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ICP-MS中的干擾可分為兩大類：“ 質譜干擾”和“非質譜于擾”或稱為“基體效應”。質譜干擾是 ICP-MS中見到的最嚴重的干擾類型，通常對分析物離子流測量結果產生正誤差。可進一步分為：同量異位素重疊干擾；多原子離子干擾；難熔氧化物干擾；雙電荷離子干擾。第二種類型的干擾大體可分為：抑制和增強效應；由高鹽含量引起的物理效應。 一、質譜干擾1）多原子離子干擾多原子離子干擾是最常見的質譜干擾類型。這些離子，顧名思義是由兩個或更多的原子結合而成的短壽命的復合離子，其干擾來源為：等離子體/霧化所使用的氣體、溶劑/樣品的基體組分、樣品中其他元素離子或者是來自周圍環境氧氣/氮氣。例如：氬氣等離子體中，氬氣離子及氬氣離子與其他離子形成的復合離子是造成質譜干擾的常見形式。豐度最大的40Ar+對40Ca產生強烈干擾；而40Ar+與氧結合形成40Ar16O+，則明顯干擾56Fe。 盡管目前有多重樣品引入技術，但目前大多數 ICP-......閱讀全文
ICP-MS中的干擾可分為兩大類：“ 質譜干擾”和“非質譜于擾”或稱為“基體效應”。質譜干擾是 ICP-MS中見到的最嚴重的干擾類型，通常對分析物離子流測量結果產生正誤差。可進一步分為：同量異位素重疊干擾；多原子離子干擾；難熔氧化物干擾；雙電荷離子干擾。第二種類型的干擾大體可分為：抑制和增強效應；由
一、抑制或增強型干擾空間電荷效應是 ICP-MS中的基體干擾干擾主要原因。通常表現為分析信號的受到抑制或增強。?在等離子體和超聲射流中，離子電流被相等的電子流所平衡，因此，整個離子束基本上呈現出電中性。而當離子束離開截取錐后，由透鏡建立起的電場將收集離子而排斥電子。以使離子被束縛在一個很窄的離子束中
關鍵詞：電感耦合等離子體發射光譜法；等離子體發射光光譜儀；應用及領域；化學分析；線性范圍； ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?1 概述電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP
原理：ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等離子體，它的進樣部分及等離子體與ICP-OES的是及其相似的。ICP-OES測量的是光學光譜，ICP-MS測量的是離子質譜，ICP-MS除了元素含量測定外，還可測量同位素。 元素分析范圍：3號鋰(Li)-92號鈾(U) 分析特點：可以分
高頻振蕩器發生的高頻電流，經過耦合系統連接在位于等離子體發生管上端，銅制內部用水冷卻的管狀線圈上。石英制成的等離子體發生管內有三個同軸氬氣流經通道。冷卻氣(Ar)通過外部及中間的通道，環繞等離子體起穩定等離子體炬及冷卻石英管壁，防止管壁受熱熔化的作用。工作氣體(Ar)則由中部的石英管道引入，開始工作
為促進西部地區分析測試科學技術的進步，提高西部地區分析測試技術人員的專業技能，2015年7月13日-14日，由中國分析測試協會委托中國分析測試協會青年學術委員會主辦，寧夏分析測試中心承辦，寧夏回族自治區地質礦產中心實驗室協辦的中國分析測試協會第六屆青年學術委員會全體學術委員會議暨學術交流會議
在TOF-ICP-MS中，根據離子飛行時間進行分離，不同于掃描型質譜根據離子質荷比進行分離。離子從等離子體采樣后，加速至相同的動能，使特定質荷比的離子達到檢測器的時間固定。受加速過程的影響，不同質荷比的電子在自由漂移區獲得的速率不同（較輕的離子獲得速率大），因此飛行時間不同。利用離子響應強度及到達檢
定性分析是確定樣品中是否存在某個元素或一組元素。儀器能否進行完全定量分析直接與分析方法及儀器檢測能力有關。理想狀態下，希望只用一個樣品溶液同時測定主量、微量、痕量及超痕量元素含量。這就要求儀器對不同元素同位素具有寬的動態響應范圍。實際使用過程中，通常難以在一個樣品溶液同時測定主量元素(響應強度高)及
??? 電感耦合等離子體質譜是實驗室的一位大神級別的儀器，日常維護保養不容懈怠，今天就看看咱們的維護保養做的到位嗎？? 一、進樣系統? 1、蠕動泵? 進樣蠕動泵管的好壞直接影響信號的穩定性,所以應經常檢查,定期更換。排廢液管使用期限可以長一些。但也必須經常檢查,以防排廢不暢,引起霧室內廢液聚集
定量分析用于測定樣品中組分的精確濃度，準確度高。 ICP-MS在多元素測定中具有很髙靈敏度，能夠測得高質量數據。此外， ICP-MS能夠進行穩定同位素測試，無需高質量標準物質即可進行準確定量。為使測試結果準確，需排除可能的干擾或采用合適的方法進行校正。因此，定量分析過程必須采用合適方法排除干擾或進行