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1.做TEM測試時樣品的厚度最厚是多少 ?TEM的樣品厚度最好小于100nm，太厚了電子束不易透過，分析效果不好。2.請問樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在SEM圖片上有各有什么明顯的特征？在SEM圖片中，沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開，且晶粒晶界明顯；穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中展開，晶粒晶界都較模糊。3.做TEM測試時樣品有什么要求？很簡單，只要不含水分就行。如果樣品為溶液，則樣品需要滴在一定的基板上（如玻璃），然后干燥，再噴碳就可以了。如果樣品本身導電就無需噴碳。4.水溶液中的納米粒子如何做TEM？透射電鏡樣品必須在高真空中下檢測，水溶液中的納米粒子不能直接測。一般用一個微柵或銅網，把樣品撈起來，然后放在樣品預抽器中，烘干即可放入電鏡里面測試。如果樣品的尺寸很小，只有幾個納米，選用無孔的碳膜來撈樣品即可。5.粉末狀樣品怎么做TEM？掃描電鏡測試中粉末樣品的制備多采用雙面膠干法制樣，和選用合適的溶液超聲波濕法制樣。分散劑在掃......閱讀全文
國際微觀分析儀器領導廠商EDAX公司，于2012年3月發布了最新的微觀分析產品TEAMTM PEGASUS系統。該產品集成了EDAX公司世界一流的能譜儀(EDS)和電子背散射衍射(EBSD)的硬件系統和EDAX公司廣受歡迎的最先進的TEAMTM 軟件系統，是EDAX公司下一代智
美國EDAX公司是國際知名的微觀分析產品生產商，在能量色散X-射線能譜分析(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)和微束X-射線熒光分析(μ- XRF)領域擁有全球領先的技術，一直為半導體、金屬、地質、醫藥、生物、材料和陶瓷等市場的一流企業提供產品和服務。 2012年4月10日至13日，
2011年1月17日，由北京理化分析測試技術學會和北京電鏡學會主辦的2010年北京電鏡年會在北京天文館4D科普劇場隆重召開。本次年會以推動北京及周邊省市廣大電子顯微學
2012年12月17日，北京天文館，2012年度北京市電子顯微學年會隆重召開，年會由北京市電鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦。 旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來
1.美國Xenemetrix（能量色散） 美國Xenemetrix在過去30年內一直是能量色散X射線熒光光譜分析方面的領先創新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年經驗和專業知識的頂峰設計，該儀器占地面積少、性能優越。強大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射線熒光
分析測試百科網訊 2018年12月18日，2018年度北京市電子顯微學年會在北京市天文館隆重召開。此次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。本次會議共有200余人出席。分析測試百科網作為支持媒體為您帶來全程報道
2013年12月24日， 2013年度北京市電子顯微學年會（電鏡年會）在北京天文館隆重召開，年會由北京市電鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦。本次會議以推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、
目的:應用計算機輔助設計和快速成型技術預制個體化鈦修復體修復下頜角缺損,為該方法在臨床的廣泛應用提供實驗基礎和初步的臨床經驗。方法:在動物實驗研究部分,我們將16只小型豬均分為兩組,制作了小型豬下頜角缺損的動物模型(A組8只小型豬行左側下頜角截骨術,B組8只小型豬行雙側下頜角截骨術)。根據術前、術后
透射電鏡的相關知識 19世紀電磁學得到了空前的發展，與此同時，電氣照明引起了人們濃厚的興趣。在低壓氣體放電方面，人們發現其放電時出現一種奇特的現象-陰極射線，在人們圍繞其波動還是粒子本性爭論時，1898年，J.J. Thomason 用磁場偏轉法等一系列實驗證明其是帶電的粒子，這標志著電子的
用EDAX結合掃描電鏡（SEM）分析了無堿MgO-ZnO-Al2O3-ZrO2-SiO2玻璃堿侵蝕過程中表面層成分的變化,研究了各種實驗條件（如激發電壓、計數時間,配合指數等）的影響,并測定了侵蝕層厚度。結果表明激發電壓時分析結果有重大影響,而計數時間與配合指數與分析結果關系不大。在低的激發電壓下取
本文提出了一種利用EDAX PV9900能譜儀半定量分析（SUPQ）中的峰背擬合（INTE）功能來正確識別X射線能譜重疊峰的可行方法,并以Ag-SnO2-In2O3合金材料為試樣給出了幾則應用實例和相應的實驗結果。初步研究表明,該方法結合定性分析（EDAX）中的譜線識別（ID）功能可正確識別兩峰能量
主要包括X射線光電子能譜XPS和俄歇電子能譜法AES（1）X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射線光電子能譜(XPS )就是用X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激而發射出來，測量這些光電子的能量分布，從而獲得所需的信息。隨著
