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    TEM粉末樣品的制備

    粉末樣品的制備1.選擇高質量的微柵網(直徑3mm),這是關系到能否拍攝出高質量高分辨電鏡照片的第一步;(注:高質量的微柵網目前本實驗室還不能制備,是外購的,價格20元/只;普通碳膜銅網免費提供使用。)2.用鑷子小心取出微柵網,將膜面朝上(在燈光下觀察顯示有光澤的面,即膜面),輕輕平放在白色濾紙上;3.取適量的粉末和乙醇分別加入小燒杯,進行超聲振蕩10~30min,過3~5 min后,用玻璃毛細管吸取粉末和乙醇的均勻混合液,然后滴2~3滴該混合液體到微柵網上(如粉末是黑色,則當微柵網周圍的白色濾紙表面變得微黑,此時便適中。滴得太多,則粉末分散不開,不利于觀察,同時粉末掉入電鏡的幾率大增,嚴重影響電鏡的使用壽命;滴得太少,則對電鏡觀察不利,難以找到實驗所要求粉末顆粒。建議由老師制備或在老師指導下制備。)4.等15 min以上,以便乙醇盡量揮發完畢;否則將樣品裝上樣品臺插入電鏡,將影響電鏡的真空。......閱讀全文

    2449.8萬!這所高校發布采購建設分析測試中心平臺

      分析測試百科網訊 近日,海南省教學儀器設備招標中心受招標人海南大學委托,采購場發射透射電子顯微鏡、基質輔助激光解析電離串聯飛行時間質譜儀、納米噴霧干燥儀、石英晶體微天平、多功能樣品前處理平臺、熱重-紅外圖像-氣質聯用原位反應系統、顯微傅里葉變換紅外光譜儀+光聲光譜檢測器、差示掃描量熱

    高分辨TEM答疑

      1.TEM-EDS與XPS測試時采樣深度的差別?   XPS采樣深度為2-5nm,我想知道EDS采樣深度大約1um。  2.Z襯度像是利用STEM的高角度暗場探測器成像,即HAADF。能否利用普通ADF得到Z襯度像?  原子分辨率STEM并不是HAADF的專利,ADF或明場探頭也可以做到,只是可

    中科院海洋研究所594萬采購Cryo-SEM冷凍型場發射掃描電鏡

      分析測試百科網訊 近日,中國科學院海洋研究所深海資源保藏與開發平臺之冷凍型場發射掃描電鏡采購項目(項目編號:OITC-G190311595)進行公開招標,用于各種樣本表面的微觀形貌的高分辨觀察,在真空及低溫條件下實現生物、材料等含水樣品的冷凍制備(冷凍斷裂、升華刻蝕、濺射鍍膜)、樣品傳輸和電鏡低

    金屬和合金微觀分析常用技術盤點

      一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性:一個是它的化學成分,另一個是它內部的組織結構。所以,對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求,也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析

    透射電鏡(TEM)、掃面電鏡(SEM)測試常見問題20問

      1.做TEM測試時樣品的厚度最厚是多少?  TEM的樣品厚度最好小于100nm,太厚了電子束不易透過,分析效果不好。   2.請問樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在SEM圖片上有各有什么明顯的特征?   在SEM圖片中,沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開,且晶粒晶界明顯;穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中

    聚合酞菁鐵/多壁碳納米管復合材料的制備及氧還原催化

    李志盼, 彭迎祥, 楊士鋒, 張搖 瑞, 李搖 凱, 左搖 霞(首都師范大學化學系, 北京 100048)摘要搖 采用高效、 便捷的微波合成法制備了 4 種不同結構的聚合酞菁鐵/ 多壁碳納米管(Poly鄄FePc/MWCNTs)復合材料并進行了表征. 結果表明, 聚合酞菁鐵均勻地包裹在多壁碳納米管上

    拉曼問題匯總:拉曼光譜百問解答總結!

