關于X射線熒光分析的分類介紹
1、根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。 2、根據激發方式的不同，X射線熒光分析儀可分為源激發和管激發兩種:用放射性同位素源發出的X射線作為原級X射線的X熒光分析儀稱為源激發儀器；用X射線發生器(又稱X光管)產生原級X射線的X熒光分析儀稱為管激發儀器。 就能量色散型儀器而言，根據選用探測器的不同，X射線熒光分析儀可分為半導體探測器和正比計數管兩種主要類型。 3、根據分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個別元素分析儀器。這種稱呼多用于能量色散型儀器。 在波長色散型儀器中，根據可同時分析元素的多少可分為，單道掃描X......閱讀全文
關于X射線熒光分析的分類介紹
1、根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長
X射線熒光分析技術分類
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
X射線熒光儀器的分類介紹
X射線熒光儀器根據能量分辨的原理不同，可分為波長色散型、能量色散X射線型和非色散型。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管作為激發源，產生入射X射線（一次X射線）用于激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線。由于不同的元素所放射出的二次
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
X射線熒光分析儀的主要分類
根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也X射線熒光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光分析的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
關于X射線熒光分析的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于X射線熒光分析的定量分析的介紹
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi（10.2） X射線熒光分析 X射線熒光分析 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些
關于熒光X射線的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于X射線熒光分析的理論基礎的介紹
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子
關于X射線熒光光譜的介紹
X射線熒光光譜(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，受激發的樣品中的每一種元素會放射出X射線熒光，并且不同的元素所放射出的X射線熒光具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來
X射線熒光分析技術相關介紹
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X射線熒光分析技術的相關介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射線熒光分析技術的應用介紹
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕
X射線熒光分析技術的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光分析儀的介紹
X射線熒光分析儀主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，兩類儀器也有顯著的區別。X射線熒光分析儀按其性能和應用范圍，可分為實驗室用的X射線熒光光譜儀
X射線熒光分析方法的優點介紹
①分析的元素范圍廣，除少數輕元素外，周期表中幾乎其他所有的元素都能進行分析。隨著儀器的改進，分析元素已經擴展到F，O，C等輕元素。 ②熒光X射線譜簡單，譜線干擾少，對于化學性質極其相似的元素，如稀土、鋯鉿、鉑系等，不需經過復雜的分離，就能成功地完成分析工作。 ③分析的濃度范圍較寬，從常量組分
X射線熒光光譜儀的分類介紹
根據X射線熒光的產生原理，一臺X射線熒光光譜儀在結構上主要由激發源、色散系統、探測系統等3部分組成。按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。下面主要介紹波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）的儀器結構
關于X射線熒光分析的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組
質子激發X射線熒光分析的X 射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
關于X射線熒光分析技術應用的誤區
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
關于X 射線熒光儀真空系統的介紹
真空系統是 X射線熒光光譜儀的重要組成部分。儀器工作時，光譜室被抽成真空狀態，以減少空氣對 X 射線的干擾，提高儀器的分辨率。 真空系統容易出問題的地方主要有 3 部分：真空泵、樣品室、光譜室。分析樣品時，在快門打開之前，真空泵是與樣品室相通的。當采用壓片法進行分析時，由于抽真空會使一部分
關于X射線管的基本分類介紹
按照產生電子的方式 ,X 射線管可分為充氣管和真空管兩類。 根據密封材質不同，可分為玻璃管、陶瓷管和金屬陶瓷管。 根據用途不同，可分為醫療 X 射線管和工業 X 射線管。 根據密封方式不同，可分為開放式 X 射線管和密閉式 X 射線管。開放式 X 射線管在使用過程中需要不斷抽真空。密閉式
X射線熒光分析所用儀器的組成介紹
X射線發生系統：產生初級高強X射線，用于激發樣品； 冷卻系統：用于冷卻產生大量熱的X射線管； 樣品傳輸系統：將放置在樣品盤中的樣品傳輸到測定位置； 分光檢測系統：把樣品產生的X射線熒光用分光元件和檢測器進行分光，檢測； 計數系統：統計，測量由檢測器測出的信號，同時也可以除去過強的信號和干
X射線熒光分析固體樣品的制備介紹
固體樣品包括粉末樣品、固體金屬和非金屬樣品、固體塊狀樣品。對于固體樣品，可以采取將其制成溶液后按液體樣品方式測定的方法，也可以直接以固體形態進行測定。而對于金屬樣品一般直接取樣分析。 粉末樣品制樣方式比較多，通常采取壓片法和熔融法。兩者各有優缺點，壓片法操作簡便快捷但是干擾嚴重，測量精密度和準
X射線熒光光譜儀分類的相關介紹
按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。 能量色散型x射線光譜儀 現代應用X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手