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測試出能譜后，對應的軟件上有顯示元素種類，該元素對應哪幾個峰形。有時候會出現很多不知名的其他元素，這個時候要根據自己所測試物質所含元素的組成進行辨別。測試時，分為面掃和點掃，面掃對應SEM上顯示的一個面中各元素含量，點掃則對應該點（實際上由于探針會飄動，所以也會收集到附近/周圍點的元素情況）。收集的時間長短，決定了峰的強度大小，一般為了數據可靠，收集的時間要長一些。最后，EDX會給出以At%和wt%為單位的各元素數據，At%表示原子百分數，wt%表示質量百分數。根據wt%除以各種元素的相對原子質量，可以計算出物質的結構式。但是，EDX只是一個半定量的測試方法，結果還不夠精確。想要獲得更加精確的數值，可以用ICP（含金屬的物質）。......閱讀全文
電子顯微鏡已經成為表征各種材料的有力工具。 它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應用中非常有價值的工具。 其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。 在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點和不同點。 &nb
結合SEM和TEM技術 還有一種電子顯微鏡技術被提及，它是透射電鏡（TEM）和掃描電鏡（SEM）的結合，即掃描透射電鏡（STEM）。 如今，大多數透射電鏡（TEM）可以切換到“STEM模式”，用戶只需要改變其對準程序。 在掃描透射電鏡（STEM）模式下，光束被精確聚焦并
納米科技是當今國際上的一個熱點。納米測量學在納米科技中起著信息采集和分析的不可替代的重要作用，納米加工是納米尺度制造業的核心，發展納米測量學和納米加工的一個重要方法就是電子束，離子束技術。近年來發展起來的聚焦離子束納米加工系統用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，結合掃描電子顯微鏡實時觀察，開辟了從
工作原理聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場 (Extractor) 牽引尖端細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒
1.TEM-EDS與XPS測試時采樣深度的差別? XPS采樣深度為2-5nm，我想知道EDS采樣深度大約1um。 1.jpg 2.Z襯度像是利用STEM的高角度暗場探測器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z襯度像? 原子分辨率STEM并不
1.TEM-EDS與XPS測試時采樣深度的差別? XPS采樣深度為2-5nm，我想知道EDS采樣深度大約1um。 2.Z襯度像是利用STEM的高角度暗場探測器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z襯度像? 原子分辨率STEM并不是HAADF的專利，ADF或明場探頭也可以做到，只是可
在鋰離子電池發展的過程當中，我們希望獲得大量有用的信息來幫助我們對材料和器件進行數據分析，以得知其各方面的性能。目前，鋰離子電池材料和器件常用到的研究方法主要有表征方法和電化學測量。 電化學測試主要分為三個部分：（1）充放電測試，主要看電池充放電性能和倍率等；（2）循環伏安，主要是看電池的充放
電子顯微鏡實驗室高鵬研究員在皮米尺度精確測量表面結構方面取得重要研究進展 北京大學“電子顯微鏡與電子光學實驗室”的“青年千人”計劃研究員高鵬與日本、臺灣的合作者通過基于高空間分辨率(45皮米,目前最高紀錄)的定量環形明場像技術（ABF）發現，鈦酸鋯鉛（PbZr0.2Ti0.8O3）鐵電薄膜表面存在
1.做TEM測試時樣品的厚度最厚是多少? TEM的樣品厚度最好小于100nm，太厚了電子束不易透過，分析效果不好。 2.請問樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在SEM圖片上有各有什么明顯的特征？ 在SEM圖片中，沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開，且晶粒晶界明顯；穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中
無論掃描電鏡還是透射電鏡，現在購置的時候能譜幾乎成了標配，因為價格相對電鏡來說只有五分之一甚至六分之一，而且分析速度快，可以在線分析微區內樣品組分，給出半定量或者定量結果，如果透射電鏡有掃描附件，也和掃描電鏡一樣能給出漂亮的元素分布map，這對于實驗結果來說，是一個很有益而且很直觀的
