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X射線光電子能譜儀 X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如AlKa=1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能(B.E)。 設備組成 光電子能譜儀主要由激發源、電子能量分析器、探測電子的檢測器和真空系統等幾個部分組成。 工作原理 由激發源發出的具有一定能量的x射線、電子束、紫外光、離子束或中子束作用于樣品表面時，可將樣品表面原子中不同能級的電子激發出來，產生光電子或俄歇電子等，這些自由電子帶有樣品表面信息，并具有特征動能，通過能量分析收集和研究它們的能量分布，經檢測記錄電子信號強度和電子嫩倆的關系曲線，即為光電子能譜。 X射線光電子能譜儀的應用......閱讀全文
電子顯微技術以及電子能譜技術已成為材料表征特別是定量分析的重要工具。作為這些技術的物理基礎,電子與固體相互作用的研究對定量解釋實驗電子顯微成像或電子能譜起著至關重要的作用,成為凝聚態物理研究的一個非常重要的研究領域。本論文分別采用經典Monte Carlo方法、波動力學方法和玻姆力學方法,從不同角度
電子顯微技術以及電子能譜技術已成為材料表征特別是定量分析的重要工具。作為這些技術的物理基礎,電子與固體相互作用的研究對定量解釋實驗電子顯微成像或電子能譜起著至關重要的作用,成為凝聚態物理研究的一個非常重要的研究領域。本論文分別采用經典Monte Carlo方法、波動力學方法和玻姆力學方法,從不同角度
根據所采用的激發源的不同，電子能譜分析主要可分為以下兩大類：一是以光電子能譜（簡稱PES）；二是電子束作激發源去照射樣品，測量樣品所發射出的俄歇電子能量，稱為俄歇電子能譜（簡稱AES）。1、光電子能譜以一定能量的X射線或光（如紫外光）照射固體表面時，被束縛于原子各種深度的量子化能級上的電子被激發而產
最近幾十年隨著納米材料研究的興起與發展,材料表面與其所處的環境相互作用所導致的表面性質越來越吸引研究者的目光。一大批專門表征材料表面的分析手段被發明,而對這些表面分析手段的進一步研究,逐漸成為物理領域中的一個重要分支-表面分析科學。在表面分析領域的種種表征手段中,表面電子能譜分析技術應用相當廣泛。表
第一章固體的光學性質作為材料的重要基本物理性質之一,一直是各個尺度材料性質的研究熱點。固體的光學常數,一方面反映了材料對外界宏觀電場的響應,聯結了外場E和局域電場Eloc的數學關系。另一方面,固體光學常數在不同波段的響應特性包含了固體豐富的微觀量子態信息,比如作用于紅外區間的光子-聲子、電子-電子聲
拉曼光譜的原理及應用 拉曼光譜由于近幾年來以下幾項技術的集中發展而有了更廣泛的應用。這些技術是：CCD檢測系統在近紅外區域的高靈敏性，體積小而功率大的二極管激光器，與激發激光及信號過濾整合的光纖探頭。這些產品連同高口徑短焦距的分光光度計，提供了低熒光本底而高質量的拉曼光譜以
表面分析方法表面分析方法有數十種，常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析，其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及場離子顯微鏡分析等。離子探針分析離子探針分析，又稱離子探針顯微分析。它是利用電子光學方法將某些惰性氣體或氧的離子加速并聚
拉曼光譜的原理及應用 拉曼光譜由于近幾年來以下幾項技術的集中發展而有了更廣泛的應用。這些技術是：CCD檢測系統在近紅外區域的高靈敏性，體積小而功率大的二極管激光器，與激發激光及信號過濾整合的光纖探頭。這些產品連同高口徑短焦距的分光光度計，提供了低熒光本底而高質量的拉曼光譜以及體積小、容易使用的
電子能譜分析方法是20世紀70年代以來迅速發展起來的表面成分分析方法。這種方法是對用光子（電磁輻射）或粒子（電子、離子、原子等）照射或轟擊材料（原子、分子或固體）產生的電子能譜進行分析的方法。其中俄歇電子能譜、光電子能譜、X射線光電子能譜和紫外光電子能譜等對樣品表面的淺層元素的組成能給出比較精確的分
對于電子薄膜材料研究,薄膜的微觀結構、成分和厚度是決定薄膜性能的一個關鍵因素。如何表征薄膜的微觀結構、成分和厚度也一直是薄膜研究領域的一個重要課題,尤其是應用無損表征方法。掃描電子顯微鏡配備X射線能譜儀分析技術（電子探針能譜）能夠觀察微觀形貌和分析薄膜的微區成分的同時,根據電子束的穿透深度可測量薄膜
紅外光譜的原理及應用 (一)紅外吸收光譜的定義及產生 分子的振動能量比轉動能量大，當發生振動能級躍遷時，不可避免地伴隨有轉動能級的躍遷，所以無法測量純粹的振動光譜，而只能得到分子的振動-轉動光譜，這種光譜稱為紅外吸收光譜 紅外吸收光譜也是一種分子吸收光譜。當樣品受到頻率連續變化的紅外光照射
6月16日，清華大學電子能譜實驗室及電子顯微鏡實驗室被科技部正式批準為國家大型科學儀器中心。其中，以納米掃描俄歇系統為核心儀器，依托清華建設的能譜中心正式命名為北京電子能譜中心;以300kV配有物鏡球差矯正器的場發射槍分析型透射電子顯微鏡為核心、依托清華建設的電子顯微鏡中心正式命名為北京電子顯微鏡中
