二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 中文名 二次離子質譜 外文名 secondary ion mass spectroscopy(SIMS) 別稱：次級離子質譜、離子探針 原理：用一次離子束轟擊表面 用途：材料檢測與表征、醫藥研究等 二次離子質譜儀 二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 [1] 在傳統的S......閱讀全文
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。
二次離子質譜（SIMS）的原理特點和應用
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。中文名 二次離子
SIMS(secondary－ion－mass－spectroscopy)二次離子質譜圖文
1.儀器介紹二次離子質譜（SIMS）是一種用于通過用聚焦的一次離子束濺射樣品表面并收集和分析噴射的二次離子來分析固體表面和薄膜的組成的技術。SIMS是最靈敏的表面分析技術，元素檢測限為百萬分之幾到十億分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument
硅中氧、碳的二次離子質譜(SIMS)分析
硅中氧、碳的二次離子質譜（SIMS）分析何友琴馬農農王東雪（電子材料研究所??天津?300192）摘?要?本文采用相對靈敏度因子法，對硅中氧、碳含量的SIMS定量分析方法進行研究。通過對樣品進行預濺射的方法，氧、碳的的檢測限分別可達到6.0e16atoms/cm3、2.0e16atoms/cm3。關
二次離子質譜SIMS應用：從半導體材料到生命科學
在2012年以前，汪福意研究員一直帶領團隊通過有機質譜，如電噴霧電離質譜(ESI-MS)、基質輔助激光解析電離質譜(MALDI-MS)等進行藥物相互作用組學研究、抗腫瘤藥物的研究和開發等工作。一次與生物學家偶然的討論給汪福意帶來了啟發，他萌生了使用高空間分辨率的二次離子質譜成像進行化
飛行時間二次離子質譜（TOFSIMS）研究
一、二次離子峰位歸屬煤及烴源巖中的有機組分的二次離子譜非常復雜，再加上目前對SIMS裂分機理掌握不夠，因此，對煤及源巖有機質的SIMS譜圖解釋存在很多問題。目前對TOF-SIMS常見碎片離子峰認識程度綜合于表7-7。本節研究重點是根據對現有峰位的認識，建立與13CNMR,Mirco-FT·IR可以類
二次離子質譜的特點
1.獲得樣品最表層1-3個原子信息深度信息； 2.可以檢測同位素，用于同位素分析 ； 3.達到ppm~ ppb級的探測極限。 4. 可以并行探測所有元素和化合物，離子傳輸率可以達到100%。 5.采用高效的電子中和槍，可以精確的分析絕緣材料。 6. 具有很小的信息深度（小于1nm）；可
二次離子質譜的原理
??? 二次離子質譜是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子，通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。它利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表
二次離子質譜的原理組成和結構
二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加
二次離子質譜技術的分析和應用
二次離子質譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術。它可以分析氫元素到鈾元素在內的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團和分子結構等信息。SIMS可以分為靜態SIMS（SSIMS）和動態SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質譜圖、化學成像、動態深度剖析曲線等
二次離子質譜儀的質譜原理
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子
二次離子質譜儀（SIMS）
二次離子質譜儀（SIMS）分析方法介紹美信檢測 失效分析實驗室 1.簡介?二次離子質譜儀（secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS），是利用質譜法分析初級 離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜儀分 析對象包括金屬及合金、半導
動態二次離子質譜分析（DSIMS）
動態二次離子質譜分析（D-SIMS）1. 飛行時間二次離子質譜技術二次離子質譜技術（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子的質量來測定元素種類，具有極
二次離子質譜原理是什么？應用哪些方面？
二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 在傳統的SIMS實驗中，高能一次離子束
二次離子質譜概述
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分子吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 用一次離
