則透射通過B 。在邁克爾遜干涉儀中,當來自光源的入射光經光分束器分成兩

    邁克爾遜干涉儀的基本原理

      邁克爾遜干涉儀(英文:Michelson interferometer)是光學干涉儀中最常見的一種,其發明者是美國物理學家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光經過分光鏡分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,因為這兩束光頻率相同、振動方向相同且相位差恒定(即滿足干涉條件)

    邁克爾遜干涉儀怎么調節

    首先要調好光路,簡單的方法是去掉擴束器,然后會出現兩個光點,然后那調整兩個光點重合,具體的是調整其中一路的平面鏡,都調整到光屏中心!然后加擴束器,變成圓環干涉條紋!調整的時候,兩個平面鏡基座上面的螺釘,上方的是調俯仰角度的,下方的是調左右旋轉的

    邁克爾遜干涉儀的概述

      邁克爾遜干涉儀,是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等

    邁克爾遜干涉儀的應用

      邁克爾遜干涉儀的最著名應用即是它在邁克爾遜-莫雷實驗中對以太風觀測中所得到的零結果,這朵十九世紀末經典物理學天空中的烏云為狹義相對論的基本假設提供了實驗依據。除此之外,由于激光干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差,在當今的引力波探測中邁克爾遜干涉儀以及其他種類的干涉儀都得到了相當廣泛的應用。激

    關于邁克爾遜干涉儀的簡介

      邁克爾遜干涉儀是根據光的干涉原理制成的精密測量儀器,它可精密地測量長度及長度的微小改變等。在現代科學技術中有著廣泛的應用。  邁克爾遜干涉儀光學結構,M1和M2是精密磨光的平面反射鏡,相互垂直安裝構成干涉儀的兩臂,M1是動鏡,在直線運動機構的驅動下沿軸向前后移動,如圖中箭頭所示,M2是定鏡。G1

    分析邁克爾遜干涉儀的配置

      如圖所示,在一臺標準的邁克爾遜干涉儀中從光源到光檢測器之間存在有兩條光路:一束光被光學分束器(例如一面半透半反鏡)反射后入射到上方的平面鏡后反射回分束器,之后透射過分束器被光檢測器接收;另一束光透射過分束器后入射到右側的平面鏡,之后反射回分束器后再次被反射到光檢測器上。注意到兩束光在干涉過程中穿

    介紹邁克爾遜干涉儀的發展

      19世紀末人們通過使用氣體放電管、濾色鏡、狹縫或針孔成功得到了邁克耳孫干涉儀的干涉條紋,而在一個版本的邁克爾遜-莫雷實驗中采用的光源是星光。星光不具有時間相干性,但由于其從同一個點光源發出而具有足夠好的空間相干性,從而可以作為邁克耳孫干涉儀的有效光源。

    斐索干涉儀和邁克爾遜干涉儀的區別

      斐索干涉儀和邁克爾遜干涉儀最大的區別就是:在干涉儀中,參考光和傳感光是沿著同一條光路行進的,因此稱為共光路干涉儀。如果使用分光路的干涉儀,在兩束光經過的光程較長時或者進行大口徑元件的檢’狽4時,兩支光路上往往會受到不同的外界干擾(如機械振動、溫度起伏等),致使干涉條紋不穩定,甚至嚴重影響測量。而

    關于邁克爾遜干涉儀的內容介紹

      邁克爾遜干涉儀,是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等

    關于邁克爾遜干涉儀的應用-介紹

      邁克爾遜干涉儀的最著名應用即是它在邁克爾遜-莫雷實驗中對以太風觀測中所得到的零結果,這朵十九世紀末經典物理學天空中的烏云為狹義相對論的基本假設提供了實驗依據。除此之外,由于激光干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差,在當今的引力波探測中邁克爾遜干涉儀以及其他種類的干涉儀都得到了相當廣泛的應用。激

