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納米材料與粉體材料的分析在材料科學中，無論無機材料或有機材料，在研究中都有要研究文獻，材料是晶態還是非晶態。分子或原子的存在狀態中間化物及各種相的變化，以便找出結構與性質之間的規律。在這些研究中AFM 可以使研究者，從分子或原子水平直接觀察晶體或非晶體的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各種力的相互作用。這些對掌握結構與性能之間的關系有非常重要的作用。當今納米材料是材料領域關注的課題，而AFM 對納米材料微觀的研究中，也是分析測視工具。納米材料科學的發展和納米制備技術的進步，將需要更新的測試技術和表征手段，以評價納米粒子的粒徑、形貌、分散和團聚狀況。原子力顯微鏡的橫向分辨率為0.1～0.2nm，縱向為0.01nm，能夠有效的表征納米材料。納米科學和技術是在納米尺度上（ 0.1～100nm）研究物質（包括原子、分子）的特性和相互作用，并且利用這些特性的一個新興科學。其最終目標是直接以物質在納米尺......閱讀全文
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
AFM 是利用樣品表面與探針之間力的相互作用這一物理現象，因此不受STM 等要求樣品表面能夠導電的限制，可對導體進行探測，對于不具有導電性的組織、生物材料和有機材料等絕緣體，AFM 同樣可得到高分辨率的表面形貌圖像，從而使它更具有適應性，更具有廣
1． 粒度分析的概念 大部分固體材料均是由各種形狀不同的顆粒構造而成，因此，細微顆粒材料的形狀和大小對材料結構和性能具有重要的影響。尤其對于納米材料，其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用。因此，對納米材料的顆粒大小、形狀的表征和控制具有重要的意義
分析測試百科網訊 2018年7月22日，第十次華北五省市電子顯微學研討會及2018年全國實驗室協作服務交流會在山東省煙臺市舉行。本次會議由華北五省電子顯微鏡學會主辦，北京理化分析測試技術學會協辦。此次會議旨在推動華北五省市電子顯微分析技術的發展，促進電子顯微分析工作者的學術交流，加強實驗室資源共
分析測試百科網訊 2016年12月20日，2016年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開，會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來自電子顯微學領域相關單位的200余人參加了此次會議。2016年度北京市電子顯微學
相貌分析的主要內容是分析材料的幾何形貌，材料的顆粒度，及顆粒度的分布以及形貌微區的成份和物相結構等方面。形貌分析方法主要有：光學顯微鏡(Opticalmicroscopy,OM)、掃描電子顯微鏡(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射電子顯微鏡(Transmis
2013年12月24日， 2013年度北京市電子顯微學年會在北京天文館隆重召開，會上，來自中科院、北京大學、北京工業大學、北京建筑大學、鋼鐵研究總院等多位專家學者帶來了關于電鏡在教學科研、納米材料、生物醫藥、探傷等方面應用的精彩報告，科揚、FEI、蔡司、布魯克、牛津
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念，在多數情況下納米粒子是由多個完美排列的晶粒組成的）的晶相和大小，雖然也可通過更強的場發射透鏡（HRTEM）得到，但是機器昂貴、操作復雜，所以實驗室一般使用X射線粉末衍射儀。 XRD、TEM、AFM在表征粒徑大小方面各有優勢，我們將分別從原理和應用來
摘要：電子顯微技術是材料表征的重要技術手段之一，其中掃描電子顯微鏡（簡稱SEM）由于具有應用范圍廣、樣品制備簡單、圖像景深大等優點，因而在碳材料表征中發揮著越來越重要的作用。本文在介紹掃描電鏡的結構、工作原理及樣品制備的基礎上，簡要概述了掃描電鏡在材料表征中的應用，并以碳納米管為例對圖譜進行了分析。
樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個方面。物相分析一般使用 X－射線粉末衍射儀（XRD）和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區域，可能產生較大的統計誤差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念，在多數情況下
——第十九屆全國分子光譜學學術會議暨2016年光譜年會大會報告（二） 分析測試百科網訊 2016年10月28日，第十九屆全國分子光譜學學術會議暨2016年光譜年會在福州盛大開幕（詳見本網報道：光譜領域專家匯聚福州 共同探討光譜學發展），會議由中國光學學會和中國化學會主辦，中國科學院福建物質結構研究
粉體材料有很多物理指標，主要反映在組成粉體材料顆粒的一些參數，包括粒度、粒形、表面積、孔徑、帶電特性以及堆積性能和流動性能等。粒度測試是一門跨學科、跨領域技術，它需要面向幾十個領域中的各式粉體和千差萬別的用戶，因此要求從事顆粒測試工作的人員具有豐富的理論知識和實踐經驗。其中理論知識包括顆粒學、物理學