二次離子質譜技術
海洋有機地球化學檢測方法二次離子質譜技術簡述 摘要：海洋有機地球化學是通過研究與還原性碳相關的物質來揭示海洋生態系的 結構、功能與演化的一門科學。由于其中的有機組分通常以痕量、復雜的混合物 形式存在，且是不同年齡、不同來源、不同反應歷史生源物質的集成產物，所以 總體分析困難較大。目前主要是從整體水平
電噴射質譜的原理和應用特點
中文名稱電噴射質譜英文名稱electrospray mass spectroscopy;ESMS定 義一種使不同質量的粒子在電磁場中運動并按照質荷比進行分離的技術理論。即氣體在電子的轟擊下會產生帶電粒子，帶電粒子在電場的作用下獲得能量做加速運動，而在磁場的作用下將做圓周運動，具有不同質荷比的離子其
二次離子質譜的結構
??? 近年來，二次離子質譜這一前沿的分析技術越來越多地被用在了科學研究當中，應用范圍較為廣泛。然而，依然有很多小白對二次離子質譜的基本結構不太了解。那么二次離子質譜的組成結構是怎樣的呢？都有哪些功能和特點？今天小編就來簡單盤點一下。? 二次離子質譜主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次
離子阱質譜和四極桿質譜的原理
四極桿（Quadrupole）：由四根帶有直流電壓（DC）和疊加的射頻電壓（RF）的準確平行桿構成，相對的一對電極是等電位的，兩對電極之間電位相反。當一組質荷比不同的離子進入由DC和RF組成的電場時，只有滿足特定條件的離子作穩定振蕩通過四極桿，到達監測器而被檢測。通過掃描RF場可以獲得質譜圖。四極
離子阱質譜的概念和原理
離子阱質譜（ITMS）是利用高電場使質譜進樣端的毛細管柱流出的液滴帶電，在氮氣氣流的作用下，液滴溶劑蒸發，表面積縮小，表面電荷密度不斷增加，直至產生的庫侖力與液滴表面張力達到雷利極限，液滴爆裂為帶電的子液滴，這一過程不斷重復使最終的液滴非常細小呈噴霧狀，這時液滴表面的電場非常強大，使分析物離子化并以
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的工作原理
1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子，這些原子中有一部分向表面運動，并把能量傳遞給表面離子使之發射，這種過程成為粒子
四極桿質譜和離子阱質譜原理對比
不論是四極桿質譜，還是離子阱質譜，其分析原理是相似的，其差別在于具體的分離過程。在離子化的過程中，待測的物質被一定能量的電子束撞擊，解離成離子，并碎裂成一系列能反映其物質性質信息的碎片離子。接下來，這些碎片離子被離子阱或四極桿分離并檢測，按照質荷比m/z的大小繪制成一張可以體現物質定性信息的質譜圖，
關于二次離子質譜儀操作模式的介紹
SIMS大致可以分為“動態二次離子質譜”（D-SIMS）"和“靜態二次離子質譜“（S-SIMS）兩大類。雖然工作原理上它們并無本質差別，但是兩種模式的應用特點卻有所不同。一次離子束流密度大小是劃分兩種模式的主要標準。一般在S-SIMS模式下，一次離子束流被控制在1013離子/cm2，常用飛行時間
離子阱質譜的性能和應用介紹
離子阱有全掃描和選擇離子掃描功能，同時具有離子儲存技術，可以選擇任一質量離子進行碰撞解離，實現二級或多級MSn分析功能。但離子阱的全掃描和選擇離子掃描的靈敏度是相似的。廣泛應用于蛋白質組學和藥物代謝分析。已經出現了很多離子阱質譜與其它分析儀器聯用的技術，如氣相色譜-離子阱質譜聯用儀（GC-ITMS）
離子譜法的測定原理和應用
本法適用于生活飲用水及其水源水中鈉和鉀、鋰、鈣和鎂的測定。水樣中陽離子Li+?,Na+?,NH4+,K+?,Mg2+和Ca2+?,隨鹽酸淋洗液進入陽離子分離柱,根據離子交換樹脂對各陽離子的不同親合程度進行分離。經分離后的各組分流經抑制系統,將強電解質的淋洗液轉換為弱電解溶液,降低了背景電導。流經電導
離子阱質譜的應用
利用離子阱作為分析器的質譜儀稱為離子阱質譜儀。使用最多的是由高頻率電場進行離子封閉的保羅阱。由一個雙曲面截面的環形電極和上下一對端電極構成。封閉在真空池內的離子，通過高頻電壓掃描，將離子按m/z從池中引出進行檢測。? 離子阱質譜儀是一種低分辨時間可以進行msn的測定。而且價格比其它類型的串聯質譜
飛行時間二次離子質譜共享
儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6
飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次
離子遷移譜和質譜的區別
離子遷移譜和質譜有相同之處，也有不同之處。都要先對目標物離子化，所以都有離子源；最終經過分離、檢測的都是離子，檢測器基本也一樣；都是既可以檢測正離子也可以檢測負離子（+/-模式）。不同的是離子分離的原理：離子遷移利用離子的淌度不同分離離子，在離子遷移管中完成，離子的淌度與離子的電荷數、離子的體積大小
離子色譜質譜聯用技術獨特的原理和優勢
超強離子分離，更多色譜信息——基于離子交換的分離原理離子色譜主要使用離子交換的分離原理，和常規液相色譜主要基于疏水吸附的反相分離原理形成互補，可以很好分離常規液相色譜難以分離的強極性可電離物質。即使是基于親水相互作用的HILIC色譜，可以分離強極性物質，但也難以分離強電離物質。不同技術對復雜代謝物組