    邁克爾遜干涉儀測光波波長

    邁克爾遜干涉儀測量光波波長【實驗原理】:邁克爾遜干涉儀基本使用原理1.等傾干涉和氦氖激光波長測定調節邁克爾遜干涉儀,當M1、和M2的距離d一定時,所有傾角相同的兩平行光束都具有相同的光程差, .它們會聚后的干涉叫強或減弱的情況相同,因此稱這種干涉為等傾干涉.2.測量光波的波長在等傾干涉條件下,設平面

    邁克爾遜干涉儀的思想實驗簡介

      設想在邁克爾遜干涉儀處于靜止時和勻速直線運動時分別做實驗,以形成兩個干涉條紋圖案。由于干涉條紋是平面的圖案,所以只要都以垂直角度觀察,靜止系和動系里的觀察者所見應是一致的。而比較這倆圖案,結果只可能是相同或不相同這兩者中的一種。若分別以這兩種可能的情形為據進行分析,就可以考察狹義相對論所宣稱的“

    邁克爾遜干涉儀調節要點及規律

    調節:1.使Ne-He大致垂直于平面反射鏡,即調節Ne-He激光器的高低左右位置,是被平面鏡反射回來的光束按原路返回2.使兩面平面鏡相互垂直,調節使兩排光點一一重合3.在屏上出現干涉條紋,再緩慢調節干涉儀

    邁克爾遜干涉儀的思想實驗詳細敘述

      現設邁克爾遜干涉儀沿其中一條光路x的方向作勻速直線運動,所形成的干涉條紋與靜止時是一樣的。這就表明運動時,兩路光來回所花的時間tx'和ty'也相等,即tx'=ty'。這是因為邁克爾遜干涉儀是通過干涉圖案是否變化,來判斷兩路光來回的時間差是否變化,這也是邁克爾遜和莫

    簡介邁克爾遜干涉儀的波長相關

      在干涉過程中,如果兩束光的光程差是半波長的偶數倍(0,1,2……),在光檢測器上得到的是相長的干涉信號(即:顯示亮紋);如果光程差是半波長的奇數倍(0.5,1.5,2.5……),在光檢測器上得到的是相消的干涉信號(即:顯示暗紋)。當兩面平面鏡嚴格垂直時為等傾干涉,其干涉光可以在屏幕上接收為圓環形

    關于邁克爾遜干涉儀的基本配置介紹

      在一臺標準的邁克爾遜干涉儀中從光源到光檢測器之間存在有兩條光路:一束光被光學分束器(例如一面半透半反鏡)反射后入射到上方的平面鏡后反射回分束器,之后透射過分束器被光檢測器接收;另一束光透射過分束器后入射到右側的平面鏡,之后反射回分束器后再次被反射到光檢測器上。注意到兩束光在干涉過程中穿過分束器的

    邁克爾遜干涉儀非線性型簡介

      在所謂非線性邁克爾遜干涉儀中,標準的邁克爾遜干涉儀的其中一條干涉臂上的平面鏡被替換為一個Gires-Tournois干涉儀或Gires-Tournois標準具,從Gires-Tournois標準具出射的光場和另一條干涉臂上的反射光場發生干涉。由于Gires-Tournois標準具導致的相位變化和

    使用邁克爾遜干涉儀時的諳事項

      注意事項  千萬不要用手觸摸光學表面,且要防止唾液濺到光學表面上。  在調節螺釘和轉動手輪時,一定要輕、慢,決不能強扭硬扳。  反射鏡背后的粗調螺釘不可旋得太緊,用來防止鏡面的變形。  在調整反射鏡背后粗調螺釘時,先要把微調螺釘調在中間位置,以便能在兩個方向上作微調。  測量中,轉動手輪只能緩慢

    怎樣調節邁克爾遜干涉儀使干涉條紋出現

    先調兩個反射鏡基本與光線垂直,兩束光光程基本相等,在分光板前放一個尖的物體,例如,筆,看到兩個投影,調節反射鏡背后的螺釘,使兩個投影重合,干涉條紋出現。兩束相干光線互相疊加,如果相位差等于零,則疊加后是亮條紋;如果相位差了180度,疊加后成了暗條紋。相干的意思是光束的頻率是一樣的。干涉比如像等傾干涉

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