X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體，測量衍射線的衍射角θ，用布拉格衍射公式計算出樣品中發射出來的特征X射線的波長，從波長可以確認樣品中所含的元素，這就是波長色散X射線熒光光譜元素分析（XRF）。......閱讀全文
多晶x射線衍射的分類
多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法（圖 1）。相機為一金屬圓筒，內徑通常為57.3毫米或114.6毫米,樣品裝在圓筒的中心軸線上，通過馬達帶動使它不停地轉動；緊貼內壁放置長條形X光底片；入射的單波長X射線經準直管作用在樣品上，穿透樣品后的 X射線進入射線收集器而被吸收
X射線衍射的工作原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。 布拉格方程 1913年
多晶X射線衍射的原理
多晶衍射儀法的原理與照相法類似，只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度，加上與電子計算機聯用，可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便，并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
多晶x射線衍射的簡介
用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法，也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。
x射線衍射儀的應用
油田錄井 Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的
x射線衍射儀的參數
三個物理量：從圖中可以看出，衍射譜上可以直接得到的有三個物理量，即衍射峰位置(2θ)、衍射峰強度(I)及衍射峰形狀(f(x))。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結構參數一般都是以這三個物理量為基礎的。 主要技術參數:一臺好的儀器應能得到準確(測得的數值與其真值相符)并精確(測量重復性好)
X射線衍射儀的原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
多晶X射線衍射的原理
多晶衍射儀法的原理與照相法類似，只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度，加上與電子計算機聯用，可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便，并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
X射線衍射儀的應用
油田錄井Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其
多晶x射線衍射的原理
多晶衍射儀法的原理與照相法類似，只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度，加上與電子計算機聯用，可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便，并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
X射線衍射儀的應用
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的
x射線衍射儀的應用
油田錄井 Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
X射線衍射分析的簡介
定義： X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。 分析原理 當一束X射線入射到晶體時，首先被原子（電子）所散射，每個原子都是一個新的輻射源，向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由
X射線衍射儀的結構
X射線衍射儀的結構X射線衍射儀由X射線發生器、測角儀、樣品臺、檢測器、測量記錄系統、計算機系統等構成（如下圖所示）。總體可分為X射線發生系統、測角及探測系統、數據記錄與處理系統。
x射線衍射儀的參數
主要技術參數:一臺好的儀器應能得到準確(測得的數值與其真值相符)并精確(測量重復性好)的2θ、I及f(x)，需 要考慮下列幾個主要技術參數： 1、X射線發生器的穩定度：這不僅關系到所測衍射強度的準確可靠，而且關系到所有部件的準確和穩定。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外電源變化10%以內，輸出
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
X射線單晶衍射的簡介
X射線單晶衍射（X-ray diffraction of single crystal）是2014年全國科學技術名詞審定委員會公布的藥學名詞，出自《藥學名詞》第二版。 當晶體被X射線照射時，晶體中各原子的散射X射線會疊加起來。當X射線為單色時，各原子的散射X射線發生干涉，在特定的方向上產生強的
X射線熒光光譜儀的詳細介紹
X射線熒光光譜(XRF)是一種應用十分廣泛的元素分析方法,利用X射線熒光光譜儀可以直接分析固體、粉末和液體樣品,具有制樣簡單、測試效率高、可以進行非破壞性分析等特點。秒中對樣品進行快速合金分析，秒即可進行實驗室精度的測量。具有合金分析軟件，內嵌數百種常見合金號，中英文界面自由切換、操作簡易，即使
X射線熒光光譜儀的優點介紹
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與
X射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與測
X射線熒光光譜儀的分類介紹
根據X射線熒光的產生原理，一臺X射線熒光光譜儀在結構上主要由激發源、色散系統、探測系統等3部分組成。按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。下面主要介紹波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）的儀器結構
X射線衍射光譜儀的技術指標
初級準直器：3位以上程序控制, 適合重輕元素。 晶體選擇：≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器：總道數≥500道 從光管陽極到樣品的距離≤16mm，以充分利用光管的X射線發射強度，保證測量靈敏度。 位置面罩轉換器，適合做不同尺寸的樣品，電腦控制自動轉換。 充氦液體測量系統
關于X射線衍射儀的應用介紹
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其
X射線衍射分析的理論發展介紹
發現衍射現象 1912年勞埃等人根據理論預見，并用實驗證實了 X射線與晶體相遇時能發生 衍射現象，證明了X射線具有 電磁波的性質，成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X 射線入射到晶體時，由 于晶體是由原子規則排列成的 晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線 波長有 相同數量級
X射線粉末衍射儀的介紹
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
X－射線衍射技術的主要應用介紹
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面：物相分析物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。
X射線衍射儀的基本構造介紹
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1） 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2） 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品