二次離子質譜儀原理簡介
二次離子質譜儀原理簡介二次離子質譜儀（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又稱離子探針（Ion Microprobe），是一種利用高能離子束轟擊樣品產生二次離子幵迚行質譜測定的儀器，可 以對固體或薄膜樣品迚行高精度的微區原位元素和同位素分析。由于地學樣品的復雜性和對 精度的苛刻要求，在本領域內一般使用定量精度最高的大型磁式離子探針。該類型的商業化 儀器目前主要有法國Cameca 公司生產的 IMS1270-1300 系列和澳大利亞ASI 公司的 SHRIMP 系列。最近十年來，兩家公司相繼升級各自產品，在靈敏度、分辨率及分析精度 等方面指標取得了較大的提升，元素檢出限達到ppm-ppb 級，空間分辨率最高可達亞微 米級，深度分辨率可達納米級。目前，大型離子探針可分析元素周期表中除稀有氣體外的幾 乎全部元素及其同位素，涉及的研究領域包括地球早期歷叱不古老地殼演化、造山帶構造演 化、巖石圀演化......閱讀全文
質譜儀器中的離子源簡介
質譜儀器中的離子源是儀器的重要組成部分，與儀器的靈敏度、分辨本領等主要性能指標有密切的關系。離子源的作用是使被分析的物質分子電離成離子(正離子及少量的負離子)，并使正離子加速進入質量分析器，因此具有雙重功能。在多數情況下，離子源還把產生的離子聚合成一定的幾何形狀(矩形或圓形)和一定能量的離子束。
二次離子質譜儀器核心技術項目在京順利通過驗收
?? 由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”（編號：2006BAK03A21）在京順利通過驗收。課題驗收會由“十
離子分子反應質譜儀的原理和應用
工作原理：?????? AirSense型質譜儀基于具有的離子-分子反應（IMR-MS）原理，可以應用于相當廣闊的領域。通過采用IMR技術，其測量過程變得更快，更具選擇性，基本上無基體干擾存在，因此不像其它分析儀會出現分子碎片、光譜重疊而造成對檢測結果解析困難。?????? IMR使用具有低能量?（
電感耦合等離子體質譜儀相關簡介
主要用途： 1.痕量及超痕量多元素分析 2.同位素比值分析 儀器類別： 0303071402 /儀器儀表 /成份分析儀器 /質譜儀 指標信息： 靈敏度：115mbarIn>2×107Cps ppm-1 檢出限：Cu
線性離子阱質譜儀的使用功能簡介
線性離子阱質譜儀的功能簡介： 1、可升級的電子轉移裂解（ETD)模塊可以提供傳統裂解方法無法得到的蛋白質翻譯后修飾信息； 2、脈沖碰撞能量誘導解離（PQD)功能可以提供低質量端碎片離子信息； 3、高選擇MS/MS分析給譜圖在數據庫和譜庫檢索更好的匹配，提高了結構確證的可靠性。另外快速極性切換，
“二次離子質譜儀器核心技術研發”項目子課題通過驗收
2月21至22日，由國家質檢總局科技司委托組成的測試專家組，對中科院大連化學物理研究所承擔的“十一五”國家科技支撐計劃項目課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”中的子課題“角反射飛行時間質量分析器”進行了現場考核與測試。驗收專家組組長由北
“高分辨率二次離子質譜儀研制”項目啟動會召開
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/2/494313.shtm近日，由中科院海洋研究所牽頭承擔的國家重點研發計劃“基礎科研條件與重大科學儀器設備研發”重點專項“高分辨率二次離子質譜儀研制”項目啟動暨實施方案論證會在青島召開。 會議現場?
“高分辨率二次離子質譜儀研制”項目啟動會召開
近日，由中科院海洋研究所牽頭承擔的國家重點研發計劃“基礎科研條件與重大科學儀器設備研發”重點專項“高分辨率二次離子質譜儀研制”項目啟動暨實施方案論證會在青島召開。會議現場? 中科院海洋研究所供圖海洋研究所黨委書記王輝出席會議并致辭。科技部21世紀議程管理中心資源處處長裴志永、主管張望，中科院前沿科學
質譜儀簡介
利用運動離子在電場和磁場中偏轉原理設計的儀器稱為質譜計或質譜儀。前者指用電子學方法檢測離子，而后者指離子被聚焦在照相底板上進行檢測。質譜法的儀器種類較多，根據使用范圍，可分為無機質譜儀和有機質譜計。常用的有機質譜計有單聚焦質譜計、雙聚焦質譜計和四極矩質譜計。目前后兩種用得較多，而且多與氣相色譜儀和電
質譜儀簡介
質譜儀簡介質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質量分析器。質量分析器是將同時進入其中的不同質量的離子，按質荷比m/
質譜儀簡介
質譜儀又稱質譜計。分離和檢測不同同位素的儀器。即根據帶電粒子在電磁場中能夠偏轉的原理，按物質原子、分子或分子碎片的質量差異進行分離和檢測物質組成的一類儀器。質譜儀按應用范圍分為同位素質譜儀、無機質譜儀和有機質譜儀。按分辨本領分為高分辨、中分辨和低分辨質譜儀；按工作原理分為靜態儀器和動態儀器。
質譜儀簡介
質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質量分析器。質量分析器是將同時進入其中的不同質量的離子，按質荷比m/e大小
質譜儀簡介
質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質量分析器。質量分析器是將同時進入其中的不同質量的離子，按質荷比m/z大小分離
電感偶合等離子體質譜儀的功能簡介