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2018第九屆中國納博會將于10月24-26日在蘇州工業園區盛大召開，“分析與檢測”是其重要的展覽范圍，同期還將舉辦“分析檢測應用論壇”。 據了解，此次“分析檢測應用論壇”由中科院蘇州納米所測試分析平臺和勝科納米（蘇州）有限公司聯合主辦，旨在促進高精尖儀器在納米技術和芯片領域分析檢測的應用，解
對于電子薄膜材料研究,薄膜的微觀結構、成分和厚度是決定薄膜性能的一個關鍵因素。如何表征薄膜的微觀結構、成分和厚度也一直是薄膜研究領域的一個重要課題,尤其是應用無損表征方法。掃描電子顯微鏡配備X射線能譜儀分析技術（電子探針能譜）能夠觀察微觀形貌和分析薄膜的微區成分的同時,根據電子束的穿透深度可測量薄膜
1938 年德國的阿登納制成了第一臺掃描電子顯微鏡，1965 年英國制造出第一臺作為商品用的掃描電子顯微鏡，使掃描電子顯微鏡進入實用階段。近 20 年來，掃描電子顯微鏡發展迅速，多功能的分析掃描電鏡（即掃描電鏡帶上能譜儀、波譜儀、熒光儀等）既能做超微結構研究，又能做超微結構分析，既能做定性、定量分析
1984年3月5日至9日在美國大西洋城(Atlantic City)召開了有關分析化學的匹茲堡會議和展覽會(Pittsburgh Conference and Exposition)。當時筆者正在美國,有機會參觀了該展覽會,著重觀看了和電子顯微鏡配接的X射線能譜儀。會上展出了TN 5500、KEVE
本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EM專利程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分
氣溶膠是大氣環境的重要組成部分,其成分比較復雜,并隨來源的不同而異,而對人體健康的影響則決定于其粒度,結構和組成。本文提供了一種以玻璃態石墨為襯底,對氣溶膠顆粒直接進行掃描電鏡觀察(JSM—35C型)和X射線能譜分析(EDAX—9100型)的方法。通過對承德地區氣溶膠顆粒的觀察和分析,發現小于1μm
本文通過在EM400T透射電鏡上用一些標準成分的樣品進行薄膜無標樣成份分析實驗,檢驗了EDAX9100能譜儀的分析準確度。在本試驗所用的樣品范圍內,其準確度為:近鄰元素同一X光線系分析相對誤差為5～10％,非近鄰元素不同線系分析相時誤差較大,可達20～50％。試驗證明在分析元素的質量吸收系數之差Δμ
含鈧擴散陰極具有極其優異的低溫高電流密度的電子發射的能力,是目前唯一能滿足新型電子器件發展要求的熱陰極材料。但含鈧擴散陰極存在發射均勻性不好、抗離子轟擊性差以及價格昂貴等因素的制約而沒有獲得廣泛的應用。本論文首次制備了復合稀土Eu2O3-Sc2O3、Y2O3-Sc2O3摻雜的鎢粉,通過粉末壓制、燒結
前言如果要分析材料微區成分元素種類與含量，往往有多種方法，其打能譜就是我們最常用的手段中打能譜。能譜具有操作簡單、分析速度快以及結果直觀等特點，最重要的是其價格相比于高大上的電鏡來說更為低廉，因此能譜也成為了目前電鏡的標配。今天新能源前線團隊專門搜集了有關能譜（EDS）的各種問題，匯總成文，希望能給
本文利用EM400T透射電子顯微鏡和EDAX9100能譜儀研究微量元素在晶界的偏聚。通過本文采用的電子束直徑小到40A的微探針,低背底樣品臺,沿晶界拉長束斑,分段積分等措施,明顯地提高了分析靈敏度。用這種方法測量了含磷820ppm的Si-Mn高強度鋼和含鎂94ppm的GH169高溫合金中P和Mg的晶
納博會分析測試應用研討會二度降臨什么樣？——專訪主辦方“勝科納米”副總經理李曉東 距離2019年第十屆“納博會”開幕還有114天的時間，相關主辦和參展單位正緊鑼密鼓的為此準備著。近日我們有幸拜訪到了去年第九屆中國國際納米技術產業博覽會同期召開的“首屆納博會分析測試應用研討會”的主辦方——勝
掃描電鏡一種新型的多功能的，用途最為廣泛的電子光學儀器。數十年來，掃描電鏡已廣泛地應用在生物學、醫學、冶金學等學科的領域中，促進了各有關學科的發展。關鍵詞：掃描電鏡;應用1938 年德國的阿登納制成了第一臺掃描電子顯微鏡，1965 年英國制造出第一臺作為商品用的掃描電鏡，使掃描電鏡進入實用階段。近
使用掃描電鏡（SEM）、X射線能譜分析（EDAX）和X射線衍射分析（XRD）對給水管網中灰口鑄鐵管和焊接鋼管上的管內壁腐蝕管垢進行外觀特征、微觀形態、化學元素組成和化合物構成等物理化學特征分析。發現管垢外部平滑而致密,內部為疏松多孔結構。鐵是管垢最重要的化學組成,管垢基本上由各種含鐵的化合物組成。焊
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
納博會檢測、分析、研討，怎么能少的了您的身影？ 遙想納博當年，大會初辦了，群情激昂！小納清晰的記得，2018年第九屆納博會，同期舉辦的第一屆“納博會分析測試應用研討會”，得到了Thermo fisher、Bruker、牛津儀器、leical、日立、Zeiss、Tescan、PHI、EDAX
親愛的用戶： 第十四屆北京分析測試學術報告會既展覽會(BCEIA 2011)即將于10月12-15日在北京召開。美國阿美特克旗下子公司Grabner Instruments，Spectro Instruments，CAMECA，EDAX，Solartron Instruments將攜手
本文提出了一種用EDAX PV9900能譜儀半定量分析(SUPQ)中的峰背擬合(INTE)功能來正確識別X射線能譜重疊峰的新方法。文章重點總介紹了該方法的基本原理和應用實例分析,給出了相應的實驗結果。