光切顯微鏡的功能介紹
光切顯微鏡是采用光切法原理測量被測工件表面的微觀平面幅度的顯微鏡。所謂光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微觀平面度的輪廓顯現出來，從而對其進行測量。測量對象除金屬表面外，還可對紙張、木材、塑料等非金屬材料表面進行測量。......閱讀全文
光切顯微鏡的功能介紹
光切顯微鏡是采用光切法原理測量被測工件表面的微觀平面幅度的顯微鏡。所謂光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微觀平面度的輪廓顯現出來，從而對其進行測量。測量對象除金屬表面外，還可對紙張、木材、塑料等非金屬材料表面進行測量。
光切顯微鏡的功能介紹
光切顯微鏡是采用光切法原理測量被測工件表面的微觀平面幅度的顯微鏡。所謂光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微觀平面度的輪廓顯現出來，從而對其進行測量。測量對象除金屬表面外，還可對紙張、木材、塑料等非金屬材料表面進行測量。
光切顯微鏡的功能及特點
光切顯微鏡是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切顯微鏡特點：光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的，是一種間接測量方法，即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。?
光切顯微鏡的功能及特點
光切顯微鏡是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切顯微鏡特點：光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的，是一種間接測量方法，即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
光切顯微鏡原理
儀器是采用光切法測量被測表面的微觀平面幅度 ，其工作原理，如下所示。
光切顯微鏡的基本結構
光切顯微鏡由基座、立柱、橫臂、移動工作臺、顯微鏡主體和測微目鏡等組成。其外形結構如圖6-11所示。
光切顯微鏡的基本結構
光切顯微鏡由基座、立柱、橫臂、移動工作臺、顯微鏡主體和測微目鏡等組成。其外形結構如圖6-11所示。?[2]?
光切顯微鏡的簡介和原理
簡介： 光切顯微鏡是采用光切法原理測量被測工件表面的微觀平面幅度的顯微鏡。所謂光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微觀平面度的輪廓顯現出來，從而對其進行測量。測量對象除金屬表面外，還可對紙張、木材、塑料等非金屬材料表面進行測量。 功能特點： 光切顯微鏡是以光切法測量零件加工表面的微觀不
光切法顯微鏡維修和保養
光切法顯微鏡系精密光學儀器，為維持儀器的原有精度和延長儀器的使用壽命，保證測量工作的順利進行，故對儀器必須細心的保養和使用。1.儀器使用和安放地點須避免灰塵、潮濕、過冷、過熱及酸堿性的氣體。2.儀器使用環境要求：室內溫度15-25℃，濕度45%-85%。3． 平時儀器不用時，應有保護罩蓋住，并放置干
光切法顯微鏡維修和保養
光切法顯微鏡系精密光學儀器，為維持儀器的原有精度和延長儀器的使用壽命，保證測量工作的順利進行，故對儀器必須細心的保養和使用。 1、儀器使用和安放地點須避免灰塵、潮濕、過冷、過熱及酸堿性的氣體。 2、儀器使用環境要求：室內溫度15-25℃，濕度45%-85%。 3、平時儀器不用時，應有保護罩
光切法顯微鏡使用方法
（一）光切法顯微鏡可用測微目鏡測出表面平面度平均高度值RZ，按國家標準，平面度平均高度值RZ與表面粗糙度級別的關系如表1所示。表 1平面度平均高度值RZ/μm相當于原精度等級50-100325-50412.5-2556.3-12.566.373.281.69在測量時，所測量的表面范圍不少于五個波峰。
光切法顯微鏡維修和保養
光切法顯微鏡系精密光學儀器，為維持儀器的原有精度和延長儀器的使用壽命，保證測量工作的順利進行，故對儀器必須細心的保養和使用。1.儀器使用和安放地點須避免灰塵、潮濕、過冷、過熱及酸堿性的氣體。2.儀器使用環境要求：室內溫度15-25℃，濕度45%-85%。3． 平時儀器不用時，應有保護罩蓋住，并放置干
光切法顯微鏡使用方法
（一）光切法顯微鏡可用測微目鏡測出表面平面度平均高度值RZ，按國家標準，平面度平均高度值RZ與表面粗糙度級別的關系如表1所示。表 1平面度平均高度值RZ/μm相當于原精度等級50-100325-50412.5-2556.3-12.566.373.281.69在測量時，所測量的表面范圍不少于五個波峰。
光切顯微鏡的工作原理和種類
光切顯微鏡以光切法工作原理測量表面粗糙度的輪廓峰高和谷深，其測量范圍為1.0μm～80μm。用光帶剖切表面獲得截面輪廓曲線的方法稱為光切法。將一條細窄的光帶(狹縫)以45°傾斜角投影到被測表面上，光帶與表面相截的交線便反映出被測表面的微觀不平度輪廓形狀。這條光帶影像，可以從對應于投影光帶軸線的反射方
