光電直讀光譜儀分析的誤差分析
在計算機、光電技術等的推動和支持下，光電直讀光譜儀分析憑借其操作簡單、準確度高、分析面廣、速度較快等優勢逐漸成為分析材料化學成分的主要方法。可是在具體實踐中，其易受儀器、環境、人為等干擾致使測量結果與材料實際成分不一致，或者多次測量結果不一致，因此研究其分析誤差并予以有效解決，以提高分析結果的準確性十分必要。1、 光電直讀光譜儀分析的誤差分析光電直讀光譜儀是指基于金屬試樣與電極之間發生的電弧或電火花放電，對其生成的輝線光譜予以光電測定，進而實現定量元素含量的分析方法。相對而言，其有著速度快、靈敏度高、便于操作、分析范圍廣、誤差小以及自動化程度高的顯著優勢，故冶金鑄造、金屬機械加工、建筑材料、石油化工等諸多領域均有所涉及。但光電直讀光譜儀分析在實際使用中，所得分析結果與元素真實含量可能存在一定的誤差，具體分析如下：1.1 系統誤差分析系統誤差即在試驗條件一定的情況下，因單個或若干個因素以一定的規律發生作用而引發的誤差，該值越小，分......閱讀全文
光電直讀光譜儀分析的誤差分析
在計算機、光電技術等的推動和支持下，光電直讀光譜儀分析憑借其操作簡單、準確度高、分析面廣、速度較快等優勢逐漸成為分析材料化學成分的主要方法。可是在具體實踐中，其易受儀器、環境、人為等干擾致使測量結果與材料實際成分不一致，或者多次測量結果不一致，因此研究其分析誤差并予以有效解決，以提高分析結果的準確性
如何縮小光電直讀光譜儀分析的誤差
一、實踐證明，為了保證分析結果的準確，在日常工作中，應選擇佳的分析條件。? ? 1、選擇佳的室內溫度條件、濕度條件和好的氬氣純度。? ? 2、選擇予沖洗、予燃、積分時間。? ? 3、選擇光源的放電參數。? ? 4、輔助電極的加工和清理。? ? 5、日常的標準化工作。標準樣品工作。? ? 6、后的測光
光電直讀光譜儀的工作原理及誤差分析
隨著科技水平的不斷提升，進行光譜分析的儀器也在不斷的變化，目前比較先進的儀器就是光電直讀光譜儀。目前，光電直讀光譜儀被廣泛應用到金屬材料的光譜分析中，在化學材料領域發揮著重大的作用。一、光電直讀光譜儀的工作原理當光照射到材料上的時候，就會使材料的基礎分子結構中的電子發生變化，從而改變材料對于光的反應
如何縮小光電直讀光譜儀分析的誤差？
一、實踐證明，為了保證分析結果的準確，在日常工作中，應選擇最佳的分析條件。?1、選擇最佳的室內溫度條件、濕度條件和最好的氬氣純度。?2、選擇予沖洗、予燃、積分時間。?3、選擇光源的放電參數。?4、輔助電極的加工和清理。5、日常的標準化工作。標準樣品工作。?6、最后的測光精度。二、誤差主要原因：1、氬
光電直讀光譜儀使用中誤差分析及消除對策
0前言? 在人們對產品質量要求的不斷提高下，為了提高檢測的精度，縮短檢測的時間，在目前對不銹鋼成分的檢測當中，應用了光電直讀光譜儀來代替傳統的化學檢測方法，但是在檢測的過程中，對由于測試的方法、環境和測試人員的水平問題，使檢測結果產生一定的誤差，在這樣的情況下，需要對其中誤差產生的原因進行分析
光電直讀光譜儀的誤差來源
光電直讀光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時，所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類來源，那么根據誤差的性質及產生原因，誤差可分為下面幾種： 1、系統誤差的來源 (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不完
光電直讀光譜儀分析的缺陷
光電直讀光譜儀分析的缺陷有以下幾點。(1)由于使用出射狹縫，因此不能利用波長相近的譜線。(2)由于使用出射狹縫，PMT接收譜線的同時，還接收背景(采用BKG 175．7nm背景通道，可扣除背景的影響)。(3)出射狹縫的位置固定，分析的元素受到限制，對分析任務的變化需更改通道，選擇另外的出射狹縫。(4
光電直讀光譜儀分析的方法
1、內標法 ? ? ?直讀光譜儀定量分析，一般都用內標法。但在光電直讀光譜儀分析時，要安裝許多內標元素通道是很困難的，因此采用同一內標線。分析時常以樣品中的基體作為內標元素。所以內標線即為基體元素的一條譜線。當激發光源有波動時，組成分析線對的兩條譜線的強度雖然有變化，但強度比或相對強度能保持不變。如
直讀光譜儀分析的允許誤差