    拉曼光譜(Raman Spectra),是一種散射光譜。拉曼光譜分析法是基于印度科學家C.V.拉曼(Raman)所發現的拉曼散射效應,對與入射光頻率不同的散射光譜進行分析以得到分子振動、轉動方面信息,并應用于分子結構研究的一種分析方法。今天分享一些問答集錦,希望對你有幫助。一、測試了一些樣品,得到的

    從樣品制備到實際操作,手把手教你拍出高質量TEM照片

    透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,TEM)具有很高的分辨率和放大倍數高,廣泛應用于材料科學、地球科學、醫學和生命科學等領域。透射電子顯微鏡結合不同的附件(X射線能譜分析(EDS)、電子能量損失譜(EELS)),可以同時提供形貌、成分、結構信息,它可以揭

    納米材料的粒度分析

    1. 粒度分析的概念    大部分固體材料均是由各種形狀不同的顆粒構造而成,因此,細微顆粒材料的形狀和大小對材料結構和性能具有重要的影響。尤其對于納米材料,其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用。因此,對納米材料的顆粒大小、形狀的表征和控制具有重要的意義

    XRD和TEM在樣品物象上表征的區別

      樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個方面。物相分析一般使用 X-射線粉末衍射儀(XRD)和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區域,可能產生較大的統計誤差。晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念,在多數情況下

    “顆粒粒徑分析方法”匯總大全

    一、相關概念:       1、粒度與粒徑:顆粒的大小稱為粒度,一般顆粒的大小又以直徑表示,故也稱為粒徑。       2、粒度分布:用一定方法反映出一系列不同粒徑區間顆粒分別占試樣總量的百分比稱為粒度分布。 

    有圖有真相 圍觀別人家的先進材料實驗室

      分析測試百科網訊 明亮的落地玻璃窗,琳瑯滿目的儀器設備,嚴肅認真的研究人員穿梭忙碌。這是分析測試百科小編對復旦大學先進材料實驗室的第一印象。  復旦大學先進材料實驗室是教育部“985工程”二期重點建設項目之一,于2005年4月成立,通過物理、化學、生物、材料、信息、

    追隨諾貝爾足跡——2017年北京市電子顯微學年會在京召開

      2017年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開。  分析測試百科網訊2017年12月19日,2017年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開,本次會議年會由北京市電鏡學會、北京理化分析測試技術學會主辦,旨在推動北京及周邊地區廣大電子顯微學的學術及技術水平,促進電子顯微學工作者在材料科學,生命科

    原子力顯微鏡使用分析

    實驗概要了解原子力顯微鏡的基本結構和原理。掌握原子力顯微鏡對固體和粉末樣品的要求及制作方法。掌握原子力顯微鏡使用方法。實驗原理原子力顯微鏡的優點是:有較高的放大倍數,20-20萬倍之間連續可調;有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;試樣制備簡單。1. 儀器結

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    XRD、TEM、AFM表征粒徑的方式及異同

      晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念,在多數情況下納米粒子是由多個完美排列的晶粒組成的)的晶相和大小,雖然也可通過更強的場發射透鏡(HRTEM)得到,但是機器昂貴、操作復雜,所以實驗室一般使用X射線粉末衍射儀。  XRD、TEM、AFM在表征粒徑大小方面各有優勢,我們將分別從原理和應用來

    藥物晶型的分析方法介紹

    藥物晶型的分析方法介紹審評五部審評十室 李志萬周藝光搜集物質在結晶時由于受各種因素影響,使分子內或分子間鍵合方式發生改變,致使分子或原子在晶格空間排列不同,形成不同的晶體結構。同一物質具有兩種或兩種以上的空間排列和晶胞參數,形成多種晶型的現象稱為多晶現象(polymorphism)。雖然在一