光切顯微鏡的工作原理和種類
光切顯微鏡以光切法工作原理測量表面粗糙度的輪廓峰高和谷深，其測量范圍為1.0μm～80μm。用光帶剖切表面獲得截面輪廓曲線的方法稱為光切法。將一條細窄的光帶(狹縫)以45°傾斜角投影到被測表面上，光帶與表面相截的交線便反映出被測表面的微觀不平度輪廓形狀。這條光帶影像，可以從對應于投影光帶軸線的反射方
紅外光顯微鏡的功能介紹
紅外光顯微鏡是一種利用波長在800nm到20μm范圍內的紅外光作為像的形成者，用來觀察某些不透明物體的顯微鏡。這種顯微鏡在生物學中的用途遠遠比不上紫外光顯微鏡。
紫外光顯微鏡的功能介紹
紫外光顯微鏡 ultraviolet microscope 最初是為了提高光學顯微鏡的辨晰力由A．Kh-ler所創研制的儀器，而繼之以顯微分光光度計在細胞化學上對核酸局部部位的檢驗和定量時使用。由于辨晰力與光的波長成反比，因此可以使用從超高壓水銀燈或鹵素燈射出的短波紫外光，光學系統包括載玻片在內，皆
紫外光顯微鏡的功能介紹
紫外光顯微鏡 ultraviolet microscope 最初是為了提高光學顯微鏡的辨晰力由A．Kh-ler所創研制的儀器，而繼之以顯微分光光度計在細胞化學上對核酸局部部位的檢驗和定量時使用。由于辨晰力與光的波長成反比，因此可以使用從超高壓水銀燈或鹵素燈射出的短波紫外光，光學系統包括載玻片在內，皆
簡介光切法顯微鏡使用方法
（一）光切法顯微鏡可用測微目鏡測出表面平面度平均高度值RZ 在測量時，所測量的表面范圍不少于五個波峰。 為使測量能正確迅速地進行，要求按表1內所列的數據選擇物鏡。 （二）被檢工作物的安放和顯微鏡調焦 1．被檢工件放在工作臺上時，測量表面之加工紋路應與顯微鏡光軸平面平行，即與狹縫像垂直。并
光切法的原理
光切法是利用光切原理來測量表面粗糙度的一種測量方法，常用儀器是光切顯微鏡（又稱雙管顯微鏡）。
光切法的概念
光切法是利用光切原理來測量表面粗糙度的一種測量方法，常用儀器是光切顯微鏡（又稱雙管顯微鏡）。
紅外光顯微鏡的功能用途介紹
紅外光顯微鏡是一種利用波長在800nm到20μm范圍內的紅外光作為像的形成者，用來觀察某些不透明物體的顯微鏡。這種顯微鏡在生物學中的用途遠遠比不上紫外光顯微鏡。
腎功能檢測項目偏振光顯微鏡檢查介紹
偏振光顯微鏡檢查介紹： 偏振光顯微鏡檢查是一項用于檢查尿道功能是否正常的輔助檢查方法。在光學顯微鏡的光學系統中插入了起偏振鏡和檢偏振器，用以檢查樣品的各向異性和雙折射性的顯微鏡。起偏振鏡和檢偏振器都是由偏光棱鏡或偏光板的尼科耳(nicol)棱鏡制成。前者安裝在光源與樣品之間，后者安裝在接物鏡與接目
光彈性儀的功能介紹
中文名稱光彈性儀英文名稱photoelasticimeter定 義使線偏振光或圓偏振光通過處于應力狀態下的試件，觀察或攝取所獲得的應力干涉條紋來判斷試件受力狀態的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），物理光學儀器（三級學科）
光介質材料的功能介紹
光介質材料是傳輸光線的材料。入射的光線經過折射、反射會改變光線的方向、位相和偏振態；還可經過吸收或散射改變光線的強度和光譜成分。傳統上常把光學材料限定為晶態（光學晶體）、非晶態（光學玻璃）、有機化合物（光學塑料）。
旋光儀的功能介紹
旋光儀(Polarimeter)是測定旋光性物質旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測量，可以分析確定物質的濃度、含量及純度等。自然光通過起偏鏡后產生平面偏振光，如果旋光管中盛裝的為旋光性物質，當偏振光通過該物質溶液時，偏振光的角度會向左或向右旋轉一定角度，這時，為了讓旋轉一定角度后的偏振光能通過檢偏鏡
光彈性儀的功能介紹
中文名稱光彈性儀英文名稱photoelasticimeter定 義使線偏振光或圓偏振光通過處于應力狀態下的試件，觀察或攝取所獲得的應力干涉條紋來判斷試件受力狀態的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），物理光學儀器（三級學科）
平行光管的功能介紹
平行光管主要是用來產生平行光束的光學儀器，是裝校調整光學儀器的重要工具，也是光學量度儀器中的重要組成部分。
光調制技術的功能介紹
光調制技術就是將一個攜帶信息的信號疊加到載波光波上的一種調制技術。光調制能夠使光波的某些參數如振幅、頻率、相位、偏振狀態和持續時間等按一定的規律發生變化。其中實現光調制的裝置稱為光調制器。
旋光儀的功能介紹
旋光儀(Polarimeter)是測定旋光性物質旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測量，可以分析確定物質的濃度、含量及純度等。自然光通過起偏鏡后產生平面偏振光，如果旋光管中盛裝的為旋光性物質，當偏振光通過該物質溶液時，偏振光的角度會向左或向右旋轉一定角度，這時，為了讓旋轉一定角度后的偏振光能通過檢偏鏡