無論掃描電鏡還是透射電鏡，現在購置的時候能譜幾乎成了標配，因為價格相對電鏡來說只有五分之一甚至六分之一，而且分析速度快，可以在線分析微區內樣品組分，給出半定量或者定量結果，如果透射電鏡有掃描附件，也和掃描電鏡一樣能給出漂亮的元素分布map，這對于實驗結果來說，是一個很有益而且很直觀的支持。 但
一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性：一個是它的化學成分，另一個是它內部的組織結構。所以，對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求，也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析
X射線熒光光譜儀(XRF) XRF指的是X射線熒光光譜儀，可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。從不同的角度來觀察描述X射線，可將XRF分為能量散射型X射線熒光光譜儀，縮寫為EDXRF或EDX和波長散射型X射線熒光光
在掃描電鏡中, 入射電子束在樣品上的掃描和顯像管中電子束在熒光屏上的掃描是用一個共同的掃描發生器控制的。這樣就保證了入射電子束的掃描和顯像管中電子束的掃描完全同步, 保證了樣品上的“物點”與熒光屏上的“象點”在時間和空間上一一對應, 稱其為“同步掃描”。一般掃描圖象是由近100萬個與物點一一對應的圖
在掃描電鏡中, 入射電子束在樣品上的掃描和顯像管中電子束在熒光屏上的掃描是用一個共同的掃描發生器控制的。這樣就保證了入射電子束的掃描和顯像管中電子束的掃描完全同步, 保證了樣品上的“物點”與熒光屏上的“象點”在時間和空間上一一對應, 稱其為“同步掃描”。一般掃描圖象是由近100萬個與物點一一對應的圖
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀，但由于其本身具有許多獨特的優點，發展速度是很快的。 儀器分辨率較高，通過二次電子象能夠觀察試樣表面6nm左右的細節，采用LaB6電子槍，可以進一步提高到3nm。 儀器放大倍數變化范圍大，且能連續可調。因此可以根據需要選擇大小不同的視場進行觀察，
掃描電子顯微鏡類型多樣, 不同類型的掃描電子顯微鏡存在性能上的差異。根據電子槍種類可分為三種:場發射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭。其中, 場發射掃描電子顯微鏡根據光源性能可分為冷場發射掃描電子顯微鏡和熱場發射掃描電子顯微鏡。冷場發射掃描電子顯微鏡對真空條件要求高, 束流不穩定, 發射體使用壽命短, 需要
掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數可以達到
掃描電子顯微鏡類型多樣, 不同類型的掃描電子顯微鏡存在性能上的差異。根據電子槍種類可分為三種:場發射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭 [5] 。其中, 場發射掃描電子顯微鏡根據光源性能可分為冷場發射掃描電子顯微鏡和熱場發射掃描電子顯微鏡。冷場發射掃描電子顯微鏡對真空條件要求高, 束流不穩定, 發
掃描電子顯微鏡的性能特點介紹掃描電子顯微鏡類型多樣, 不同類型的掃描電子顯微鏡存在性能上的差異。根據電子槍種類可分為三種:場發射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭 [5] 。其中, 場發射掃描電子顯微鏡根據光源性能可分為冷場發射掃描電子顯微鏡和熱場發射掃描電子顯微鏡。冷場發射掃描電子顯微鏡對真空條
引言芬蘭科學家Ciftcioglu et al進行哺乳動物細胞培養時發現細胞內存在一種原核微生物，能通過100 nm的濾菌器，Kajander將其命名為納米細菌(nanobacteria)。納米細菌廣泛存在于自然界的礦物質中和生物體內，能感染人類、牛、鹿和其它哺乳動物，是一種人畜共患的致病原。納米細
日立高新技術上市可進行穩定納米級分析的透射式電子顯微鏡 日立高新技術（Hitachi HighTechnologies）2007年5月14日推出了新型場發射型透射式電子顯微鏡（FE-TEM）“HF-3300型”，分辨率為0.1nm、能夠以納米級別的分辨率穩定地分析原子水平的極微小材料。 新產
在材料分析領域中連接光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡(SEM) 在2009年奧地利格拉茨舉辦的顯微鏡大會上，卡爾·蔡司公司推出了一項在材料領域中連接光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡(SEM)的綜合解決方案。該解決方案的核心元件是樣品臺、適配器，以及特定的軟件模塊，該軟件能夠使SEM快速找到樣品在光學顯