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凱.西格班（Kai Manne Borje Siegbahn，1918- ）一直從事核能譜的研究。20世紀50年代，他和同事們用雙聚焦磁式能譜儀研究放射性能譜。當時，往往會因為回旋加速器的原因不得不停下來等待放射性樣品。能否用一種更容易掌握的代用品來激發放射性輻射呢？凱.西格班設想用X射線管使材料發出光電子，然后再盡可能精確地測量其結合能。這種辦法曾有人作過嘗試，但靈敏度不高。凱.西格班將他在核能譜方面的經驗用于外光電效應，并將高分辨率儀器用于實驗，在這個領域獲得了重大改進。他們將新研制的測量X射線光電子能量的雙聚焦高分辨率電子能譜儀用于研究電子、光子或其它粒子轟擊原子體系后發射出來的電子，系統地研究了各種元素的電子結合能。后來他們又將此項技術用于化學分析的電子能譜。凱.西格班開創了一種新的分析方法—X射線光電子能譜學XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy），或化學分析電子能譜學ESCA（Ele......閱讀全文
用X光能否鑒定人體內的石狀物體真的是鉆石？先要了解什么是X光。 X射線的本質和光一樣,是一種電磁輻射,它覆蓋了從0.01nm到10nm的波段范圍,對應的能量范圍從125eV到125keV。通常我們把波長在0.001nm～0.1nm之間，能量較高的X射線稱為硬X射線,；波長在0.1nm以上，能量
X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001- 10nm左右。X射線照射到物質上面以后，從物質上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，Atomray CX-5500產品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質中獲取元素信息
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
拉曼光譜的原理及應用 拉曼光譜由于近幾年來以下幾項技術的集中發展而有了更廣泛的應用。這些技術是：CCD檢測系統在近紅外區域的高靈敏性，體積小而功率大的二極管激光器，與激發激光及信號過濾整合的光纖探頭。這些產品連同高口徑短焦距的分光光度計，提供了低熒光本底而高質量的拉曼光譜以及體積小、容易使用的
紅外光譜的原理及應用 (一)紅外吸收光譜的定義及產生 分子的振動能量比轉動能量大，當發生振動能級躍遷時，不可避免地伴隨有轉動能級的躍遷，所以無法測量純粹的振動光譜，而只能得到分子的振動-轉動光譜，這種光譜稱為紅外吸收光譜 紅外吸收光譜也是一種分子吸收光譜。當樣品受到頻率連續變化的紅外光照射
如今，X熒光光譜儀技術已成功應用于環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至100%，檢
(三)X射線光電子能譜法的應用 (1)元素定性分析 各種元素都有它的特征的電子結合能，因此，在能譜圖中就出現特征譜線，可以根據這些譜線在能譜圖中的位置來鑒定周期表中除H和He以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素。 (2)元
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
紅外光譜樣品制備 紅外光譜是未知化合物結構鑒定的一種強有力的工具，尤其近幾年來各種取樣技術和聯用技術的迅速發展，使得它成為分析化學應用中最廣泛的儀器之一。 樣品要求： 1、氣體、液體（透明，糊狀）、固體（粉末、粒狀、片狀…）。 氣體樣品：采用氣體吸收池進行測試，吸收峰的強度可以通過調整氣
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性：一個是它的化學成分，另一個是它內部的組織結構。所以，對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求，也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析
1.電子探針譜儀分為能譜儀和波譜儀原理：利用聚焦電子束（電子探測針）照射試樣表面待測的微小區域，從而激發試樣中元素產生不同波長（或能量）的特征X射線。用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜。根據特征X射線的波長（或能量）進行元素定性分析；根據特征X射線的強度進行元素的定量分析。適合分析材料:金屬及
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 （10）-12-（10）-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程稱為馳過程.馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷.當較外層的電
X熒光光譜儀原理當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較
