特征X射線像的功能介紹
中文名稱特征X射線像英文名稱characteristic X-ray image定 義在掃描電子顯微鏡中，由電子探針激發樣品而產生的特征X射線對樣品所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）......閱讀全文
特征X射線像的功能介紹
中文名稱特征X射線像英文名稱characteristic X-ray image定 義在掃描電子顯微鏡中，由電子探針激發樣品而產生的特征X射線對樣品所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
特征X射線像的功能介紹
中文名稱特征X射線像英文名稱characteristic X-ray image定 義在掃描電子顯微鏡中，由電子探針激發樣品而產生的特征X射線對樣品所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
特征X射線的特點
學家們逐漸揭示了X射線的本質，作為一種波長極短，能量很大的電磁波，X射線的波長比可見光的波長更短(約在0.001～100 納米，醫學上應用的X射線波長約在0.001～0.1 納米之間)，它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。因此，X射線除具有可見光的一般性質外，還具有自身的特性。正由于X射
什么是連續X射線和特征X射線譜
連續X射線，是電子跑著跑著突然被原子核拉住，能量沒地兒放，于是放出X射線，這里放出的能量是連續的。特征X射線是處于特定能級的電子吸收光子，處于激發態，跑到低能級上放出的能量，故是一份一份的，具有明顯衍射峰。介紹陰極射線的電子流轟擊到靶面，如果能量足夠高，靶內一些原子的內層電子會被轟出，使原子處于能級
X射線應力儀的功能介紹
利用MSF/PSF-3M X射線應力儀可以無損地對金屬材料及構件表面的殘余應力進行測試。該儀器包括實驗室測試部分及現場測試部分，也可以到現場對大型構件進行應力測試。測試對象中常見材料包括船體結構鋼、不銹鋼、有色金屬等。具有無損、準確的特點。經常被用于檢驗各種構件處理工藝的有效性，，還可以測試應力
X射線攝影裝置的特征
1.一種X射線攝影裝置，其特征在于：具有使其徑向相對地面垂直地配置的保持體、可沿該保持體的周面回轉地受到保持的圓環狀的回轉體、及分別配置在該回轉體的內周的徑向相向位置的X射線源和2維X射線檢測器，使上述回轉體回轉，可獲得位于該回轉體內的空間內的被檢查體全周方向的X射線圖像數據。
請問特征X射線如何產生？
一束高能粒子（射線）在與原子的相互作用下，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能時，可以將該軌道的電子逐出，形成空穴；此時原子處于非穩定狀態，在極短的時間內，軌道的外層電子向空穴躍遷，使原子恢復至穩定狀態。 那么，在外層電子躍遷的過程中，兩個殼層之間的能量差就以特征X射線的形式溢出原位于
X射線激光器的功能介紹
中文名稱X射線激光器英文名稱X-ray laser定 義輸出波長在X射線波段的激光器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），激光器件和激光設備-激光器名稱（三級學科）
X射線激光器的功能介紹
中文名稱X射線激光器英文名稱X-ray laser定 義輸出波長在X射線波段的激光器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），激光器件和激光設備-激光器名稱（三級學科）
概述x射線的基本特征
1 穿透性：X線波長很短，具有很強的穿透力，能穿透一般可見光不能穿透的各種不同密度的物質，并在穿透過程中受到一定程度的吸收即衰減。X線的穿透力與X線管電壓密切相關，電壓愈高，所產生的X線的波長愈短，穿透力也愈強；反之，電壓低，所產生的X線波長愈長，其穿透力也弱。另一方面，X線的穿透力還與被照體的
3分鐘了解連續X射線與特征X射線
連續X射線，是電子跑著跑著突然被原子核拉住，能量沒地兒放，于是放出X射線，這里放出的能量是連續的；而特征X射線是處于特定能級的電子吸收光子，處于激發態，跑到低能級上放出的能量，故是一份一份的，具有明顯衍射峰。還有個是X射線熒光，這個是用X射線激發，電子放出光子，與特征X射線剛好是反的
特征x射線與熒光x射線的產生機理有何異同
產生的機理不同，特征X射線是由電子撞擊金屬靶，使金屬原子中的K層L層M層等等層的核外電子被激發形成空位，外層電子躍入該空位，多余的能量產生X射線，熒光X射線則是由X射線或其他電磁波照射原子使原子核外電子激發形成空位，外層電子躍入空位產生X射線，二者都可以表示元素種類，但是產生一個是由電子引起，一個是
掃描電鏡之特征－X－射線
高能電子入射到樣品時，樣品中元素的原子內殼層(如 K、L 殼層)電子將被激發到較高 能量的外殼層，如 L 或 M 層，或直接將內殼層電子激發到原子外，使該原子系統的能量升 高——激發態。這種高能量態是不穩定的，原子較外層電子將迅速躍遷到有空位的內殼層， 以填補空位降低原子系統的總能量，并以特征
