WIKI資訊
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其他分析方法(例如：發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等)比較而言，作為過程控制和檢測使用，氣相液相色譜儀特別適合用于各類相關生產企業，具有無需對樣品進行特別的化學處理，以及方便、測量成本低、快速等明顯優勢。 X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素......閱讀全文
“科技考古”是20世紀中期出現的一個新的考古學派，利用自然科學和考古學的理論、方法和手段，分析研究古代實物遺存，獲取豐富的“潛”信息，以探索人與自然的關系以及古代人類社會歷史的科學。 考古學是依據古代物質遺留以了解古代人類行為與當時社會文化的學問，分析研究古代遺跡，獲取其豐富的潛在信息，探索
X射線熒光光譜儀(XRF) XRF指的是X射線熒光光譜儀，可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。從不同的角度來觀察描述X射線，可將XRF分為能量散射型X射線熒光光譜儀，縮寫為EDXRF或EDX和波長散射型X射線熒光光
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。 簡史 20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄
關于X射線的發展歷史，早可以追溯到1895年，德國物理學家威廉·康拉德·倫琴于這一年11月發現并識別出了X射線，因此，X射線在許多國家也被稱之為倫琴射線。 隨后在1909年，英國物理學家查爾斯·格洛弗·巴克拉發現了從樣本中輻射出來的X射線與樣品原子量之間的聯系；四年之后，也即在1913年，同樣來自
1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。 一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
X射線X射線(Xray)是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現，故又稱倫琴射線。其特性通常用能量(keV)或波長(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射線是原子內層電子在高速運動電子的沖擊下產生躍遷而發射的光輻射，其波長很短約介于0.001~2
X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析,本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X射線熒光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一臺X射線熒光分析儀,至60
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。波長色散X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。波長色散X射線熒光光譜儀的優點是不破壞樣品，分析速度快，波長色散X射線熒光光譜儀適用于測定原子序數4以
XRF是什么??XRF測試及XRF原理,本內容深入探討了XRF的相關內容，并做了整體的講解分析。1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述x射線熒光的分析，確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線熒光分析儀。用x射線熒光分析儀測量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；
1.美國Xenemetrix（能量色散） 美國Xenemetrix在過去30年內一直是能量色散X射線熒光光譜分析方面的領先創新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年經驗和專業知識的頂峰設計，該儀器占地面積少、性能優越。強大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射線熒光
4 、誤差范圍我們要考慮熱釋光的精確度問題，對古劑量、年劑量影響的各種因素（靈敏度、非線性、飽和等），那么就不但需要精確確定天然放射性來源，而且應考慮陶器在歷史上實際接受放射性照射條件，如含水量、氫逃逸等影響的因素。只有對上述各種因素作了正確測定和較正后，才有可能使其精確達到 10%&nb
X射線熒光的激發源使用X射線而不使用電子束，因為使用X射線避免了樣品過熱的問題。幾乎所有的商品X射線熒光光譜儀均采用封閉的X射線管作為初始激發光源。某些較簡單的系統可能使用放射性同位素源，而電子激發一般不單獨使用在X射線熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線熒光分析中使用。X射線熒光譜儀具有快速
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
掠射X射線分析是近年來迅速發展的一門分析技術，在科學研究以及分析檢測和質量控制等生產領域都有著廣泛的應用。X射線分析技術具有試樣無損分析、制樣經濟方便、操作簡單、分析結果重現性好及精度高等優點，使得這項技術在薄膜特性分析、半導體材料及磁鐵材料表面檢測方面受到特別的青睞。本文在綜述了國內外掠射X射線熒
（二） 質子激發 X 射線熒光分析質子激發 X 射線熒光分析開創于 1970 年，如今已發展成為一種成熟的多元素分析技術，廣泛應用于材料、地質、冶金、生物、醫學、考古與環境科學中，它是用加速器產生的高速帶電粒子轟擊待測樣品靶與靶的子相互作用，使樣品靶中待測物質的原子受激發，電離，當所形成的內
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色
分析測試百科網訊 2017年9月7日，第一屆原子光譜應用與技術學術研討會暨原子熒光交流會在云南昆明開幕。會議由中國質量檢驗協會檢驗檢測設備分會原子光譜應用與技術專業委員會、中國儀器儀表學會分析儀器分會主辦，昆明理工大學分析測試研究中心、《中國無機分析化學》、國家磷資源開發利用工程技術研究中心協辦
X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作
X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作