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  • 同步輻射X射線微探針的簡介

    是隨著同步輻射光的應用而發展起來的一種新的微區痕量無損分析技術。它是利用同步加速器電子儲存環中產生的具有奇異特性(頻帶寬且連續可調;通量大亮度高;準直性好;高度偏振;具有特定時間結構)的電磁波(通稱為同步輻射或同步輻射光),再經準直、聚焦或單色化而形成高亮度的X射線微探針進行樣品分析。......閱讀全文

    同步輻射X射線微探針的簡介

      是隨著同步輻射光的應用而發展起來的一種新的微區痕量無損分析技術。它是利用同步加速器電子儲存環中產生的具有奇異特性(頻帶寬且連續可調;通量大亮度高;準直性好;高度偏振;具有特定時間結構)的電磁波(通稱為同步輻射或同步輻射光),再經準直、聚焦或單色化而形成高亮度的X射線微探針進行樣品分析。

    同步輻射x熒光分析簡介

      同步輻射x熒光分析:(synchrotron-basedX-ray fluorescence)采用由加速器產生的同步輻射作光源進行x射線熒光分析的方法。  與常規x射線熒光分析相比,由于同步輻射光通量大、頻譜寬、偏振性好等優點,因此分析靈敏度顯著增高,此外取樣量少,分析速度快,可作微區三維掃描分

    x射線單晶體衍射儀同步輻射

      是一種大科學裝置,設備大投資高,一般都需要政府投資,不是一般實驗室所能具備的,需要 申請立項才能使用。因此,如果能發展出高強度的實驗室光源和極高靈敏度的探測器,使在一般實驗室中也能測定生物大分子結構,則絕對是有益的。  有許多生物反應的速度是相當快的, 如血紅蛋白與一氧化碳的結合,速度在納秒級(

    簡介電子探針X射線微區分析的實驗條件

       (1) 樣品 樣品表面要求平整,必須進行拋光;樣品應具有良好的導電性,對于不導電的樣品,表面需噴鍍一層不含分析元素的薄膜。實驗時要準確調整樣品的高度,使樣品分析表面位于分光譜儀聚焦圓的圓周上。   (2) 加速電壓 電子探針電子槍的加速電壓一般為3~50kV,分析過程中加速電壓的選擇應考慮待分

    同步輻射X射線裝置實現小型化

      據物理學家組織網11月25日(北京時間)報道,通過使用一個小巧但功能強大的激光器,美國內布拉斯加大學林肯分校的科學家開發出了一種能夠放在普通房間或卡車上的小型同步輻射X射線裝置,有望改變人們對這類裝置的印象,拓展同步輻射X射線的應用范圍。相關論文發表在最近出版的《自然·光子學》雜志上。   同

    簡述X射線單晶體衍射儀的同步輻射

      是一種大科學裝置,設備大投資高,一般都需要政府投資,不是一般實驗室所能具備的,需要申請立項才能使用。因此,如果能發展出高強度的實驗室光源和極高靈敏度的探測器,使在一般實驗室中也能測定生物大分子結構,則絕對是有益的。  有許多生物反應的速度是相當快的,如血紅蛋白與一氧化碳的結合,速度在納秒級(10

    同步輻射光源在材料研究領域的應用之X射線納米探針

    由于高亮度的第三代同步輻射光源和先進X射線聚焦裝置的發展,科學家們已經能夠實現尺寸小于100nm的高強度X射線光束。結合譜學分析與空間聚焦的X射線納米探針,使科學家們能夠在納米尺度下獲得豐富的物質結構與性能信息。例如,得到納米材料單體的晶體結構和電子結構等。

    電子探針X射線微區分析的工作原理

      電子探針(Electron Probe Microanalysis-EPMA)的主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種高效率分析儀器。  其原理是:用細聚焦電子束入射樣品表面,激發出樣品元素的特征X射線,分析特征X射線的波長(或能量)可知元素種類;分析

