物理所利用穩態強磁場實驗裝置開展鐵基超導材料研究
中國科學院物理研究所研究員邱祥岡課題組楊潤利用穩態強磁場實驗裝置——極低溫X射線衍射儀設備（LT-XRD），對鐵基超導材料Ca0.86Pr0.14Fe2As2進行了深入的研究，并取得了進展。 在高溫超導機制的探索過程中，電子關聯和磁性一直被認為會存在緊密的聯系。和銅基超導類似，在最近發現的臨界溫度TC高達55K的鐵基超導中，通過摻雜或壓力手段的調制，超導電性會在反鐵磁相的邊界處出現。但是，在鐵基超導的母體中，局域磁性比銅基材料中要強得多。因此，鐵磁超導材料是一個研究電子關聯、磁性、超導之間相互作用的理想體系。 楊潤利用穩態強磁場實驗裝置中的極低溫X射線衍射儀對鐵基超導材料Ca0.86Pr0.14Fe2As2進行了深入的研究。研究發現，除了超導轉變，該材料在73K左右表現出一個四方相（tetragonal）到坍塌四方相（collapsed tetragonal）的結構轉變，而在坍塌四方相中已經不存在體超導。同時，在坍塌四方......閱讀全文
介孔材料的小角度X射線衍射實驗條件研究
對有序結構的介孔材料進行小角度X射線衍射測試,結果表明:通過調整X射線衍射儀的光路系統,控制入射X射線和散射光的強度與覆蓋范圍,在常規實驗條件下不能獲得小角度衍射數據的樣品,也可獲得清晰的小角衍射數據。對于島津XRD7000型衍射儀,合適的狹縫系統為:發散狹縫0.1°,防散射狹縫0.1°,接收狹縫0
非金屬材料的X射線衍射技術內容
非金屬材料的X射線衍射技術可以分析材料合成結構、氧化物固相相轉變、電化學材料結構變化、納米材料摻雜、催化劑材料摻雜、晶體材料結構、金屬非金屬氧化膜、高分子材料結晶度、各種沉積物、揮發物、化學產物、氧化膜相分析、化學鍍電鍍層相分析等。
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
X射線衍射簡介
1912年，勞厄等人根據理論預見，證實了晶體材料中相距幾十到幾百皮米（pm）的原子是周期性排列的；這個周期排列的原子結構可以成為X射線衍射的“衍射光柵”；X射線具有波動特性， 是波長為幾十到幾百皮米的電磁波，并具有衍射的能力。??這一實驗成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時，
X射線衍射分析
XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，對樣品中各組分的存在形態進行分析。測定結晶情況，晶相，晶體結構及成鍵狀態等等。 可以確定各種晶態組分的結構和含量。靈敏度較低，一般只能測定樣品中含量在1%以上的物相，同時，定量測定的準確度也不高，一般在1%的數量級。XRD物相分析所需樣品量大（0.1g
X射線衍射分析
建立在X射線與晶體物質相遇時能發生衍射現象的基礎上的一種分析方法。應用這種方法可進行物相定性分析和定量分析、宏觀和微觀應力分析 ?。① 物相定性分析:每種晶體物相都有一定的衍射花樣，故可根據不同的衍射花樣鑒別出相應的物相類別。由于這種方法能確定被測物相的組成，在機械工程材料特別是金屬材料的研究中應用
X射線衍射儀
產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統
單晶射線衍射儀
單晶射線衍射儀是一種用于化學領域的分析儀器，于2004年1月1日啟用。 技術指標 額定功率:50kv 40mA。CCD探測器：62mm 4K CCD芯片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）測角儀:φ360o旋轉≤0.
