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  • 吸收電子像的功能介紹

    中文名稱吸收電子像英文名稱absorbed electron image定 義在掃描電子顯微鏡中,用被樣品吸收的電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)......閱讀全文

    吸收電子像的功能介紹

    中文名稱吸收電子像英文名稱absorbed electron image定  義在掃描電子顯微鏡中,用被樣品吸收的電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    吸收電子像的功能介紹

    中文名稱吸收電子像英文名稱absorbed electron image定  義在掃描電子顯微鏡中,用被樣品吸收的電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    俄歇電子像的功能介紹

    中文名稱俄歇電子像英文名稱Auger electron image定  義在掃描電子顯微鏡中,用俄歇電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    透射電子像的功能介紹

    中文名稱透射電子像英文名稱transmitted electron image定  義在電子顯微鏡中,用透過樣品的電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    俄歇電子像的功能介紹

    中文名稱俄歇電子像英文名稱Auger electron image定  義在掃描電子顯微鏡中,用俄歇電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    透射電子像的功能介紹

    中文名稱透射電子像英文名稱transmitted electron image定  義在電子顯微鏡中,用透過樣品的電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    背散射電子像的功能介紹

    背散射電子像是在掃描電子顯微鏡中,通過電子槍產生的電子,經過加速電場、偏轉磁場后,照射到待檢測的樣品表面,待檢測樣品會反射一部分的電子,在掃描電子顯微鏡的工作鏡腔里的背散射電子探頭就會檢測到這些被反射的電子,進而在檢測器上所成的像。

    熱電子像的定義和功能

    中文名稱熱電子像英文名稱thermoelectronic image定  義在發射電子顯微鏡中,樣品受熱發射的熱電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    光電子像的定義和功能

    中文名稱光電子像英文名稱photoelectronic image定  義在發射電子顯微鏡中,用樣品在光輻射條件下發射的光電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    透射電子像的基本功能

    中文名稱透射電子像英文名稱transmitted electron image定  義在電子顯微鏡中,用透過樣品的電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    陰極發光像的功能介紹

    中文名稱陰極發光像英文名稱cathode luminescence image定  義在掃描電子顯微鏡中,用電子探針激發樣品所產生的光輻射對樣品所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    陰極發光像的功能介紹

    中文名稱陰極發光像英文名稱cathode luminescence image定  義在掃描電子顯微鏡中,用電子探針激發樣品所產生的光輻射對樣品所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    電子轟擊二次電子像的定義和功能

    中文名稱電子轟擊二次電子像英文名稱electron bombardment secondary electron image定  義在發射電子顯微鏡中,電子轟擊樣品激發的二次電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    背散射電子像的基本功能

    背散射電子像是在掃描電子顯微鏡中,通過電子槍產生的電子,經過加速電場、偏轉磁場后,照射到待檢測的樣品表面,待檢測樣品會反射一部分的電子,在掃描電子顯微鏡的工作鏡腔里的背散射電子探頭就會檢測到這些被反射的電子,進而在檢測器上所成的像。

    感生電流像的功能介紹

    中文名稱感生電流像英文名稱induced current image定  義在掃描電子顯微鏡中,由電子探針對半導體和集成電路樣品作用而感生的電流所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    特征X射線像的功能介紹

    中文名稱特征X射線像英文名稱characteristic X-ray image定  義在掃描電子顯微鏡中,由電子探針激發樣品而產生的特征X射線對樣品所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    感生電流像的功能介紹

    中文名稱感生電流像英文名稱induced current image定  義在掃描電子顯微鏡中,由電子探針對半導體和集成電路樣品作用而感生的電流所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    特征X射線像的功能介紹

    中文名稱特征X射線像英文名稱characteristic X-ray image定  義在掃描電子顯微鏡中,由電子探針激發樣品而產生的特征X射線對樣品所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    二次電子像和背散射電子像的區別

    1、性質不同:二次電子像是以入射方向逸出樣品的電子。背散射電子像是在掃描電子顯微鏡中,通過電子槍產生的電子,經過加速磁場、偏轉磁場后,照射到待檢測的樣品表面,待檢測樣品會反射一部分的電子。2、特點不同:在掃描電子顯微鏡的工作鏡腔里的背散射電子探頭就會檢測到這些被反射的電子,進而在檢測器上所成的像。二

    優質掃描電子像的獲得

    優質掃描電子像的獲得?前提?? ?這里只討論掃描電鏡是處于正常工作狀態下如何改善掃描電子像的質量。所謂掃描電鏡處在正常工作狀態下是指:①鏡筒足夠清潔;②電子將系統的安裝和調節無誤;③鏡筒各部分準確合軸對中,使能進行高倍(十萬倍左右)聚焦;④電噪音足夠小。圖像所要求的最低分辨率的確定???儀器工作狀態

    熱電子像的概念

    中文名稱熱電子像英文名稱thermoelectronic image定  義在發射電子顯微鏡中,樣品受熱發射的熱電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    光電子像的概念

    中文名稱光電子像英文名稱photoelectronic image定  義在發射電子顯微鏡中,用樣品在光輻射條件下發射的光電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    雙像快速測距儀的功能介紹

    中文名稱雙像快速測距儀英文名稱double-image tacheometer定  義利用雙像方式測距的儀器。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),大地測量儀器-測距儀(三級學科)

    離子轟擊二次電子像的定義和功能

    中文名稱離子轟擊二次電子像英文名稱ion bombardment secondary electron image定  義在發射電子顯微鏡中,離子轟擊樣品激發的二次電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    背散射電子像的用途

    可以被應用于掃描電子顯微鏡中,由于在掃描電子顯微鏡中,樣品會反射部分的電子,從而能顯示待檢測樣品表面的一些狀況。

    背散射電子像的用途

    可以被應用于掃描電子顯微鏡中,由于在掃描電子顯微鏡中,樣品會反射部分的電子,從而能顯示待檢測樣品表面的一些狀況。

    電子轟擊二次電子像的概念

    中文名稱電子轟擊二次電子像英文名稱electron bombardment secondary electron image定  義在發射電子顯微鏡中,電子轟擊樣品激發的二次電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    電子探針儀的二次電子及二次電子像介紹

      入射電子與樣品相互作用后,使樣品原子較外層電子(價帶或導帶電子)電離產生的電子,稱二次電子。二次電子能量比較低,習慣上把能量小于50 eV電子統稱為二次電子,僅在樣品表面5 nm-10 nm的深度內才能逸出表面,這是二次電子分辨率高的重要原因之一。  當入射電子與樣品相互作用時,入射電子與核外電

    二次電子像的特點

    (1)能量小于50eV,在固體樣品中的平均自由程只有10~100nm。在這樣淺的表層里,入射電子與樣品原子只發出有限次數的散射,因此基本上未向側向擴散;(2)二次電子的產額強烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角a , a大的面發射的二次電子多,反之則少。

    背散射電子像的工作原理

    電子照射到待測樣品的過程中,樣品能發射一部分電子,背散射電子探頭就會檢測到這些電子,從而產生相應的電信號,通過放大電路之后,在對其進行相應的轉換,后在檢測器上顯示相應待檢測樣品表面的相關信息圖像。

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