X射線熒光光譜儀檢測標準
JJG810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀》檢定周期為1年。......閱讀全文
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線熒光光譜儀的全反射熒光
如果n1>n2，則介質1相對于介質2為光密介質，介質2相對于介質1為光疏介質。對于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質。所以，如果介質1是空氣，那么α1>α2，即折射線會偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當α1
X射線熒光光譜儀原理分析
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集
X射線熒光光譜儀的概述
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X射線熒光光譜儀相關特點
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平
X射線熒光光譜儀的簡介
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
X射線熒光光譜儀指標信息
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
x射線熒光光譜儀安全事項
在分析過程中，給管通電后，分析儀會發射定向輻射束。應盡合理的努力使放射線的暴露量保持在實際可行的劑量限度以下。這就是所謂的ALARA（最低合理可行）原則。三個因素將有助于最大程度地減少您的輻射暴露：時間，距離和屏蔽。 盡管便攜式x射線熒光光譜儀或手持式x射線熒光光譜儀元素分析儀發出的輻射與普通
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
x射線熒光光譜儀安全事項
在分析過程中，給管通電后，分析儀會發射定向輻射束。應盡合理的努力使放射線的暴露量保持在實際可行的劑量限度以下。這就是所謂的ALARA（最低合理可行）原則。三個因素將有助于最大程度地減少您的輻射暴露：時間，距離和屏蔽。 盡管便攜式x射線熒光光譜儀或手持式x射線熒光光譜儀元素分析儀發出的輻射與普通
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
波長色散X射線熒光光譜儀
我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發展軌跡，可總結出如下特點 。(1) 現代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，
X射線熒光光譜儀工作原理
2.1?X射線熒光的物理原理 X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量
什么是X射線熒光光譜儀
Ｘ射線是一種電磁輻射，其波長介于紫外線和γ射線之間。它的波長沒有一個嚴格的界限，一般來說是指波長為０．００１－５０ｎｍ的電磁輻射。對分析化學家來說，感興趣的波段是０．０１－２４ｎｍ，０．０１ｎｍ左右是超鈾元素的Ｋ系譜線，２４ｎｍ則是輕元素Ｌｉ的Ｋ系譜線。１９２３年赫維西（Ｈｅｖｅｓｙ，Ｇ．Ｖｏｎ）提
X射線熒光光譜儀制樣要求
X射線熒光光譜儀制樣要求：? 樣品的尺寸(直徑x高)50x 40mm，重量400g。? 1、定量分析? 定量分析是對樣品中元素進行準確定量測定。定量分析需要一組標準樣品做參考。常規定量分析一般需要5個以上的標準樣品才能建立較可靠的工作曲線。? 常規X射線熒光光譜定量分析對標準樣品的基本要求：
X射線熒光光譜儀的原理
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜儀的原理
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集
X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的起源
1895年德國物理學家威廉·康拉德·倫琴研究陰極射線管時，發現陰極能放出一種有穿透力的、肉眼看不見的射線。由于它的本質在當時是一個“未知數”，故稱之為X射線。 倫琴無條件地把X射線的發現奉獻給人類,沒有申請專利。 X射線和可見光一樣屬于電磁輻射，但其波長比可見光短得多，在10-6～10nm。
X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的本質
X射線的本質是電磁輻射，具有波粒二像性。 1）波動性 X射線的波長范圍：0.01~100 用于元素分析的X射線光譜所使用的波長范圍在0.01~11nm 2）粒子性 特征表現為以光子形式輻射和吸收時具有的一定的質量、能量和動量。 表現形式為在與物質相互作用時交換能量。如光電效應、熒光輻
X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的產生
高速運動的電子與物體碰撞時，發生能量轉換，電子的運動受阻失去動能，其中一小部分（1％左右）能量轉變為X射線，而絕大部分（99％左右）能量轉變成熱能使物體溫度升高。 產生X射線源有同位素放射源、X射線管、激光等離子體、同步輻射和X射線激光等。
X射線熒光光譜儀中X射線的由來和性質分析
X射線熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所
奧林巴斯X射線熒光光譜儀為船舶檢測做出貢獻
奧林巴斯(原伊諾斯)Vanta手持式XRF分析儀提供了一種快速分析油品中硫含量的方法，同時符合ASTMD4294和ISO8754所制定的嚴格的檢測要求。Vanta手持式分析儀只需對樣本稍微進行準備，在幾秒鐘之內就可以快速獲得油品分析的結果。，可以快速提供準確的硫含量評估結果，甚至在非常具有挑戰性
X射線熒光光譜儀檢測金屬元素的介紹
當使用X射線光照樣品時，樣品可以被激發出各種波長的熒光X射線，把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，就可以進行定性和定量分析，為此使用的儀器為X射線熒光光譜儀（以下簡稱XRF）。 實驗室如何利用XRF這種較為成熟的分析技術檢測固體樣品中的金屬元素？微源實
淺析手持x射線熒光光譜儀檢測的基本過程
手持x射線熒光光譜儀是一種原子發射方法，在這方面與光發射光譜，ICP和中子活化分析（γ光譜）相似。X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