    關于電子探針X射線微區分析的線分析

       使入射電子束在樣品表面沿選定的直線掃描,譜儀固定接收某一元素的特征X射線信號,其強度在這一直線上的變化曲線可以反映被測元素在此直線上的濃度分布,線分析法較適合于分析各類界面附近的成分分布和元素擴散。  實驗時,首先在樣品上選定的區域拍照一張背散射電子像(或二次電子像),再把線分析的位置和線分析

    同步輻射光源在材料研究領域的應用之快速X射線精細譜

    同步輻射快速X射線吸收精細結構(QXAFS)譜學方法具有高時間分辨的特征,不僅具備XAFS在納米結構研究中的優勢,而且由于高時間分辨的特征,極大地擴展了XAFS在納米結構研究中的應用。利用QXAFS的時間分辨特性,并結合原位檢測技術,QXAFS能夠應用于以下一些納米結構研究:物理化學變化的動力學過程

    電子探針X射線微區分析的相關內容

      電子探針X射線微區分析(EPMA)Electron Probe X-ray Microanalysis是用聚焦極細的電子束轟擊固體的表面,并根據微區內所發射出X射線的波長( 或能量)和強度進行定性和定量分析的方法。主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種

    北京同步輻射裝置小角X射線散射技術研究汞污染取得進展

      近年來,北京同步輻射裝置小角X射線散射(SAXS)站在國家自然科學基金、國家重大維修改造項目、北京物質科學大型儀器區域中心等多方經費的資助下,經過幾年的努力,從儀器設備、探測技術、數據分析到科學研究等多方面都取得顯著進步,現已發展成為一個性能先進的物質納米尺度結構研究表征平臺,并在納米材料、聚合

    北京正負電子對撞機同步輻射X射線能譜的測量

    本文提供了北京正負電子對撞機同步輻射光束線上X射線能譜的首次測量結果,文章對探測器和譜儀系統、測量方法及數據分析予以扼要的描述。?

    電子探針X射線顯微分析儀簡介

      電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線,并根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面,擊出表面組成元素的原子內層電子,使原子電離,此時外層電子迅速填補空位而釋放能量,從

    電子探針X射線微區分析能譜儀分析特點

      具有以下優點(與波譜儀相比)  能譜儀探測X射線的效率高。  在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數,在幾分鐘內可得到定性分析結果,而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。  結構簡單,穩定性和重現性都很好(因為無機械傳動),不必聚焦,對樣品表面無特殊要求,適于粗糙表面分析。 

    關于電子探針X射線微區分析面分析的相關介紹

      使入射電子束在樣品表面選定的微區內作光柵掃描,譜儀固定接收某一元素的特征X射線信號,并以此調制熒光屏的亮度,可獲得樣品微區內被測元素的分布狀態。元素的面分布圖像可以清晰地顯示與基體成分存在差別的第二相和夾雜物,能夠定性地顯示微區內某元素的偏析情況。在顯示元素特征X射線強度的面分布圖像中,較亮的區

    同步輻射原位X射線衍射技術高分子結晶領域獲新進展

      1957年,Andrew Keller在高分子單晶研究的基礎上提出了折疊鏈結晶模型,高分子結晶學由此成為高分子物理領域的基本研究內容之一。目前,結晶性高分子材料約占所有熱塑性高分子材料的70%,因此高分子結晶的研究也受到工業界的廣泛重視。盡管已有六十多年的研究歷史,但目前仍然缺乏統一的、被普遍接

    電子探針X射線微區分析定點分析的相關內容

       (1)全譜定性分析 驅動分光譜儀的晶體連續改變衍射角,記錄X射線信號強度隨波長的變化曲線。檢測譜線強度峰值位置的波長,即可獲得樣品微區內所含元素的定性結果。電子探針分析的元素范圍可從鈹(序數4)到鈾(序數92),檢測的最低濃度(靈敏度)大致為0.01%,空間分辨率約在微米數量級。全譜定性分析往

