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三個物理量：從圖中可以看出，衍射譜上可以直接得到的有三個物理量，即衍射峰位置(2θ)、衍射峰強度(I)及衍射峰形狀(f(x))。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結構參數一般都是以這三個物理量為基礎的。 主要技術參數:一臺好的儀器應能得到準確(測得的數值與其真值相符)并精確(測量重復性好)的2θ、I及f(x)，需 要考慮下列幾個主要技術參數： 1、X射線發生器的穩定度：這不僅關系到所測衍射強度的準確可靠，而且關系到所有部件的準確和穩定。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外電源變化10%以內，輸出變化0.01%以內。 2、X射線管的功率：對于密封式X射線管，Cu靶一般為2kw，Ag、Mo、W等靶一般大于2kw，而對Co、Fe、Ni等靶則小于2kw。對于轉靶，常用的有12kw和18kw。 3、單色器的效率：應不小于25%。 4、探測器的效率：視品種而異。 5、計數的線性范圍：關系到強度測量的準確性，一般在cps。有......閱讀全文
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
諾貝爾獎是以瑞典著名的化學家 阿爾弗雷德·貝恩哈德·諾貝爾的部分遺產（3100萬瑞典克朗）作為基金在1900年創立的。該獎項授予世界上在物理、化學、生理學或醫學、文學、和平和經濟學六個領域對人類做出重大貢獻的人，于1901年首次頒發，截止2016年共授予了881位個人和23個團體。今天我們將盤點
基本構造 X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1） 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2） 樣品及樣品位置取向的調整機構
成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
什么是x射線衍射儀 X射線衍射儀(X-ray diffractometer，XRD)是利用X射線衍射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互，用生成的衍射圖譜來分析物質結構。它是在X射線晶體學領域中在原子尺度范圍內研究材料結構的主要儀器，也可用于研究非晶體。&n
——布魯克衍射熒光事業部推出最新款用于過程和質量控制的高性能X射線衍射系統D8 ENDEAVOR? 2015年3月9日，在美國新奧爾良Pittcon 2015會議上，X射線衍射（XRD）儀器全球市場領導者布魯克衍射熒光事業部介紹了一種以X射線粉末衍射技術對多晶材料進行分析研究的解決方案，
1、X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域. X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業. 基
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理
(六)X射線儀器 1. X射線衍射儀 國外在X射線衍射儀方面的的技術發展很快。主要表現在新型探測器、模塊化、分析軟件的功能強化、先進的X射線光學器件等方面。 目前國外各衍射儀生產廠家紛紛研發配備新型高性能探測器，以確保高檔儀器市場中的競爭地位。有的公司每不到兩年就推出一種新儀器。
(六)X射線儀器 1. X射線衍射儀 國外在X射線衍射儀方面的的技術發展很快。主要表現在新型探測器、模塊化、分析軟件的功能強化、先進的X射線光學器件等方面。 目前國外各衍射儀生產廠家紛紛研發配備新型高性能探測器，以確保高檔儀器市場中的競爭地位。有的公司每不到兩年就推出一種新
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理及應用和分析方
紅外光譜樣品制備 紅外光譜是未知化合物結構鑒定的一種強有力的工具，尤其近幾年來各種取樣技術和聯用技術的迅速發展，使得它成為分析化學應用中最廣泛的儀器之一。 樣品要求： 1、氣體、液體（透明，糊狀）、固體（粉末、粒狀、片狀…）。 氣體樣品：采用氣體吸收池進行測試，吸收峰的強度可以通過調整氣
眾所周知，熱分析儀器可以和很多分析類儀器聯用。比較常見的有：紅外光譜（FTIR）、氣相色譜（Gas Chromatography）、質譜（Mass Spectrometry）、顯微鏡等。通過和這些分析儀器聯用可以彌補熱分析儀器的一些局限性，更有效地分析樣品的物理、化學特性。然而，在材料分析中，X射線
性能參數系統組成 ◆高穩定度X射線發生器及防護系統； ◆冷卻循環水裝置； ◆測角儀（臥式或立式）； ◆數字化記錄控制單元及探測器； ◆衍射儀操作系統及應用分析軟件包； ◆高穩定度X射線發生器及防護系統。 儀器各部分的技術規格及技術指標 Y-2000X射線衍射儀
產品介紹 X射線衍射儀是對晶體物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的分析儀器。 北京普析通用儀器有限責任公司生產的XD2/3型X射線粉末衍射儀具有精度高、準確度高、機械穩定性好、經久耐用、易升級、操作簡便和智能化的特點，能靈活地適應各種行業的測試分析與研究。是目前國內生產制造先
產品介紹 X射線衍射儀是對晶體物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的分析儀器。 北京普析通用儀器有限責任公司新研制開發的XD-6 型X射線衍射儀有其更加突出的優點，該產品是在本公司成熟產品XD3基礎上新研制、開發的產品。XD-6型X射線粉末衍射儀具有精度高、準確度高、機械穩定性
產品介紹 X射線衍射儀是對晶體物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的分析儀器。 北京普析通用儀器有限責任公司新研制開發的XD-6 型X射線衍射儀有其更加突出的優點，該產品是在本公司成熟產品XD3基礎上新研制、開發的產品。XD-6型X射線粉末衍射儀具有精度高、準確度高、機械穩定性
X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的X射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化
X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的X射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行
X射線衍射儀技術(XRD)通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法，X射線衍射儀已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。X射線衍射儀的原理：當一
[一般問題] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其純度?還是能看出其中含有某種官能團？ X 射線照射到物質上將產生散射。晶態物質對 X 射線產生的相干散射表現為衍射現象，即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象，這是晶態物質特有的現象。
[一般問題] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其純度?還是能看出其中含有某種官能團？ X 射線照射到物質上將產生散射。晶態物質對 X 射線產生的相干散射表現為衍射現象，即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象，這是晶態物質特有的現象。 絕大多數固態物質都是晶態或微
1、X射線衍射儀技術（XRD）X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該
X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定(晶體結構分析)、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。 X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射
X射衍射線( XRD) 又稱X 射線物相分析法，X射線是一種具有衍射本領的高能電磁波。X射線衍射法是目前測定晶體結構的重要手段，應用極其廣泛。在實際的應用中將該分析方法分為多晶粉末法和單晶衍射法。多晶粉末法常用來測定立方晶系的晶體結構點陣形式、晶胞參數及簡單結構的原子坐標，還可以對固體式樣進行物