周五上海：DART實時分析離子源講座
學術報告會邀請函 “Direct Analysis in Real Time (DART)：Update Your LCMS” 演講人： Dr. Brian D. Mussleman 時 間： 2009年11月13日上午10：00 ~ 11：30（上海，周五） 地 點： 上海藥物研究所怡生廳（可容納50人）浦東張江高科地鐵站附近，祖沖之路555號，一號樓一樓西側 自2005年發明以來，直接實時分析-質譜(DART-MS)作為一種嶄新的質譜分析技術被快速廣泛地應用于藥物發現與開發(ADME)、食品藥品安全檢測、司法鑒定、材料分析及相關化學和生物化學分析等領域。相比于現行通用的液-質聯用(LC-MS)技術，DART-MS 分析將不再需要繁雜的樣品制備和耗時的色譜分離。作為一種“綠色”分析檢測技術，DART-MS 將急劇縮短樣品分析周期，極大地減少對化學溶劑的消耗和對固定資產及人員的投資。近兩......閱讀全文
DART離子源
由美國J. Laramee和R. Cody（美JEOL公司）于2005年發明，現由IonSense公司商品化生產、制造和銷售。獲得2005年Pittcon大獎。 DART已廣泛應用于藥物發現與開發（ADME）、食品藥品安全控制與檢測、司法鑒定、臨床檢驗、材料分析、天然產品品質鑒定、及相關化學和
DART實時直接分析質譜離子源介紹
????? 實時直接分析（Direct Analysis in Real Time）簡稱DART，是一種熱解析和離子化技術。????? DART操作簡單，樣品置放于DART源出口和一臺LC-MS質譜儀的離子采樣口，便可進行分析。????? 適用于分析液、固、氣態的各類型
周五上海：DART實時分析離子源講座
學術報告會邀請函 “Direct Analysis in Real Time (DART)：Update Your LCMS” 演講人： Dr. Brian D. Mussleman 時 間： 2009年11月13日上午10：00 ~ 11：30（上海，周五）? 地 點： 上
DART技術：直接實時分析質譜離子源學術報告
學術報告會邀請函 “Direct Analysis in Real Time (DART)：Update Your LCMS” 演講人： Dr. Brian D. Mussleman 時 間： 2009年11月10日，14:40 – 16:30 (北京，星期二) 地 點：
IonSense推出DART?-EDU計劃 為教育機構提供DART質譜技術
教育租賃計劃將會使化學部門降低運營成本，同時提供給學生使用實時直接分析質譜離子源的權利。該質譜技術在2014年6月15-19日在美國巴爾的摩市召開的第62屆美國質譜大會上展出，展位號是120。 Saugus, MA, 2014年6月10日，IonSense 公司今天宣布推出DART?-
新型DART SVP源和AccuTOF-DART飛行時間質譜儀性能
AccuTOF-DARTTM質譜儀是日本電子(JEOL)的獲獎產品，新型號產品使用iPod touch控制的DART SVP離子源，在使用飛行時間質譜后，可實時地獲取精確質量。 DART-SVP-iPhone 日本電子于2005年推出用于該公司AccuTOF-LC質譜儀的直接實時分析
華質泰科：DART—實時科學解決方案
華質泰科生物技術（北京）有限公司在2010年全國質譜大會上主要介紹其DART質譜離子源技術，DART是一個可以快速即離子化固體、液體和氣體；無需樣品制備的離子源，質量范圍達2000Da。 華質泰科生物技術（北京）有限公司展臺 DART的分析原理是：在60psi的壓力下將氦氣或氮氣引入
布魯克收購IonSense，推動DART質譜技術發展
2022 年4月6日美國馬薩諸塞州Saugus鎮——大氣壓DART?（實時直接電離）技術的創新者IonSense公司，宣布已被布魯克公司（納斯達克股票代碼：BRKR）收購。本次交易為IonSense提供了資金支持，用于加快DART離子源技術的開發，以及加大在應用市場的應用開發投入，包括食品安全和
日本電子攜新品參展Pittcon 2015并慶祝DART發明十周年
2015年3月9日，日本電子慶祝AccuTOF-DART?系列環境電離（Ambient ionization）質譜推出十周年，并于Pittcon 2015展會上推出新品AccuTOF-DART?4G，該產品具備新性能和功能，包括提高分辨率、分析速度、準確度、靈活性和多功能的設
實驗分析儀器--有機質譜儀實時直分離子源原理及特點
1.基本原理實時直接分析離子源（direct analysis in real time，DART）的命名是以該技術的效果命名的，其基本原理是通過電暈激發He等氣體產生激發態的He＊分子，激發態的He＊撞擊樣品表面的待測分子，將其從樣品表面解吸出來并將能量傳遞給待測分子使其電離。離子源主要結構如圖1