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X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。 X射線熒光光譜儀Ux-220 屬系列產品中的普及機型，三重射線防護系統；人性化操作界面；綜合應用經驗系數法、基本參數法V6.0分析軟件。可完全滿足RoHS/WEEE/無鹵相關管控要求。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。 Ux系列儀器完全符合電工委員會IEC62321標準及中國環保標準所規定的技術要求和技術規范。 其它特點 1、......閱讀全文
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色
X熒光光譜儀的簡單介紹 x熒光分析已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選
成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕
天瑞儀器參展第十四屆北京分析測試學術報告會及展覽會（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞儀器在北京展覽館2號會議室舉辦了合金分析、重金屬檢測技術交流會。來自科研院所、高等院校的30余名專家學者參加了本次交流會，共同探討XRF儀器新技術，及其在合金行
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
——訪XF-8100型波長色散X熒光光譜儀首席專家白友兆博士 【導語】中國水泥產量已占到全球60％左右, 水泥生產中，普遍使用X熒光光譜儀（XRF）進行生產監控和質量管理。雖然能量色散XRF（EDXRF）和波長色散XR
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法
（二） 質子激發 X 射線熒光分析質子激發 X 射線熒光分析開創于 1970 年，如今已發展成為一種成熟的多元素分析技術，廣泛應用于材料、地質、冶金、生物、醫學、考古與環境科學中，它是用加速器產生的高速帶電粒子轟擊待測樣品靶與靶的子相互作用，使樣品靶中待測物質的原子受激發，電離，當所形成的內
水泥X熒光新技術新產品研討會暨東西儀器XF-8100型波長色散X射線熒光光譜儀新品發布會 2013年4月25日上午，北京東西分析儀器有限公司在北京展覽館召開新產品發布會，推出其第二代水泥X熒光新品—
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采
掠射X射線分析是近年來迅速發展的一門分析技術，在科學研究以及分析檢測和質量控制等生產領域都有著廣泛的應用。X射線分析技術具有試樣無損分析、制樣經濟方便、操作簡單、分析結果重現性好及精度高等優點，使得這項技術在薄膜特性分析、半導體材料及磁鐵材料表面檢測方面受到特別的青睞。本文在綜述了國內外掠射X射線熒
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采
分析測試百科網訊 2015年10月27日，國內分析測試行業影響力最大的展會2015 BCEIA在北京國家會議中心舉辦。作為業內規模和質量最高的盛會之一，本屆展覽會共有461家廠商參展，展
X射線熒光光譜法適用于對物質成分分析,可直接對固體(塊狀或粉末狀)和液體樣品中主量元素、微量元素進行多元素同時分析。當結合薄樣技術時,具有高靈敏度,用樣量少等優點。隨著分析技術的發展和科研水平的提高,分析領域愈發關注待測成分復雜和含量低等特點課題,對儀器本身提出更高要求。本課題組由田宇纮教授帶領下在
X射線熒光光譜法適用于對物質成分分析,可直接對固體(塊狀或粉末狀)和液體樣品中主量元素、微量元素進行多元素同時分析。當結合薄樣技術時,具有高靈敏度,用樣量少等優點。隨著分析技術的發展和科研水平的提高,分析領域愈發關注待測成分復雜和含量低等特點課題,對儀器本身提出更高要求。本課題組由田宇纮教授帶領下在
X射線熒光光譜法適用于對物質成分分析,可直接對固體(塊狀或粉末狀)和液體樣品中主量元素、微量元素進行多元素同時分析。當結合薄樣技術時,具有高靈敏度,用樣量少等優點。隨著分析技術的發展和科研水平的提高,分析領域愈發關注待測成分復雜和含量低等特點課題,對儀器本身提出更高要求。本課題組由田宇纮教授帶領下在
重金屬的定量檢測技術通常認可的重金屬分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、Ｘ熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高
重金屬檢測方法及應用 一、重金屬的危害特性 從環境污染方面所說的重金屬，實際上主要是指汞、鎘、鉛、鉻、砷等金屬或類金屬，也指具有一定毒性的一般重金屬，如銅、鋅、鎳、鈷、錫等。我們從自然性、毒性、活性和持久性、生物可分解性、生物累積性，對生物體作用的加和性等幾個方面對重金屬的危害稍
分析測試百科網訊 2019年8月29日，“顛覆·創新 朗鐸科技FAS 2100新品發布會”在蘇州舉辦，近200位國內各領域的專家、學者和行業用戶參與。活動期間，朗鐸科技副總經理盤宜杰在現場接受了媒體群訪。分析測試百科網作為本次活動的支持媒體，全程跟蹤報道。朗鐸科技FAS 2100新品發布會現場朗
2013年10月23-26日，科學儀器行業盛會——BCEIA 2013在北京展覽館勝利召開。北京東西分析儀器有限公司參加本屆展會，企業形象煥然一新，全新的品牌標識，大氣嚴謹，產品更加美觀實用，吸引了眾多觀眾，并攜手澳大利亞GBC公司的產品共同參展。東西分析今年的新產
一、重金屬的危害特性 從環境污染方面所說的重金屬，實際上主要是指汞、鎘、鉛、鉻、砷等金屬或類金屬，也指具有一定毒性的一般重金屬，如銅、鋅、鎳、鈷、錫等。我們從自然性、毒性、活性和持久性、生物可分解性、生物累積性，對生物體作用的加和性等幾個方面對重金屬的危害稍作論述。（一）自然性：長期生
天瑞儀器 這次展會上，天瑞儀器公司帶來的產品有X射線熒光光譜儀、X熒光光譜儀、手持式能量色散礦石分析儀等。 天瑞公司展臺 Thick 800A鍍層測厚X射線熒光光譜儀 Thick 800A鍍層測厚X射線熒光
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）,從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型
利用中午的休息時間，會務組還特地為與會代表安排了精彩的4D科普影片。大家稍作歇息后，下午的大會報告繼續進行。 北京礦冶研究總院 符斌教授 來自北京礦冶研究總院的符斌教授為大家帶來了題為《身手不凡的手持式X射線熒光光譜儀》的報告。符教授首先指出，目前手持式XRF分析儀基本上都是能量
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