每個通道的誤差范圍都是不一樣，這主要取決于所測樣品元素的含量，各個廠家都有自己的通道誤差表，如果不是特別嚴格的要求，可以遵循以下要求：短期穩定性（同一樣品連續激發10次）RSD≤2%長期穩定性（同一樣品在4小時內，每半小時測1次）RSD≤5%
引起光電直讀光譜儀誤差的原因
引起光電直讀光譜儀誤差的原因：? ? 一、系統誤差? ? 1、標樣和試樣中的含量和化學構成不完全一樣時，能夠惹起基體線和剖析線的強度改動，然后引入誤差。? ? 2、標樣和試樣的物理功能不完全一樣時，激起的特征譜線會有差異然后發作系統誤差。? ? 3、澆注形態的鋼樣與經由退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓形
光電直讀光譜儀有哪些分析方法？
直讀光譜儀定量分析，一般都用內標法。但在光電直讀光譜儀分析時，要安裝許多內標元素通道是很困難的，因此采用同一內標線。分析時常以樣品中的基體作為內標元素。所以內標線即為基體元素的一條譜線。當激發光源有波動時，組成分析線對的兩條譜線的強度雖然有變化，但強度比或相對強度能保持不變。如以R表示強度比，即：?
光電直讀光譜儀的工作原理分析如下
光電直讀光譜儀又被稱為火花源原子發射光譜儀，所采用的原理是用火花的高溫使樣品中各元素從固態直接氣化并被激發而發射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，照射在對應的光電倍增管光陰極上，光信號變成電信號，經儀器的控制測量系統將電信號積分并進行模
直讀光譜儀分析的允許誤差是多少
每個通道的誤差范圍都是不一樣,這主要取決于所測樣品元素的含量,各個廠家都有自己的通道誤差表,如果不是特別嚴格的要求,可以遵循以下要求短期穩定性（同一樣品連續激發10次）RSD≤2%長期穩定性（同一樣品在4小時內,每半小時測1次）RSD≤5%每個通道的誤差范圍都是不一樣,這主要取決于所測樣品元素的含量
試論光電直讀光譜儀的工作原理及誤差
引言由于我國材料技術的發展，工業企業對材料化學成分的控制要求越來越高，而傳統化學分析方法速度慢、分析范圍小，極大地制約了材料技術的發展，而光電直讀光譜儀具有速度快、準確度高、操作簡單、分析范圍廣等優點，是化學分析方法無法比擬的。因此，逐漸受到廣大用戶的歡迎。1光電直讀光譜儀概述1.1光電直讀光譜儀的
光電直讀光譜儀和火花直讀光譜儀
其實說的是同一類儀器，只是命名出發點不同。1. 光電的意思就是通過光電轉換的原理采集每個元素所發出的不同譜線，根據強度及波長確定含量的元素性質。2. 火花的意思是從對激發來考慮的，要分析各個元素的譜線，那么譜線哪里產生呢，就是通過電火花對金屬表面進行激發才產生，因為能量躍遷的原理，每個元素才會發出相
光電直讀光譜儀可用于快速定量分析
光電直讀光譜儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。廣泛應用于冶金、機械及其他工業部門，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產品檢驗，是控制產品質量的有效手段之一。可以用于多種基體分析：Al,Pb,Mg,Zn,Sn,Fe,Co,Ni,Ti,Cu等，共五十多種元素。?一、光電直讀光譜儀工作
如何確保光電直讀光譜儀分析數據的準確性
1.前言通常說的直讀光譜儀是指同時式光電直讀光譜儀。這表示當組成樣品的原子受外部能量激發時，儀器可同時測量樣品發射出的光中多條譜線強度。被分析的光大約位于150至800nm的波長范圍內。因此光電直讀光譜儀具有一次分析元素多、分析范圍廣、分析速度快、操作方便且檢出限低、精確度高的優點，故被廣泛應用于冶
光電直讀光譜儀分析時對被檢測樣品的要求
光電直讀光譜儀分析時對被檢測樣品有什么要求?應該如何制樣? 為了獲得準確的分析結果，要求樣品： 1、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 2、樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發孔隙； 3、樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質，也不能用手摸； 制樣要求：一般情況下，
直讀光譜儀誤差來源