    微區X射線衍射儀

      微區X射線衍射儀是一種用于物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器,于2015年1月12日啟用。  技術指標  采用新一代的陶瓷X光管技術,焦斑位置穩定,衰減小,壽命長 ; 全自動可變狹縫,可以自由選擇固定狹縫大小或固定測量面積模式;高精度立式測角儀,樣品水平放置,最小步長及角度重復性皆為0

    X射線衍射簡介

    1912年,勞厄等人根據理論預見,證實了晶體材料中相距幾十到幾百皮米(pm)的原子是周期性排列的;這個周期排列的原子結構可以成為X射線衍射的“衍射光柵”;X射線具有波動特性, 是波長為幾十到幾百皮米的電磁波,并具有衍射的能力。??這一實驗成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時,

    關于X射線的簡介

      X射線,是一種頻率極高,波長極短、能量很大的電磁波。  X射線的頻率和能量僅次于伽馬射線,頻率范圍30PHz~300EHz,對應波長為0.01nm~10nm [12] ,能量為124eV~1.24MeV。X射線具有穿透性,但人體組織間有密度和厚度的差異,當X射線透過人體不同組織時,被吸收的程度不

    軟X射線的簡介

      波長小于0.1埃的稱超硬X射線,在0.1~1埃范圍內的稱硬X射線,1~10埃范圍內的稱軟X射線(X射線波長略大于0.5nm的被稱作軟X射線)。

    X射線分析的簡介

      利用 X射線與物質間的交互作用來分析物質的結構、組織和成分的一種材料物理試驗。  X射線是德國人W C 倫琴于 1895年發現的。它是一種肉眼不可見的射線,但能使感光材料感光和熒光物質發光;具有較強的穿透物質的本領;能使氣體電離;與可見光一樣,它是沿直線傳播的,在電磁場中不發生偏轉。由于當時對其

    x射線測厚儀的簡介

      X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,已達到要求的軋制厚度。

    X射線攝譜儀的簡介

    中文名稱X射線攝譜儀英文名稱X-ray spectrograph定  義配有照相或其他記錄裝置,能同時取得一定波長范圍X射線光譜的X射線光譜儀。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件(三級學科)

    X射線管的簡介

      利用高速電子撞擊金屬靶面產生 X射線的真空電子器件。按照產生電子的方式,X射線管可分為充氣管和真空管兩類。  充氣X射線管是早期的X射線管。1895年,W.C.倫琴在進行克魯克斯管實驗時發現了 X射線。克魯克斯管就是最早的充氣X射線管。這種管接通高壓后,管內氣體電離,在正離子轟擊下,電子從陰極逸

    同步輻射的應用

      同步輻射能為各相關科學研究提供連續譜、高強度、高準直性的優質光源,為研究物質的微觀動態結構和各種瞬態的過程提供前所未有的手段和機會,是物理學、化學、材料科學、生命科學、醫學等領域最先進又不可替代的工具。

    同步輻射的特點

      同步輻射具有以下特點:  (1) 高準直、方向性強  同步輻射光的發散集中在一電子運動方向為中心的一個很窄的圓錐內,張角非常小,幾乎是平行的。  (2) 寬波段、連續可調  同步輻射是一個聯系可調的波譜,從紅外到幾千KeV能量的硬X射線均有分布。可根據需要,利用單色器選取不同波長的單色光。  (

    電子探針X射線微區分析儀的工作原理是怎樣的呢?

    ????????電子探針X射線微區分析儀簡稱電子探針。利用髙能電子束與物質相互作用時產生的特征X射線來分析試樣微區化學組成的一種顯微儀器。其工作原理為:聚焦得很細的電子束照射在試樣某微區,使該微區原子受激產生特征X射線,通過已知晶面間距的分光晶體對不同波長的X射線分光,來測量它的波長與強度,從而對微

    微-X-射線熒光-(μXRF)技術詳解

    微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術,它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣,微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射,以用于元素分析。與傳統 XRF 不同(其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米),μXRF 使用 X 射線

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