電感偶合等離子體質譜儀是一種用于化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，于2009年12月23日啟用。 主要功能 1. ICP-MS在環境樣品分析中的應用,可以直接測定海水中與環境污染或水文變化相關的多種元素。 2、ICP-MS與其他技術的聯用及其在生命科學研究中的應用,應用于海水
二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研發項目通過驗收
二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發項目通過驗收 2011年6月21日，由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關
Hiden－Analytical推出二次離子質譜儀成功應用于鋰電池研究
據外媒報道，先進科學儀器供應商Hiden Analytical宣布，其四極聚焦離子束二次離子質譜（FIB-SIMS）成功應用于鋰離子電池研究。這項突破性技術具有無與倫比的靈敏度和分辨率，適合低質量鋰檢測，將大幅推進鋰離子電池研究的進程。 現在，人們對電動汽車和便攜式電子設備的需求日益增長，更加
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的主要用途
1. 摻雜劑與雜質的深度剖析2. 薄膜的成份及雜質測定 （金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N5. 工藝工具（離子植入）的高精度分析
二次離子質譜的原理組成和結構
二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加
質譜儀離子分子反應質譜儀技術特點
技術特點? 1) 利用三種低能級的源離子(Hg+、Xe+、Kr+)，避免了樣品氣體分子的碎片化? 2) 具有優異的選擇性，極大的消除了不同成分間的交叉干擾，特別適用于復雜混合物的實時連續動態檢測? 3) 能夠同時檢測ppb、ppm濃度級別的氣體組分和百分比級別的氣體組分，寬動態范圍內的在線氣體
質譜儀質譜儀原理介紹和原理公式
質譜儀能用高能電子流等轟擊樣品分子，使該分子失去電子變為帶正電荷的分子離子和碎片離子。這些不同離子具有不同的質量，質量不同的離子在磁場的作用下到達檢測器的時間不同，其結果為質譜圖。原理公式：q/m=E/B1B2r
離子阱質譜儀簡述
利用離子阱作為分析器的質譜儀稱為離子阱質譜儀。使用最多的是由高頻率電場進行離子封閉的保羅阱（Paul trap）。由一個雙曲面截面的環形電極和上下一對端電極構成。封閉在真空池內的離子，通過高頻電壓掃描，將離子按m/z從池中引出進行檢測。離子阱質譜儀是一種低分辨時間串聯質譜儀。可以進行msn的測定
離子阱質譜儀種類
離子阱質譜儀種類有多種。1、按分析目的可分：化驗室離子阱質譜儀和工業離子阱質譜儀。2、按分辨率可分：低分辨離子阱質譜儀、中分辨離子阱質譜儀和高分辨離子阱質譜儀。3、按聯用方式可分：離子阱氣質聯用儀、離子阱液質聯用儀和等離子體離子阱質譜儀等。4、按分析對象的屬性可分：離子阱有機質譜儀、離子阱無機質譜儀
質譜儀原理
1、有機質譜儀基本工作原理：以電子轟擊或其他的方式使被測物質離子化，形成各種質荷比（m/e）的離子，然后利用電磁學原理使離子按不同的質荷比分離并測量各種離子的強度，從而確定被測物質的分子量和結構。2、無機質譜儀與有機質譜儀工作原理不同的是物質離子化的方式不一樣，無機質譜儀是以電感耦合高頻放電 (IC
質譜儀原理
1、有機質譜儀基本工作原理：以電子轟擊或其他的方式使被測物質離子化，形成各種質荷比（m/e）的離子，然后利用電磁學原理使離子按不同的質荷比分離并測量各種離子的強度，從而確定被測物質的分子量和結構。2、無機質譜儀與有機質譜儀工作原理不同的是物質離子化的方式不一樣，無機質譜儀是以電感耦合高頻放電 (IC
質譜儀原理
質譜儀原理是用高能電子流等轟擊樣品分子，使該分子失去電子變為帶正電荷的分子離子和碎片離子。這些不同離子具有不同的質量，質量不同的離子在磁場的作用下到達檢測器的時間不同，其結果為質譜圖。質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多
質譜儀原理
質譜儀原理是用高能電子流等轟擊樣品分子，使該分子失去電子變為帶正電荷的分子離子和碎片離子。這些不同離子具有不同的質量，質量不同的離子在磁場的作用下到達檢測器的時間不同，其結果為質譜圖。質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多
二次離子質譜儀同時分析非金屬元素和金屬元素
二次離子質譜（sims）和濺射中性粒子質譜（snms）是表面分析科學和材料科學中廣泛應用的分析技術。使用離子濺射固體表面能夠引起光子、電子、中性粒子和二次離子的發射。sims技術探測濺射產生二次離子，snms技術探測濺射產生中性粒子。由于二次離子的產率和基體相關，sims技術具有顯著的基體效應，
質譜儀質譜儀基本工作原理
基本工作原理：以電子轟擊或其他的方式使被測物質離子化，形成各種質荷比（m/e）的離子，然后利用電磁學原理使離子按不同的質荷比分離并測量各種離子的強度，從而確定被測物質的分子量和結構。
質譜儀的簡介
??質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質量分析器。質量分析器是將同時進入其中的不同質量的離子，按質荷比m/z大小
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。