能譜儀的功能介紹
來自樣品的X光子通過鈹窗口進入鋰漂移硅固態檢測器。每個X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內產生電子空穴對。不同能量的X光子將產生不同的電子空穴對數。例如，Fe的Kα輻射可產生1685個電子空穴對，而Cu為2110。知道了電子空穴對數就可以求出相應的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高度分析器中的數模轉換器首先把脈沖信號轉換成數字信號，建立起電壓脈沖幅值與道址的對應關系（道址號與X光子能量間存在對應關系）。常用的X光子能量范圍在0.2-20.48keV，如果總道址數為1024，那么每個道址對應的能量范圍是20eV。X光子能量低的對應道址號小，高的對應道址號大。根據不同道址上記錄的X光子的數目，就可以確定各種元素的X射線強度。它是作為測量樣品中各元素相對含量的信息。然后，在X-Y記錄儀或陰極射線管上把脈沖數與脈沖高度曲線顯示出來，這就是X光子的能譜曲線。......閱讀全文
X射線光電子能譜儀的介紹
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
X射線光電子能譜儀的介紹
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
X射線光電子能譜儀的介紹
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
關于能譜儀的優點簡介
分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和確定樣品中含有的所有元素，帶鈹窗口的探測器可探測的元素范圍為11Na~92U，20世紀80年代推向市場的新型窗口材料可使能譜儀能夠分析Be以上的輕元素,探測元素的范圍為4Be~92U。 靈敏度高 X射線收
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
簡述能譜儀的性質指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好 檢出角：理論上該角度越大越好 探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器 能量分辨力：最高級別的能譜儀分辨力可達121eV 探測元素范圍：Be4～U92
關于電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
能譜儀的測試原理簡介
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
能譜儀有哪些缺點？
(1)能量分辨率低,峰背比低。 由于能譜儀的探頭直接對著樣品，所以由背散射電子或X射線所激發產生的熒光X射線信號也被同時檢測到，從而使得Si(Li)檢測器檢測到的特征譜線在強度提高的同時，背底也相應提高,譜線的重疊現象嚴重。故儀器分辨不同能量特征X射線的能力變差。能譜儀的能量分辨率(130eV
俄歇電子能譜儀
俄歇電子能譜儀（Auger Electron Spectroscopy，AES），作為一種最廣泛使用的分析方法而顯露頭角。這種方法的優點是：在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高；數據分析速度快；能探測周期表上He以后的所有元素。雖然最初俄歇電子能譜單純作為一種研究手段，但現在它已成為常規分析
能譜儀使用范圍
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
牛津儀器超級能譜儀
近日，牛津儀器成功為西安交大、上海科技大學、中國科技大學、華為4家單位安裝調試了最新的超級能譜儀Extreme，取得到了客戶的一致好評。 Extreme超級能譜儀擁有獨到的設計，可以滿足在極低加速電壓下工作的需要，實現10nm左右空間分辨率的能力，是納米材料、薄膜材料分析的利器。 同
能譜儀和波譜儀區別
剛剛學了這個，希望對同學你有用。波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，能譜儀有以下優點：1、分析速度快 2、靈敏度高 3、譜線重復性好。缺點：
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
XPS能譜儀XPS譜圖分析技術
在XPS譜圖中,包含極其豐富的信息,從中可以得到樣品的化學組成,元素的化學狀態及其各元素的相對含量。XPS譜圖分為兩類,一類是寬譜(wide)。當用AlKα或MgKα輻照時,結合能的掃描范圍常在0-1200eV或?0-1000eV。在寬譜中,幾乎包括了除氫和氦元素以外的所有元素的主要特征能量的光電子
俄歇電子能譜儀樣品的尺寸的相關介紹
俄歇電子能譜儀對分析樣品有特定的要求,在通常情況下只能分析固體導電樣品。經過特殊處理,絕緣體固體也可以進行分析。粉體樣品原則上不能進行俄歇電子能譜分析,但經特殊制樣處理也可以進行分析。由于涉及到樣品在真空中的傳遞和放置,所以待分析樣品一般都需要經過一定的預處理。 樣品的尺寸 在實驗過程中,樣
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
關于俄歇電子能譜儀離子槍的相關介紹
它由離子源和束聚焦透鏡等部分組成，有如下功能：①清潔試樣表面 用于分析的樣品要求十分清潔，在分析前常用 濺射離子槍對樣品進行表面清洗，以除去附著在樣品表面的污物；②逐層刻蝕試樣表面，進行試樣組成的深度剖面分析。一般采用差分式氬離子槍，即利用差壓抽氣使離子槍中氣體壓強比分析室高103倍左右。這樣當
簡介能譜儀的使用范圍
使用范圍 1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析； 2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定； 3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測； 4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域； 5、進行材
俄歇電子能譜儀的簡介
歐杰電子能譜術也稱俄歇電子能譜儀（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄
俄歇電子能譜儀的應用
近年來,俄歇電子能譜儀( AES) 在材料表面化學成分分析、表面元素定性和半定量分析、元素深度分布分析及微區分析方面嶄露頭角。AES 的優點是,在距表面 0.5 ～ 2nm 范圍內, 靈敏度高、分析速度快,能探測周期表上 He 以后的所有元素。最初,俄歇電子能譜儀主要用于研究工作 ,現已成為一種常規
XPS能譜儀氬離子束濺射技術介紹
為了清潔被污染的固體表面,在X射線光電子能譜分析中,常常利用離子槍發出的離子束對樣品表面進行濺射剝離,以清潔表面。利用離子束定量地剝離一定厚度的表面層,然后再用XPS分析表面成分,這樣就可以獲得元素成分沿深度方向的分布圖,這是離子束最重要的應用。作為深度分析的離子槍,一般采用0.5～5 KeV的Ar
能譜儀性能指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器能量分辨力：目前最高級別的能譜儀分辨力可達121eV探測元素范圍：Be4～U92
波譜儀和能譜儀工作原理
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。根據具體問題類型，進行步驟拆解／原因原理分析／內容拓展等。具體步驟如下：／導致這種情況的原
平插式能譜儀概述
平插式能譜儀是一種用于材料科學、礦山工程技術、能源科學技術領域的分析儀器，于2018年10月17日啟用。 技術指標 能量分辨率：MnKa優于127eV，主能譜儀在400,000CPS內MnKa始終優于127eV。元素分析范圍: B5～Cf98。譜峰穩定性：1,000cps到100,000cp
波譜儀和能譜儀工作原理
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。
俄歇電子能譜儀簡介
俄歇電子能譜儀（AugerElectronSpectroscopy，AES），作為一種最廣泛使用的分析方法而顯露頭角。這種方法的優點是：在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高；數據分析速度快；能探測周期表上He以后的所有元素。雖然最初俄歇電子能譜單純作為一種研究手段，但現在它已成為常規分析