新品發布|日立推出新型能量色散X射線熒光分析儀EA1280
日立分析儀器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，這是一款用于在中國測量環境有害物質的新型能量色散X射線熒光分析儀。 近年來，限制使用環境有害物質已變得普遍，且成為保護環境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規的出臺，包括制造商在內的很多公司都被要求控制其產品中包含的限制物質數量。 新型EA1280具有中國國家標準（GB標準）建議要求的檢測器分辨率，相比于Si -PIN二極管等其他半導體檢測器，其工作效率和分析準確度更高。尤其與其他分析方法相比，X射線熒光分析可提供快速、無損、簡單的元素分析，因此其持續多次用于RoHS合規性篩查中。 EA1280具有的特性 1. 使用新型高性能半導體檢測器（硅漂移檢測器（SDD）），便于提高測試工作效率和獲得更可靠結果。 2. 采用同軸光學器件進行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。 3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質量控制和過程......閱讀全文
日立推出新型能量色散X射線熒光分析儀EA1280
新品發布 日立分析儀器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，這是一款用于在中國測量環境有害物質的新型能量色散X射線熒光分析儀。 近年來，限制使用環境有害物質已變得普遍，且成為保護環境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規的出臺，包括制造商在內的很多公司都被要求控制其產品
新品發布－|－日立推出新型能量色散X射線熒光分析儀EA1280
日立分析儀器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，這是一款用于在中國測量環境有害物質的新型能量色散X射線熒光分析儀。 近年來，限制使用環境有害物質已變得普遍，且成為保護環境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規的出臺，包括制造商在內的很多公司都被要求控制其產品中包含的限制
日立X射線熒光光譜儀影響分析速度的因素
X-射線熒光光譜：作為一種比較分析技術，在較嚴格的條件下用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射特征X射線。這些特征X射線的能量對應于各特定元素，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。該發射特征X射線的過程稱為X射線熒光或XRF.?X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能
日立X射線熒光光譜儀影響分析速度的因素
X-射線熒光光譜：作為一種比較分析技術，在較嚴格的條件下用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射特征X射線。這些特征X射線的能量對應于各特定元素，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。該發射特征X射線的過程稱為X射線熒光或XRF.?X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能
日立X射線熒光光譜儀操作原理
X射線熒光光譜儀物理原理 當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的
日立X射線熒光光譜儀分析速度更快操作更簡單
X-射線熒光光譜：作為一種比較分析技術，在較嚴格的條件下用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射特征X射線。這些特征X射線的能量對應于各特定元素，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。該發射特征X射線的過程稱為X射線熒光或XRF. X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XR
日立X射線熒光光譜儀分析速度更快操作更簡單
X-射線熒光光譜：作為一種比較分析技術，在較嚴格的條件下用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射特征X射線。這些特征X射線的能量對應于各特定元素，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。該發射特征X射線的過程稱為X射線熒光或XRF.X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量
日立分析儀器推出FT210型X射線熒光測厚儀和最新版FT－Connect軟件
2023年12月，中國 — 日立分析儀器是日立高新技術公司旗下的全資子公司，主要從事分析和測量儀器的制造與銷售，通過推出 FT210 新型XRF鍍層測厚儀，日立分析儀器擴大了其鍍層和材料分析儀器產品系列。 FT210 包括用于常規測量普通電鍍的正比計數探測器，并集成先進且易于使用的功能，旨在增
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線熒光分析技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。 c) 根據各元素的特征X射線的強度，
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各
X射線熒光應用及分析
a)?X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。? ??b)?每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。????c)?根據各元素的特征X射線的強
簡述－X－射線熒光分析技術
X 射線熒光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為我國的相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。相對于其他分析方法（例如發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適
X射線熒光分析法
原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發現的一種電磁輻射，其波長為?0.01?～?10nm。在真空管內用電加熱燈絲（鎢絲陰極）產生大量熱電子，熱電子被高壓（萬伏）加速撞
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
X射線熒光分析技術分類
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
直讀光譜儀和X射線熒光分析儀器有什么不同
直讀光譜儀和X射線熒光均屬于發射光譜，不是你所說的吸收光譜，用小車推的屬于便攜式移動光譜儀，是直讀光譜儀的一種。直讀光譜儀主要分為立式、臺式、移動三種，分析穩定性和精度依次下降。X射線熒光主要分為波長、能量與便攜式三種，分析精度也是按照剛才的順序依次下降，功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
X射線熒光分析的技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法
X射線熒光分析的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
簡述X射線熒光分析的應用
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕
X射線熒光分析方法的簡介
X射線熒光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決于物質中原子的種類。因此，根據熒光X射線的波長就可確定物質的元素組分；再根據該熒光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，6