直讀光譜儀誤差來源有：?1）標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。 2）標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。3）澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數據會有所
光電直讀光譜儀的發展
火花源光電直讀原子發射光譜儀，通常簡稱為光電直讀光譜儀，主要由激發光源、分光系統、信號測量轉換系統等三大部分組成。世界上第一臺商品化光電直讀光譜儀于1946年問世，我國于1965年引進第一臺光電直讀光譜儀用于鋼鐵分析。如今，光電直讀光譜分析已成為一項成熟的分析技術，具有樣品處理簡單、分析速度快、分析
光電直讀光譜儀的選取
光電直讀光譜儀一般是由制造廠家根據用戶的分析任務在出廠前調整好的。儀器上的通道數量、分析元素的含量范圍、分析線和內標線的選擇等，調整好以后，都是固定的。選擇儀器應注意以下事項：(1)光源發生器的選擇為進行多種樣品和元素的分析，需要各種發生器。同時測定多種元素時，根據測定范圍選一種激發方法。火花光源比
光電直讀光譜儀的組成
1．光源發生器光電光譜分析使用的光源發生器有火花發生器、電弧發生器和低壓電容放電發生器等。?2．光源的電極架部分用于裝載塊狀試樣、棒狀試樣和對電極。塊狀電極架一般能裝直徑20mm以上的平面試樣，有的使用各種樣品夾具能兼用于裝棒狀試樣、小型試樣和薄板試樣。在真空光電光譜儀中，光源電極架具有使用氬氣氣氛
直讀光譜儀的誤差來源
光電直讀光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進行分析。根據誤差的性質及產生原因， 誤差可分為系統誤差、偶然誤差、過失誤差及其他誤差等。 1.系統誤差
直讀光譜儀分析的誤差的性質及其產生的原因有哪些
1。系統誤差也叫可測誤差，它是由于分析過程中某些經常發生的比較固定的原因所造成的，它是可以通過測量而確定的誤差。通常系統誤差偏向一方，或偏高，或偏低。例如光譜標樣，經過足夠多次測量，發現分析結果平均值與該標樣證書上的含量值始終有一差距，這就產生一個固定誤差即系統誤差，系統誤差可以看作是對測定值的校
光電直讀光譜儀安裝指南
安裝條件1、 擺放位置?儀器及相關附屬設備所需空間和zui佳擺放位置，為方便維護，儀器和墻之間的距離應至少在500mm以上?2、供電需求?光譜儀基本配電要求為交流供電220V， 三線，單相， 50 Hz， 無電磁干擾，輸入電流為16安培。 建議配備16安培保護斷路器，裝配在儀器附近。 (電壓不能超過
光電直讀光譜儀相對強度
一條曲線重新采集強度后，應用到曲線的是什么強度？相對強度是怎樣計算的？(1) 光電直讀光譜儀測定標樣一般都采用分析線和內標線的強度比，即“相對強度”，測光后由軟件自動計算出結果。一般儀器測光后打印出的“光強”數據，如果無特別說明，都是“相對強度”。(2) 發射光譜分析中的譜線線對的“相對強度”計算公
光電直讀光譜儀應用現狀
1 光電直讀光譜儀的發展光譜起源于17世紀，1666年物理學家牛頓第一次進行了光的色散試驗。1814年，德國光學儀器專家夫朗和費研究太陽光譜中黑斑的相對位置時，繪制除了光譜圖。1859年，克希霍夫和本生為了研究金屬光譜，發明制造了一種完善的分光裝置，即世界第一臺光譜儀器，可用于研究火焰、電火花中各種
光電直讀光譜儀光譜法快速分析－QFe2.5－的－Pb
利用光電直讀光譜儀分析快速、準確的特點，建立分析程序，制作工作曲線，滿足了QFe2.5?中元素的快速分析要求，結果穩定，效果理想。? ? ?銅及銅合金zui主要的用途是利用其優良的導電性，在電傳輸方面具有舉足輕重的作用。高強高導銅合金主要用于大規模集成電路用引線框架封裝材料等，其良好的高強高
光電直讀光譜儀的功能介紹
光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。
光電直讀光譜儀的技術特點
在工業生產中，由于光電直讀光譜儀分析費用節省，分析速度快，分析結果可靠，已被廣泛采用。它具有以下優點。(1)用光電直讀光譜儀做分析，可使用的譜線波長范圍較寬。這個范圍由光電倍增管的性能決定。例如，用石英窗孔的PMT，加上光譜儀的光學系統置于真空中，可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的