在鋰離子電池發展的過程當中，我們希望獲得大量有用的信息來幫助我們對材料和器件進行數據分析，以得知其各方面的性能。目前，鋰離子電池材料和器件常用到的研究方法主要有表征方法和電化學測量。 電化學測試主要分為三個部分：（1）充放電測試，主要看電池充放電性能和倍率等；（2）循環伏安，主要是看電池的充放
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自
（1）固體表面的激發與檢測 X射線光電子能譜（XPS）：激發源為X射線，用X射線作用于樣品表面，產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結構。又稱為化學分析光電子能譜法（ESCA）。 紫外光電子能譜（UPS）：激發源為紫外光，只能激發原子的價電子，用于量子化
X熒光光譜儀的原理 當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 （10）-12-（10）-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程
（1）固體表面的激發與檢測X射線光電子能譜（XPS）：激發源為X射線，用X射線作用于樣品表面，產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結構。又稱為化學分析光電子能譜法（ESCA）。紫外光電子能譜（UPS）：激發源為紫外光，只能激發原子的價電子，用于量子化學研究。俄歇
Elemental Analysis 元素分析Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光譜Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇電子能譜Electron probe microanalysis (EPMA) 電子探針微分析Electro
根據所采用的激發源的不同，電子能譜分析主要可分為以下兩大類：一是以光電子能譜（簡稱PES）；二是電子束作激發源去照射樣品，測量樣品所發射出的俄歇電子能量，稱為俄歇電子能譜（簡稱AES）。1、光電子能譜以一定能量的X射線或光（如紫外光）照射固體表面時，被束縛于原子各種深度的量子化能級上的電子被激發而產
X光電子能譜分析的基本原理 X光電子能譜分析的基本原理：一定能量的X光照射到樣品表面，和待測物質發生作用，可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。該過程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光電子的能量；Eb：電子的結合能；Er：原子的反沖能量
X熒光光譜儀注意事項和嚴禁事項 一、注意事項 1 觀察室溫是否為18～28℃，濕度是否為75%或更低。 2 注意外部、內部冷卻循環水的參數。 3 注意各制樣設備是否運轉正常，樣品制作出來后是否穩定分析。 二、嚴禁事項 1 嚴禁點擊儀器操作軟件PCMXF中的緊急停止按鈕“STOP” 2
X射線是一種電磁輻射，其波長介于紫外線和γ射線之間。它的波長沒有一個嚴格的界限，一般來說是指波長為0.001-50nm的電磁輻射。對分析化學家來說，最感興趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超鈾元素的K系譜線，24nm則是最輕元素Li的K系譜線。1923年赫維西(Hevesy,
（1）譜線識別X射線入射在樣品上，樣品原子中各軌道電子被激發出來成為光電子。光電子的能量統計分布（X射線光電子能譜）代表了原子的能級分布情況。不同元素原子的能級分布不同，X射線光電子能譜就不同，能譜的特征峰不同，從而可以鑒別不同的元素。電子能量用E = Enlj 表示。光電子則用被激發前原來所處的能
XPS是大家期盼已久的內容，我們希望盡量能夠讓大家滿意。首先給大家分享下我們的更新計劃：今天是第一期，主要解決的是XPS的一些最基本的原理以及常規知識；從下一期開始我們主要采用實例的方法進行分享，介紹XPS具體怎么用，如何分峰擬合，XPS還包括哪些高級檢測手段等等。XPS看似簡單，其實包含的內容
X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀和能量（energy）色散X射線熒光光譜儀； 波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關(related)電子與控制部件，相對簡單。 X射線熒光分析儀基本原理
表面分析方法表面分析方法有數十種，常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析，其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及場離子顯微鏡分析等。離子探針分析離子探針分析，又稱離子探針顯微分析。它是利用電子光學方法將某些惰性氣體或氧的離子加速并聚
導讀：復合資料是指由兩種或兩種以上不同物質以不同方式組合而成的資料, 它能夠發揮出各種資料的優點, 克制單一資料的缺陷, 擴展資料的應用范圍。它具有重量輕、強度高、加工成型便當、彈性優秀、耐化學腐蝕和耐候性好等優秀性能，為了將這些優秀的性能用數據表達出來或者更好的監控制備過程，必需有測試設備的協