    快速了解紙狀xrd樣品制備

      對于樣品的準備工作,必須有足夠的重視。常常由于急于要看到衍射圖,或舍不得花必要的功夫而馬虎地準備樣品,這樣常會給實驗數據帶入顯著的誤差甚至無法解釋,造成混亂。  準備衍射儀用的樣品試片一般包括兩個步驟:  首先,需把樣品研磨成適合衍射實驗用的粉末;  然后,把樣品粉末制成有一個十分平整平面的試片

    新技術,真應用——第10次華北五省電鏡研討會的饕餮盛宴

      分析測試百科網訊 2018年7月22日,第十次華北五省市電子顯微學研討會及2018年全國實驗室協作服務交流會在山東省煙臺市舉行。本次會議由華北五省電子顯微鏡學會主辦,北京理化分析測試技術學會協辦。此次會議旨在推動華北五省市電子顯微分析技術的發展,促進電子顯微分析工作者的學術交流,加強實驗室資源共

    掃描電子顯微鏡樣品要求及制備 (一) - 常規樣品制備

    樣品制備對掃描電鏡觀察來說也至關重要,樣品如果制備不好可能會對觀察效果有重大影響。通常希望觀察的樣品有盡可能好的導電性,否則會引起荷電現象,導致電鏡無法進行正常觀察;另外樣品還需要有較好的導熱性,否則轟擊點位置溫度升高,使得試樣中的低熔點組分揮發,形成輻照損傷,影響真實的形貌觀察。如果要進行EDS/

    連續斷層3D重構中的超薄切片制備

    當需要以納米級分辨率觀察樣品超微結構時,科學家通常借助電子顯微鏡(觀察表面結構的掃描電鏡 SEM 和觀察內部結構的透射電鏡 TEM)——它們是當前科研界可使用的最大顯微成像工具。電鏡成像要求對樣品進行通常 20-150 nm的超薄切片,使用超薄切片機切割的切片厚度薄、表面平整、光滑且無人為干

    材料科學公共平臺工作流程的主要改進

    分析、斷層掃描、樣品制備和數據完整性得到提升圖片由 Bruce W. Arey 和 Andrew R. Felmy提供  德國耶拿,2019年7月24日,蔡司推出了新功能,在分析、斷層掃描、樣品制備和數據整合方面均得到了提升。這為工程材料、能源材料、軟材料和地球科學的研究帶來了新的可能性,順應了增材

    創新先鋒 | 蔡司開啟離子顯微鏡新篇章

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    聚焦離子束顯微鏡FIB都有哪些功能?

    聚焦離子束顯微鏡FIB主要用途: 芯片的電路修補、斷面切割、透射電鏡樣品制備。聚焦離子束顯微鏡FIB應用范圍: 1.定點切割 2.穿透式電子顯微鏡試片 3.IC線路修補和布局驗證 4.制程上異常觀察分析 5.晶相特性觀察分析 6.故障位置定位用被動電壓反差分析。在各類應用中,以線路修補和布局驗證這一

    第9次華北五省市電鏡會在呼倫貝爾召開 新技術層出不窮

      分析測試百科網訊 2016年7月23日,由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會組織的“第九次華北五省市電子顯微學研討會及2016年全國實驗室協作服務交流會”在內蒙古呼倫貝爾市召開。會議囊括了透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析、掃描探針顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡等在材料、生命科學、

    2013年度北京電子顯微學年會大會報告(一)

      2013年12月24日, 2013年度北京市電子顯微學年會在北京天文館隆重召開,會上,來自中科院、北京大學、北京工業大學、北京建筑大學、鋼鐵研究總院等多位專家學者帶來了關于電鏡在教學科研、納米材料、生物醫藥、探傷等方面應用的精彩報告,科揚、FEI、蔡司、布魯克、牛津

    固相微萃取纖維的制備及在有機氯農藥檢測中的應用

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    經典材料分析七種方法:成分,光譜,質譜 ,能譜

      材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段,也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析,從認識材料的分析儀器著手。  成分分析簡介  成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析,通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么,幫助您對樣品進行定性定量

    常用材料測試方法總結

    成分分析:  成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同,又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。  體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析,其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方

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