薄膜材料在現代材料技術中應用廣泛。光學鍍膜技術中,經常在特定的襯底上沉積一層薄膜,可以改善材料的物理化學性質。許多工業和技術設備都需要覆蓋具有特定化學性質的薄膜,薄膜材料具有許多獨特的光學與電學性質,這些性質和薄膜本身的制作工藝有關,同時也與薄膜的厚度密切有關。因此,表征納米量級的薄膜厚度具有十分重
文章闡述了二次電子發射能譜的基本概念,介紹了兩種比較常規的二次電子發射能譜測試方法,以及國內外比較具有代表性的二次電子發射能譜的測試設備。詳細地闡述了當前Vaughan模型和Furman模型并對兩個模型進行了詳細的比較分析,總結了各自的優勢與不足。研究表明二次電子發射能譜在二次電子發射研究領域具有非
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜
電子能譜技術廣泛用于固體表面元素分析、化學環境分析及形貌測量等,在表面物理研究中發揮著重要的作用。近年來,對單個納米粒子的等離激元激發和單個生物大分子的激發能譜等研究均需要具有一定空間分辨能力的表面電子能譜測量(或表面譜學成像)技術。雖然現階段快速發展的掃描透射電子顯微鏡(Scanning Tran
(三)X射線光電子能譜法的應用 (1)元素定性分析 各種元素都有它的特征的電子結合能，因此，在能譜圖中就出現特征譜線，可以根據這些譜線在能譜圖中的位置來鑒定周期表中除H和He以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素。 (2)元
俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出
分析測試百科網訊 2018年5月11日，由清華大學研發實驗服務基地主辦，首都科技條件平臺檢測與認證領域中心、首都科技條件平臺能源環保領域中心、首都科技條件平臺軍民融合領域中心、北京師范大學研發實驗服務基地、北京航空航天大學研發實驗服務基地、首都科技條件平臺昌平工作站、亦莊工作站和順義工作站等協辦
暗物質粒子探測衛星“悟空”（DAMPE）團隊日前在北京發布首批科學成果。首席科學家常進宣布，“悟空”衛星在軌運行的前530天共采集了約28億顆高能宇宙射線，其中包含約150萬顆25GeV以上的電子宇宙射線。基于這些數據，科研人員成功獲取了目前國際上精度最高的電子宇宙射線能譜。該能譜將有助于發現暗
蕙質蘭心 勤思敏行 ——記國家大型科學儀器中心—北京電子能譜中心副主任姚文清 “景昃鳴禽集，水木湛清華。”美麗的清華園作為中國乃至亞洲最著名的高等學府之一，在長達百年的辦學歷史中，培育出了眾多精英，為我國的建設發展做出了不可磨滅的貢獻。筆者眼前這位優雅從容、學識淵博的女性高級工程師姚文清，正
實驗采用同步輻射光源作為激發光源。分別測定室溫和低溫條件下，能量范圍60-200eV同步輻射光源激發一價貴金屬多晶Cu、Ag樣品的s、p、d電子所得的光電子能譜。采用能量為650eV同步輻射光源激發多晶Au樣品s、p、d以及f電子所得的光電子能譜。運用origin繪圖軟件畫出結合能與相對強度的圖像，
實驗采用同步輻射光源作為激發光源。分別測定室溫和低溫條件下，能量范圍60-200eV同步輻射光源激發一價貴金屬多晶Cu、Ag樣品的s、p、d電子所得的光電子能譜。采用能量為650eV同步輻射光源激發多晶Au樣品s、p、d以及f電子所得的光電子能譜。運用origin繪圖軟件畫出結合能與相對強度的圖像，
暗物質探測又有了新的進展。倫敦時間11月29日，《自然》雜志在線發表了中國科學家的一項研究成果：利用“悟空”衛星獲得了世界上最精確的高能電子宇宙射線能譜，這將對判定能量低于1TeV（1TeV=1萬億電子伏特）的電子宇宙射線是否來自于暗物質起到關鍵作用，并有可能為暗物質的存在提供新證據。 暗物質
隨著納米結構材料的廣泛應用,新型微納尺度表征技術成為納米科學技術的重要組成部分。發展在納米尺度下的各種檢測與表征手段,以用于觀測納米結構材料的原子、電子結構,和測量各種納米結構的力、電、光、磁等特性,日益引起人們的重視。針對目前廣泛使用的各種光子譜技術、X射線衍射和精細吸收譜、高分辨的電子顯微術等技
暗物質粒子探測衛星“悟空”的研制團隊17日宣布,鑒于衛星目前運行狀態依然良好、關鍵科學數據仍在累積,衛星科研團隊已與各保障部門商定,讓“悟空”延長兩年工作時間。 暗物質衛星“悟空”是我國首顆天文衛星。到12月17日,衛星發射已滿3年,達到預期使用壽命。截至這一日,“悟空”已在500公里外的太陽
隨著科學技術的不斷發展,人們正在尋求更新的實用材料.金屬氧化物,包括金屬氧化物薄膜的各種實用材料,在工業界、信息產業界和能源開發等方面的應用前景,早已引起國內外學者的極大關注.例如,由于氧化物具有各種特殊的介電和光學性質,研究和開發基于氧化物薄膜的氣敏材料非常熱門.如何制備出有實用價值的各種薄膜材料
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
掃描隧道顯微鏡(STM)已經成為表面科學中一種極其重要的測量分析手段,用于對固體表面形貌的測量以及費米面附近電子態的探測。然而STM在能譜測量方面的不足限制了它在固體表面微區元素分析及能譜譜學成像方面的應用,將STM與電子能譜技術相結合組建掃描探針電子能譜儀(SPEES)是解決這個問題的一種方案。本