XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。 XRF分析儀的主要環境應用 過去，對環境的評估只能依賴于在實驗室對從現場采集并運送到實驗室的樣件所做的分析，這種方法既浪費金錢又耗用時間。如今有了便攜式XRF分析儀，檢測人員可以在現場直接對環境進行評估。DELTA手持式XRF分析儀可進行經濟、有效、及時的實時數據分析，并快速得出全面的調查結論，從而決定所要采取的下一步措施。 一、發展中國家危險的高含量有毒金屬 在發展中國家的居民區和娛樂區可能會發現危險的高含量鉛、砷、汞、鉻、鎘及其它有毒金屬。在這些國家和地區，......閱讀全文
XRF
能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。可應用于：1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測： 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻
XRF測試
XRF測試若干問題： XRF中文稱為X射線熒光光譜儀，它包括能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF)，WDXRF在精度和準確度方面要比EDXRF好，價格也較高。目前市場上使用較多的是EDXRF。無論是哪種X射線熒光光譜儀，它都是利用熒光散射的原理探測樣品中是
波散XRF與能散XRF的區別
一．X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶
XRF的優點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。
XRF的優點
分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2-5分鐘就可以測完樣品中的全部元素。非破壞性。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。測試元素范圍大，WDX可在ppm-100%濃
XRF的分類
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型： 波長色
XRF的原理
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫
XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
XRF是什么
XRF是什么??XRF測試及XRF原理,本內容深入探討了XRF的相關內容，并做了整體的講解分析。1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線
XRF檢測原理
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X?射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種
XRF技術講解
X射線熒光光譜（XRF）技術是一項可用于確定各類材料成分構成的分析技術，已經成熟運用多年。其應用方向包括金屬合金、礦物、石化產品等等。 X射線形成部分電磁波譜。其處于紫外線輻射的高能側，使用千電子伏特表示能量高低，納米表示波長。 XRF一般可用于分析從鈉到鈾的所有元素，其可識別濃度范圍最低至
什么是XRF?
XRF:X射線熒光光譜分析(X?Ray?Fluorescence)? ??人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray?Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。? ??一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探
什么是XRF？
XRF：X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence），通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線
WD－XRF與ED－XRF的優缺點
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
WD－XRF與ED－XRF有什么區別
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
XRF破譯礦物成分
本文以國家標準物質作為參照物，采用熔融制樣X 射線熒光光譜法進行鎂砂及其礦物原料（鎂石、菱鎂礦）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量測定。討論了熔融制樣采用的熔劑體系、樣品與熔劑的稀釋比例、融熔制樣的溫度和時間對制樣精度及測量準確度的影響。探討了鎂
XRF問題匯總（三）
21.X熒光光譜熱電的儀器,檢測口放一銅片的作用？ (1)?有的手持式的在頭部裝有一個校正的樣品，同時在不用的時候也可以保護X射線發射源。 (2)?銅塊作用一是作能量校正，二是在不測其它樣品時擋住窗口起保護作用。? 22.為什么X射線熒光測定壓片樣中的Sb含量時樣片厚度有影響？ (1)?原子序數較低
什么是XRF測試
XRF測試本身是一種方法，即X射線熒光光譜法（XRF）原理是使用X射線照射樣品產生的特征熒光，進行定性和定量分析。
XRF問題匯總（五）
41.我們公司最近剛購一臺ARL9800X熒光議，長期穩定性一直都不能達到指標。測角儀和固定道的強度變化都很大。這都和那些因素有關呢？存在空間干擾嗎？?(1)?穩定住室內溫度，不要關閉儀器自身的恒溫機構（即使關機），每次分析樣品前作PHA調整以及阿爾法校正，采取上述措施后，情況可能會有所改善。?(2
什么是XRF測試
XRF測試本身是一種方法，即X射線熒光光譜法（XRF）原理是使用X射線照射樣品產生的特征熒光，進行定性和定量分析。
XRF問題匯總（二）
1.請問做黃金，白金測定一定要標樣嗎？黃金就是普通用戶的手飾什么的.?(1)?做黃金，白金測定一定要標樣，除非測定結果不算數?(2)?項鏈類的應先去污? 12.用XRF測磁芯材料中的鉛,要求是100PPM以下,可以測嗎? 100PPM以下的鉛含量完全可以測，當然不能太小，比如幾個PPM就比較難測了，
XRF問題匯總（七）
61.最近在以EDXRF儀器檢測電鍍產品時,測出Pb含量在同一零件上不同測點有300~2800PPM不等,?(方法:定性半定量;?樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni?4~6um;表面以酒精擦拭,每個零件測三點),為什么會有如此大之差距,相關對比測試也做過,還是找不到問題所在. 根據你所說得情況，應該是X
什么是XRF測試
XRF：X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence)。人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X
什么是xrf測試？
XRF指的是X射線熒光光譜儀，可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。從不同的角度來觀察描述X射線，可將XRF分為能量散射型X射線熒光光譜儀，縮寫為EDXRF或EDX和波長散射型X射線熒光光譜儀，可縮寫為WDXRF或WD
XRF問題匯總（一）
1.?用壓片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏結劑，壓好片后在空氣中放置１５分鐘后，原來很好的樣品在樣杯中膨脹破碎了，為什么?還有什么好的方法？ (1)?一般壓片樣碎裂是由于樣品受壓之后有應力，導致樣品破碎。?我的建議是： A?壓樣之后在破碎之前進行分析。（不得已而為之）?B?增加壓樣的時間，減小壓樣的壓力
什么是XRF測試
XRF：X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence)。人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X
XRF儀器選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。?????? 對六種有害物質總量的定量檢測：?????? 一、 按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測
XRF問題匯總（六）
51.生鐵中?的?Si分析與化學分析?誤差比較大,C和S?與碳硫分析儀?對不上C的差距最大，S的分析有時候差距比較大?一般?正負2?左右.分析標樣還可以?為什么會這樣? (1)?我分析可能是制樣導致的差距,可以多分析幾個標樣,看看怎樣,如果標樣分析不相差,只是樣品分析存在差距,可以從制樣過程中找原因
什么是XRF測試
XRF：X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence)。人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X
XRF問題匯總（十）
我以ＥＤＸ７２０測定鐵基鍍Ｎi層（層厚５um左右），保證同材質同鍍槽的前提下，測出的結果有的在３０００ＰＰＭ有的卻在３００～５００ＰＰＭ?甚至沒有檢出，問題出在哪?基材為ＳＵＭ２４Ｌ快削鋼（Ｐb＜３５００ＰＰＭ） (1)?FP法測定鍍層?通常我的做法是?1.?FP鍍層法 先做定性，根據經驗分析鍍層成