X射線的介紹
X射線（X-ray，倫琴射線）是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流，是一種電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現[1]。 X射線具有很高的穿透性，被用于醫學成像診斷。2017年10月27日，世界衛生組織國際癌癥研究機構將X射線放置在致癌物清單中。
X射線應力儀的功能
利用MSF/PSF-3M X射線應力儀可以無損地對金屬材料及構件表面的殘余應力進行測試。該儀器包括實驗室測試部分及現場測試部分，也可以到現場對大型構件進行應力測試。測試對象中常見材料包括船體結構鋼、不銹鋼、有色金屬等。具有無損、準確的特點。經常被用于檢驗各種構件處理工藝的有效性，，還可以測試應力
X射線與γ射線的相關介紹
X射線是帶電粒子與物質交互作用產生的高能光量子。 X射線與γ射線有許多類似的特性，但它們起源不同。 X射線由原子外部引起，而γ射線由原子內部引起。X射線比γ射線能量低，因此穿透力小于γ射線。成千上萬臺X射線機在日常中被運用于醫學和工業上。X射線也被用于癌癥治療中破壞癌變細胞，由于它的廣泛運用
元素含量與特征X射線強度的關系
不同元素特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；再根據特征X射線強度大小，可進行定量分析。 可用函數關系式表示為：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...) 式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度。由此可知只要通
x射線測厚儀各部件功能
1）全量程標定功能： 根據程序預先設定的計算公式，通過組合不同的標樣厚度并將其置于射線下測量，以得到一組基準數據，并存于PLC中。 2） 測量功能： 用于實際測量，系統工作時軋制帶材通過射線照射，測量頭接收后，轉化為電壓信號，此電壓值與全量程標定模塊中所儲存的基準數據相比較，通過程序中預先
簡述熒光X射線測厚儀的功能
1、樣品觀察系統高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 2、計算機系統配置IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯
X射線的原理介紹
產生X射線的最簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為軔致輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1nm左右的光
X射線的特點介紹
X射線與可見光相比，除了具有波粒二象性的共同性質之外，還因其波長短、能量大而顯示其特性： 1、穿透能力強； 2、折射率幾乎等于1； 3、透過晶體時發生衍射。
電子探針X射線顯微分析儀的特征X射線和吸收電子
特征X射線 高能電子入射到樣品時，樣品中元素的原子內殼層(如K、L殼層) 處于激發態原子較外層電子將迅速躍遷到有空位的內殼層，以填補空位降低原子系統的總能量，并以特征X射線釋放出多余的能量。 吸收電子 入射電子與樣品相互作用后，能量耗盡的電子稱吸收電子。吸收電子的信號強度與背散射電子的信號
陰極發光像的功能介紹
中文名稱陰極發光像英文名稱cathode luminescence image定 義在掃描電子顯微鏡中，用電子探針激發樣品所產生的光輻射對樣品所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
吸收電子像的功能介紹
中文名稱吸收電子像英文名稱absorbed electron image定 義在掃描電子顯微鏡中，用被樣品吸收的電子所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
陰極發光像的功能介紹
中文名稱陰極發光像英文名稱cathode luminescence image定 義在掃描電子顯微鏡中，用電子探針激發樣品所產生的光輻射對樣品所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
吸收電子像的功能介紹
中文名稱吸收電子像英文名稱absorbed electron image定 義在掃描電子顯微鏡中，用被樣品吸收的電子所成的像。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞（三級學科）
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
太陽耀斑硬X射線能譜演變特征
太陽硬Ｘ射線是耀斑高能電子束流與太陽大氣相互作用產生的韌致輻射，根據簡單的太陽耀斑環物理模型，假定具有流量與能譜同步變化的高能電子束流從耀斑環頂部注入，計算了硬Ｘ射線輻射在不同的靶物質密度區的能譜演變特征．結果表明：硬Ｘ射線輻射在低大氣密度靶區呈現軟一硬一硬的能譜演變特征，在高密度靶區硬Ｘ射線能譜則