關于X射線熒光儀器的廣泛應用
我國XRF分析技術的建立始于20世紀50年代末60年代初。最近三十多年來，為滿足生產喝科研工作的需要，引進了眾多的一流XRF譜儀，制定了大量有效的試樣分析方法，有力地推動了我國X射線熒光光譜分析的發展。X射線經歷了幾十年的不斷探索、不斷進步，現已廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。例如，在某些國家和地區可能會存在許多有危險性的有毒金屬，如何快速判斷是否存在這些污染物并辨別其含量就可以利用到手持式X射線熒光分析儀。在農業方面，利用DELTA手持式XRF分析儀不僅可以快速探測出這些有毒金屬，還可以確定諸如鈣、鎂、磷、鉀等營養物質和肥料的存在，為農業的耕作提供了便利。......閱讀全文
關于X射線熒光儀器的廣泛應用
我國XRF分析技術的建立始于20世紀50年代末60年代初。最近三十多年來，為滿足生產喝科研工作的需要，引進了眾多的一流XRF譜儀，制定了大量有效的試樣分析方法，有力地推動了我國X射線熒光光譜分析的發展。X射線經歷了幾十年的不斷探索、不斷進步，現已廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生
X射線熒光光譜儀的廣泛應用
X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手段之一，各種與X射線熒光光譜相關的分析技術，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等，在痕量和超痕量分析中發揮著重要的作用。 X射線熒光光譜儀主要性能優勢： 1.集合
X射線熒光光譜儀的廣泛應用
X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析重要的技術手段之一，各種與X射線熒光光譜相關的分析技術，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等，在痕量和超痕量分析中發揮著重要的作用。 X射線熒光光譜儀主要性能優勢： 1.集合了多年
X射線熒光儀器的基本介紹
X射線熒光儀器（X Ray Fluorescence，XRF）又稱為X射線熒光光譜法，是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它是指根據原子在原級X射線或粒子的激發下發射出的次級的特征X射線（X射線熒光）的波長和長度，對元素進行定性和定量的分析方法。
X射線熒光儀器的分類介紹
X射線熒光儀器根據能量分辨的原理不同，可分為波長色散型、能量色散X射線型和非色散型。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管作為激發源，產生入射X射線（一次X射線）用于激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線。由于不同的元素所放射出的二次
X射線熒光儀器的歷史介紹
X射線熒光儀器是指波長為0.01~10nm的電磁波，1895年倫琴（W. C. Roentgen）在使用放電管工作時發現了X射線，因為這一個重大發現，倫琴于1901年獲得了諾貝爾獎。1913年莫斯萊（H. G. Moseley）建立了X射線波長與原子序數的關系，奠定了X射線熒光光譜分析的基礎，第
X射線熒光儀器的技術優點介紹
利用XRF，元素周期表中絕大部分元素均可測量。作為一種分析手段，XRF具有其優越的地方：分析速度快、非破壞分析、分析精密度高、制樣簡單等。波長色散和能量色散XRF光譜儀對元素的檢測范圍為10-5%~100%，對水樣的分析可達10-9數量級；全反射XRF的檢測限已達到10-9~10-12g。同時也
X射線熒光儀器分析誤差的來源
X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統計誤差來表示的，BX系列波長色散X射線熒光儀的穩定性和再現性，已足以保證待測樣品分析測量的精度，被分析樣品的制樣技術成為影響分析準確度的至關重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫將會反映在分析結果的質量上。X射線熒光儀器分析誤差的來源主要有以下幾
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
x射線熒光光譜儀 SPECTRO XEPOS的廣泛應用
斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術的飛躍。它提供突破性的進步multi-elemental分析專業,小,微量元素濃度。新發展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準確
X射線熒光儀器的使用形態有哪些？
XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素之內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出特征X光；不同的元素會放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟件系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用于元素分析和化
X射線熒光分析所用儀器的組成介紹
X射線發生系統：產生初級高強X射線，用于激發樣品； 冷卻系統：用于冷卻產生大量熱的X射線管； 樣品傳輸系統：將放置在樣品盤中的樣品傳輸到測定位置； 分光檢測系統：把樣品產生的X射線熒光用分光元件和檢測器進行分光，檢測； 計數系統：統計，測量由檢測器測出的信號，同時也可以除去過強的信號和干
X射線熒光的簡介和相關儀器介紹
通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫做X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線稱為原級X射線，所以X射線熒光光譜儀仍然屬于X射線范疇。一臺典型的X射線熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管主要負責產生入射X射線(一次X射線)，隨后該射線
關于熒光X射線的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于X射線熒光光譜的介紹
X射線熒光光譜(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，受激發的樣品中的每一種元素會放射出X射線熒光，并且不同的元素所放射出的X射線熒光具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來
關于X射線熒光分析的分類介紹
1、根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長
X射線熒光分析實驗所用的儀器介紹
根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長色散
質子激發X射線熒光分析的X 射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
關于X射線熒光分析的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于X射線熒光分析技術應用的誤區
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
關于X 射線熒光儀真空系統的介紹
真空系統是 X射線熒光光譜儀的重要組成部分。儀器工作時，光譜室被抽成真空狀態，以減少空氣對 X 射線的干擾，提高儀器的分辨率。 真空系統容易出問題的地方主要有 3 部分：真空泵、樣品室、光譜室。分析樣品時，在快門打開之前，真空泵是與樣品室相通的。當采用壓片法進行分析時，由于抽真空會使一部分
X射線異物檢測儀的廣泛應用
廣泛應用于機場、地鐵、博物館、大使館、海關車站、港口碼頭、旅游景點、工廠企業、及其他公共場所的重要部門。 主要用來檢測小件貨物、包裹、郵件、小型箱包、手提箱、拎包、背包等物件中所隱藏的違禁物品等。 廣泛應用于食品行業、醫藥行業、紡織行業。 精準地檢測出各種包裝產品中的異物，如金屬、玻璃、陶
x射線衍射、x熒光、直讀光譜3種儀器，都有哪些區別
一、直讀光譜儀采用原子發射光譜學的分析原理，樣品經過電弧或火花放電激發成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發后產生發射光譜，發射光譜經光導纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據每個元素發射波長范圍，通過光電管測量每個元素的最佳譜線，每種元素發射光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量，通過內部預制校正曲線
關于X 射線熒光儀檢測晶體的清洗介紹
晶體的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面鍍有 C，以防止晶體潮解，使用的時候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶體就容易損壞。另外，清洗時應該將晶體在容器洗液中來回晃動，一般不要擦拭。 晶體有很大的溫度系數，所以，反射角很大的元素將很容易受溫度影響。A
關于X射線熒光分析的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組
關于X 射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光的物理原理
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的
X射線熒光的物理原理
X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差
產生x射線熒光的原理
處于激發態的原子，要通過電子躍遷向較低的能態轉化，同時輻射出被照物質的特征X射線，這種由入射X射線激發出的特征X射線，稱為熒光X射線，此種輻射又稱為熒光輻射。當紫外光或波長較短的可見光照射到某些物質時，這些物質會發射出各種顏色和不同強度的可見光，而當光源停止照射時，這種光線隨之消失。這種在激發光誘導