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可以測導電原子力C-AFM，電流圖可以反映電導率......閱讀全文
可以測導電原子力C-AFM，電流圖可以反映電導率
可以測導電原子力C-AFM，電流圖可以反映電導率
靜電力EFM是從輕敲模式AFM發展而來的細分成像模式，可以對樣品表面的電場分布進行掃描。它采用兩次掃描的方法，第一次掃描（主掃描， Main Scan）采用輕敲模式獲得表面形貌，第二次掃描（Interleave掃描，Interleave Scan）將探針抬起一定高度，并給探針施加一個偏壓，利用第一次
? ? ? 靜電力EFM是從輕敲模式AFM發展而來的細分成像模式，可以對樣品表面的電場分布進行掃描。它采用兩次掃描的方法，第一次掃描（主掃描， Main Scan）采用輕敲模式獲得表面形貌，第二次掃描（Interleave掃描，Interleave Scan）將探針抬起一定高度，并給探針施加一個偏壓
導電性能測試儀，是測量碳素材料導電性能的專用儀器。該儀器采用高精度穩流源供電，電流 、電壓自動顯示，并且穩定，準確，直觀，方便。靈活的測試試樣平臺適用于不同直徑和不同長度的試樣的測試。該儀器可用來按ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64-1993標準方法測試
導電性原子力顯微鏡(C-AFM)導電式原子力顯微鏡是外加一組電流放大器于顯微鏡,然后利用導電探針接觸模式掃描樣品,在取得高度訊號的同時,若是樣品表面有電流產生,探針也會取得此電流訊號,因此我們可以利用Conductive AFM的掃描,同時得到掃描區域得高度形貌圖及電流分布圖像,?更可進一步的于特定
電涂料的導電性能主要與填料的導電性、含量、顆粒大小以及聚合物與填料顆粒的相容性等因素有關,炭黑顆粒越細,網狀鏈堆積越緊密,比表面積就越大;單位質量顆粒多,就越有利于在基質中形成鏈式導電結構。在其它條件一定時,炭黑顆粒在聚合物中的分散狀況將決定導電涂料的導電性能。炭黑顆粒達到納米級時,比表面積很大,在
本報訊據物理學家組織網6月2日報道，美國科學家設計出了一種新的打印過程，不僅比傳統方法更迅捷，而且適用于多種有機材料，得到的有機半導體薄膜的性能也要優異10倍。研究人員在最新一期的《自然·材料學》雜志上表示，最新進展有望引領有機電子設備領域的新變革。 有機電子設備可以廣泛應用于多個領
《自然》雜志1月18日（北京時間）發表了美國密歇根大學開發的一種新方法，誘導電子在有機材料富勒烯中“穿行”，距離遠遠超過此前認為的極限。這項研究提升了有機材料應用于太陽能電池和半導體制造的潛力，或將改變相關行業游戲規則。 與當今廣泛應用的無機太陽能電池不同，有機物可以制成便宜的柔性碳基材料，如