X光熒光分析的概述
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的能量可能遠大于γ射線，故X射線的波長范圍沒有嚴格的界限，對于X射線熒光分析而言，一般是指波長為0.001～50 nm的電磁輻射。對化學分析來說，最感興趣的波段是0.01～24 nm，0.01 nm附近是超鈾元素的K系譜線，24 nm則是最輕元素Li的K系譜線。 當原子受到X射線光子(初級X射線)或其他粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位時，原子內層電子便重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，同時發射出次級X射線光子，即X射線熒光：較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差j因此，X射線熒光的波長對不同元素是......閱讀全文
X光熒光分析的概述
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X光熒光分析的特點
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X光熒光分析的應用
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕
X光熒光分析的特點及應用
特點 1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃
X熒光鈣鐵分析儀概述
X熒光鈣鐵分析儀是一種微機化的新型臺式分析儀器，主要用于水泥生料，煤矸石，磚坯料中CaO、 Fe2O3百分含量的快速（30秒）定量分析。它根據元素特征射線的X熒光能量色散原理，采用低能小功率X光管激發（不用放射源）、正比計數管探測、核電子學及微機等組成，采用先進的物理測量方法，符合節能、環保、安
帶電粒子激發X熒光分析的概述
簡稱PIXE,它應用的帶電粒子可以是質子、α粒子或重離子，目前使用最多的是質子。它是用加速器（常用靜電加速器產生的幾兆電子伏能量的質子束轟擊樣品，質子使樣品中各元素原子的內層電子電離，接著較外層的電子向內層躍遷,同時發射X射線。由于各種元素發射具有特定波長（或能量）的標識X射線,可利用鋰漂移硅探
概述x光機的物理效應
物理效應 1．穿透作用 穿透作用是指X射線通過物質時不被吸收的能力。X射線能穿透一般可見光所不能透過的物質。可見光因其波長較長，光子其有的能量很小，當射到物體上時，一部分被反射，大部分為物質所吸收，不能透過物體；而X射線則不然，因其波長短，能量大，照在物質上時，僅一部分被物質所吸收，大部分經由
X射線熒光光譜分析概述
X射線熒光光譜分析（X?Ray?Fluorescence，XRF）是固體物質成分分析的常規檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。由于整體技術和分光晶體研制發展所限，早期的X射線熒光光譜儀檢測范圍較窄，靈敏度較差。隨著測角儀、計數器、光譜室溫度穩定等新技術的進步，使現代X射線熒光光譜儀的測量精密
概述X熒光分析儀的應用領域
鋼鐵行業：生鐵、爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石等。 水泥行業：生料、熟料、水泥、原材料等。 耐火材料:主要包括高硅質的粘土類、高鋁質的礬土類、高鎂質的鎂砂類、高鉻質類、各類剛玉等耐火材料。 有色行業：鋁廠各類樣品、鉛鋅礦、銅礦、錫礦、銀礦、鉬礦等。 電氣電子產品行業：針對RO
便攜式X光機的概述
便攜式X光機主要分為一體機和分體機兩類；一體機機長通常在50-70CM，機器設有手提設計，工作時置于平面上，機器兩端分別為發射與接受X射線，經過處理后由機器一段自帶的影像增強器觀測。對于部分高檔數字便攜式X光機通常可以進行AV視頻輸出或USB輸出連接電腦處理或連接打印機打印。此類一體機不使用時可
X射線熒光光譜分析的發展概述
20世紀80年代初期，商品X射線熒光光譜儀主要有波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)、能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)和以正比計數器為探測器的可攜式X射線熒光光譜儀(PXRF)。WDXRF譜儀的送樣系統和參數的設置已高度自動化，用戶根據待分析試樣的組成購買理論α系數表，用于校正基體中元素間的
概述熒光X射線測厚儀的應用范圍
－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍
X熒光光譜儀中X光管的壽命問題
?經常在網上看到大家討論X光管的壽命問題，實際上，可能每個人描述的都不是一件事情，因為X光管的功率不同，并且差別很大，從幾瓦到幾千瓦，各種功率X光管的設計壽命就相差很多。比如燈絲電流，50W的光管只要幾安培，400W的要將近10安培，2000W的要十幾安培，4000W的要幾十安培，那么對燈絲的消耗就
手持式X光熒光分析儀的五大特點
1、高速掃描測量 通過結合了大幅提高的微小區域X射線熒光分析靈敏度和高速電動平臺，能夠快速獲得二維掃描圖像。特別是強化了對線路板中鉛的掃描，配備了鉛掃描專用濾波器。讓1,000ppm以下無鉛焊錫中的鉛掃描變成簡單可行。 2、寬視野高清晰度光學系統 可獲得250mmx200mm的
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光光譜儀的概述
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X熒光光譜儀XRF的概述
是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分
概述熒光分析的分析方法
直接測定法 利用物質自身發射的熒光進行測定分析。 間接測定法 不管是直接測定，還是間接測定，一般的采用標準工作曲線法，取各種已知量的熒光物質，配成一系列的標準溶液，測定出這些標準溶液的熒光強度，然后給出熒光強度對標準溶液的濃度的工作曲線。在同樣的儀器條件下，測定未知樣品的熒光強度，然后從標
X射線熒光光譜儀概述
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜儀高壓發生器及X射線光管本身的故障分析
高壓發生器和X射線光管是儀器內最貴重的部件，一般不會出問題。檢查高壓發生器，可將高壓發生器打開，根據電路圖，檢查各個開關是否在正常位置，看一下保險絲有沒有熔斷，再進一步的檢查最好由專業維修工程師來做。X射線光管是個封閉的部件，一旦損壞，只能更換，不能修理。檢查X射線光管，可檢查X射線光管與高壓電
X光管的使用壽命分析
X光管有多種分類形式，按照封裝形式可分為玻璃封裝和金屬陶瓷封裝。玻璃封裝X光管，具有結構簡單價格低廉的優勢，功率一般較小，多用于熒光分析儀器。近些年隨著熒光分析儀器在中國的普及，越來越多的客戶開始關注玻璃封裝X光管的壽命問題。那么一個X光管到底能使用多長時間呢?最佳的回答是：“這得看情況而定”
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
電子激發X熒光分析的介紹
電子激發X熒光分析的軔致輻射本底比PIXE高二個量級以上，因此分析靈敏度低得多。但是，用聚焦的電子束激發樣品表面1微米的區域,使產生元素的特征X 射線，可以觀察樣品表面組成的局部變化。用這種方法能測定合金、礦物、陶瓷等樣品中的夾雜物和析出物，決定合金元素的局部富集區等。
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法
簡述X射線熒光分析的應用
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