粉體材料有很多物理指標，主要反映在組成粉體材料顆粒的一些參數，包括粒度、粒形、表面積、孔徑、帶電特性以及堆積性能和流動性能等。粒度測試是一門跨學科、跨領域技術，它需要面向幾十個領域中的各式粉體和千差萬別的用戶，因此要求從事顆粒測試工作的人員具有豐富的理論知識和實踐經驗。其中理論知識包括顆粒學、物理學
近日，2019年（第五屆）石墨烯/碳納米材料制備技術及終端應用創新論壇在中科院上海微系統所落下帷幕，這是石墨烯/碳納米材料行業全產業鏈的盛會，會議邀請國內外石墨烯/碳納米材料產業鏈上下游配套企業及國內外科研機構的頂級專家做了精彩報告。 在本次創新論壇，中科院上海微系統所聯合TESCAN公司展示
1982年，Gerd Binning及其合作者在IBM公司蘇黎世實驗室共同研制成功了第一臺掃描隧道顯微鏡(scanning tunneling microscope，STM)，其發明人Binning 因此獲得1986 年的諾貝爾物理獎。掃描隧道顯微鏡的工作原理
分析測試百科網訊 2019年12月17日，2019年度北京市電子顯微學年會隆重舉行。本次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。會議共有200余人出席、參與。分析測試百科網作為支持媒體為您帶來全程跟蹤報道。年會簽
一、2011年全國材料科學電子顯微學會議通知 隨著電子顯微學事業的飛躍發展，材料的電子顯微表征技術日新月異。具有場發射槍的高空間分辨分析型TEM，使人們可以采用高分辨技術、微衍射、電子能譜、電子能量損失譜對納米尺度的區域進行形貌、結構、成分分析。球差校正TEM又將點分辨率提高到0.0
2014年11月12日，常州第六元素材料科技股份有限公司在北京成功進入“新三板”上市，成為國內首家石墨烯上市企業。 2013年2月，諾獎得主康斯坦丁·諾沃肖洛夫爵士在中國國務院發展研究中心，接受江南石墨烯研究院名譽理事長馮冠平饋贈由中國制造的全球首款石墨烯觸屏手機。 ■創新驅動發展 “這
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發
2020年4月29日，Park原子力顯微鏡宣布最終完成對美國加州圣何塞的Molecular Vista進行的股權投資。Molecular Vista作為一家AFM的生產商，該公司主要聚焦于基于光誘導力顯微鏡的納米紅外技術（IR PiFM）進行AFM紅外聯用的定量可視化研究工作，從而實現分子水平上
四大顯微設備：SEM、TEM、AFM、STM，相信大家并不陌生，特別是學材料的小伙伴們。那它們的工作原理呢？下面，讓您輕松了解它們的工作原理，跟枯燥乏味的各種分析說拜拜啦！01.掃描電子顯微鏡（SEM）SEM是利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發出來的各種物理信號來調制成像的。SEM是采用逐點成像的
常用的物相分析方法有X射線衍射分析、激光拉曼分析、傅里葉紅外分析以及微區電子衍射分析。X射線衍射分析XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，對樣品中各組分的存在形態進行分析。測定結晶情況，晶相，晶體結構及成鍵狀態等等。 可以確定各種晶態組分的結構和含量。靈敏度較低，一般只能測定樣品中含量在1
掃描探針顯微鏡是一種強有力的表面分析儀器,它主要包括掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM).敲擊模式的AFM更是被廣泛地用來研究各種材料的表面及微觀結構.但是由于敲擊模式工作原理的復雜性,為了得到真實的樣品結構,就必須選擇合適的掃描參數.該文用敲擊模式AFM研究了不同材料的微觀結構,研究了
新奧爾良，路易斯安那州——2015年3月9日——本周，在2015Pittcon展會期間，Bruker 公司(NASDAQ: BRKR) 展示了一系列令人激動的創新式產品和解決方案，加大其在藥物和應用市場、質控領域、納米級分析和細胞生物學等方面的優
一、相關概念： 1、粒度與粒徑：顆粒的大小稱為粒度，一般顆粒的大小又以直徑表示,故也稱為粒徑。 2、粒度分布：用一定方法反映出一系列不同粒徑區間顆粒分別占試樣總量的百分比稱為粒度分布。
編 號 論文題目 作 者
SDC-100光學接觸角測量儀（水滴角） 眾所周知，納米材料科學與工程已經成為世界性的研究熱點，在研究納米材料的表面改性時，往往要涉及潤濕接觸角這個概念。所謂接觸角是指在一固體水平平面上滴一液滴，固體表面上的固－液－氣三相交界點處，其氣－液界面和固－液界
12月19日，中國科學院發布改革開放四十年40項標志性重大科技成果。 中科院以“三個面向”為線索，在系統梳理改革開放40年來廣大科研人員取得的眾多重大科技成果基礎上，發布面向世界科技前沿成果15項、面向國家重大需求成果15項、面向國民經濟主戰場成果10項。 習近平總書記在慶祝改革開放40周年
1 掃描電鏡的原理 掃描電鏡（Scanning Electron Microscope,簡寫為SEM）是一個復雜的系統，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發展和應用的拓展，