物理所利用穩態強磁場實驗裝置開展鐵基超導材料研究
中國科學院物理研究所研究員邱祥岡課題組楊潤利用穩態強磁場實驗裝置——極低溫X射線衍射儀設備（LT-XRD），對鐵基超導材料Ca0.86Pr0.14Fe2As2進行了深入的研究，并取得了進展。 在高溫超導機制的探索過程中，電子關聯和磁性一直被認為會存在緊密的聯系。和銅基超導類似，在最近發現的臨界
物理所利用穩態強磁場實驗裝置開展鐵基超導材料研究
中國科學院物理研究所研究員邱祥岡課題組楊潤利用穩態強磁場實驗裝置——極低溫X射線衍射儀設備（LT-XRD），對鐵基超導材料Ca0.86Pr0.14Fe2As2進行了深入的研究，并取得了進展。 在高溫超導機制的探索過程中，電子關聯和磁性一直被認為會存在緊密的聯系。和銅基超導類似，在最近發現的臨界
七大材料結構分析方法二——X射線衍射分析
X射衍射線( XRD) 又稱X 射線物相分析法，X射線是一種具有衍射本領的高能電磁波。X射線衍射法是目前測定晶體結構的重要手段，應用極其廣泛。在實際的應用中將該分析方法分為多晶粉末法和單晶衍射法。多晶粉末法常用來測定立方晶系的晶體結構點陣形式、晶胞參數及簡單結構的原子坐標，還可以對固體式樣進行物
中子衍射在材料研究領域的應用
中子衍射技術是一種測量材料或工程部件內部的三維應力狀態的方法，在焊接、熱加工與熱處理過程中殘余應力測量方面有著廣泛的應用。
鐵基高溫超導材料研究取得重要進展
近日，中國科學技術大學合肥微尺度物質科學國家實驗室王征飛教授與美國猶他大學劉鋒教授，清華大學薛其坤院士、馬旭村研究員，中科院物理所周興江研究員合作，首次發現了鐵基高溫超導材料中的一種新型一維拓撲邊界態，該成果在線發表于《自然—材料》雜志。 自然界中至今還沒有發現拓撲超導材料，如何設計尋找拓撲超
X射線衍射的jianji
物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線衍射是最有效的、應用最廣泛的手段，而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分
多晶x射線衍射儀
主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等，因此，在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用，是理工科院校和材料研究、
X射線衍射及應用
1895年倫琴發現X射線.德國物理學家勞厄于1912年發現了X射線衍射現象,并導出了勞厄晶體衍射公式.緊接著,英國物理學家布拉格父子又將此衍射關系用簡單的布拉格定律表示,使之易于接受.到本世紀四、五十年代,X射線衍射的原理、方法及在各方面的應用雖已建立,其應用范圍已遍及物理、化學、地質學、生命科學,
X射線衍射的特點
波長短，穿透力強，可進行無損探傷檢測、透視、晶體結構表征、微觀應力測試等應用！
多晶X射線衍射儀
多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2008年7月1日啟用。 技術指標 ● X射線高壓發生器：最大功率：3kW，最大電壓：60kV，最大電流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大電壓：60kV，最大電流：55mA ● q/q 掃描模式，掃描范圍：0.
X射線衍射儀構造
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1）高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉
X射線衍射的特點
波長短，穿透力強，可進行無損探傷檢測、透視、晶體結構表征、微觀應力測試等應用！
X射線衍射技術簡介
物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線衍射是最有效的、應用最廣泛的手段，而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分析手
X射線衍射的應用
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面： 物相分析 物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中
X射線衍射的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。布拉格方程1913年英國物理學家
X射線衍射的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
X射線衍射儀原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
X射線衍射儀應用
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成
X射線衍射的特點
波長短，穿透力強，可進行無損探傷檢測、透視、晶體結構表征、微觀應力測試等應用！
超導材料怎么檢測？
判斷一個材料是超導體需要兩個條件,一是零電阻現象,二是完全抗磁性。以下是一些常用的方法來檢測超導材料及其性質：電阻測量： 最基本的超導性質是在超導態下電阻消失。通過在超導材料上施加電流并測量電阻，可以判斷材料是否處于超導態。磁化率測量： 超導材料在超導態下會排斥磁場，表現出邁斯納效應。通過測量材料在