牛津儀器：背散射電子及X射線（BEX）成像
什么是BEX？ BEX是集背射電子和X射線成像于一體的新型微區分析技術，可以在SEM下同步、高效采集背散射電子圖像和元素面分布圖。 BEX技術能帶來哪些新體驗？ 此前，基于SEM的顯微分析大多是靜態的、逐步進行的，并且高度依賴用戶經驗。操作人員通常根據SE/BSE灰度圖中的形貌或原子序數襯度進行樣品導航，并借助EDS完成精細的成分分析。如果當前區域沒有感興趣的特征，則需要重復以上繁瑣步驟。 在BEX技術的支持下，即使樣品臺移動過程中也能實時呈現試樣的形貌、晶體取向、原子序數和元素分布等信息，讓復雜樣品分析極盡簡便迅捷之能。只需稍作停留即可獲得高分辨、高質量的元素面分布圖，無論是開展更精細的分析還是繼續樣品導航都如絲般順滑。 Unity BEX成像探測器 為什么BEX技術正在重新定義成像標準？ Unity BEX成像系統提供了快速、準確、高分辨率的彩色成像技術解決方案。Unity探測器融背散射電子與X射線傳感器于......閱讀全文
電子探針X射線顯微分析儀背散射電子及背散射電子像
背散射電子是指入射電子與樣品相互作用(彈性和非 彈性散射)之后，再次逸出樣品表面的高能電子，其能量接近于入射電子能量(E。)。背散射電子能量大于50eV，小于等于入射電子能量。背射電子的產額隨樣品的原子序數增大而增加，所以背散射電子信號的強度與樣品的化學組成有關，即與組成樣品的各元素平均原子序
Heuresis－HBI120－手持式背散射x射線儀器
Heuresis HBI-120是一種堅固耐用，符合人體工程學的手持式背散射x射線儀器，用戶能夠快速，經濟高效地找到隱藏的炸藥，毒品，麻醉劑和其他違禁品，可穿透超過2mm厚的鋼板，即機動車車身板的厚度的兩倍。 HBI-120重量只有3.0kg，利用小型化的內部120keV x射線發生器對
電子背散射衍射
20世紀90年代以來，裝配在SEM上的電子背散射花樣(Electron Back-scattering Patterns，簡稱EBSP)晶體微區取向和晶體結構的分析技術取得了較大的發展，并已在材料微觀組織結構及微織構表征中廣泛應用。該技術也被稱為電子背散射衍射(Electron Backscatte
X射線光電子譜
凱.西格班（Kai Manne Borje Siegbahn，1918- ）一直從事核能譜的研究。20世紀50年代，他和同事們用雙聚焦磁式能譜儀研究放射性能譜。當時，往往會因為回旋加速器的原因不得不停下來等待放射性樣品。能否用一種更容易掌握的代用品來激發放射性輻射呢？凱.西格班設想用X射線管使材料發
電子探針X射線顯微分析儀的特征X射線和吸收電子
特征X射線 高能電子入射到樣品時，樣品中元素的原子內殼層(如K、L殼層) 處于激發態原子較外層電子將迅速躍遷到有空位的內殼層，以填補空位降低原子系統的總能量，并以特征X射線釋放出多余的能量。 吸收電子 入射電子與樣品相互作用后，能量耗盡的電子稱吸收電子。吸收電子的信號強度與背散射電子的信號
Heuresis－HBI120－手持式背散射x射線儀器解決方案
euresis HBI-120手持式背散射成像儀，主要應用于公安、邊防、安檢、海關、邊境巡邏等，能夠快速找到隱藏在機動車輛、船舶、飛機、鋼桶、垃圾桶、郵箱和其他隱藏位置的威脅品和違禁品，諸如爆炸物、毒品、槍支、刀具、走私品等。
X射線光電子能譜
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
什么是X射線自由電子激光？
X射線自由電子激光（X-ray free electron laser, XFEL）是由直線加速器產生的X射線。XFEL是直線加速器中的電子束加速至接近光速，成為相對論電子，在波蕩器作用下產生正弦運動路徑，在運動軌跡切線方向產生同步輻射光，同步輻射光與電子束運動周期相同，于是得到相干疊加的光場，這種
“歐洲X射線自由電子激光”項目動工
位于德國漢堡的“歐洲X射線自由電子激光”項目的核心工程——3條地下隧道30日正式動工，預計2014年完工，2015年可進行首次科研實驗。 據德國媒體報道，歐洲X射線自由電子激光設施是世界上首個能產生高強度短脈沖X射線的激光設施。這一大型科研項目由德國牽頭，歐洲11個國家共同
X射線光電子能譜分析
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖，從而獲得待
專家聚焦“硬X射線自由電子激光”
以“緊湊型硬X射線自由電子激光裝置與應用”為主題的S23次香山科學會議日前在上海召開，楊國幀等6位院士和多位來自中國科學院，國內高等院校以及美國斯坦福大學、布魯克海文國家實驗室和歐洲X射線自由電子激光等國際國內的專家學者與會。 中國科學院物理所的楊國幀院士作了X射線自由電子激光，在科技上重要意
X射線光電子能譜（－XPS）
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。?原理：用X射線去輻射樣品，使原子或分子
電子背散射衍射的晶體分析
晶界、亞晶及孿晶性質的分析在得到EBSD整個掃描區域相鄰兩點之間的取向差信息后，可進行研究的界面有晶界、亞晶、相界、孿晶界、特殊界面（重合位置點陣CSL等）。相鑒定及相比計算就目前來說，相鑒定是指根據固體的晶體結構來對其物理上的區別進行分類。EBSD發展成為進行相鑒定的工具，其應用還不如取向關系測量
背散射電子像的用途
可以被應用于掃描電子顯微鏡中，由于在掃描電子顯微鏡中，樣品會反射部分的電子，從而能顯示待檢測樣品表面的一些狀況。
背散射電子像的用途
可以被應用于掃描電子顯微鏡中，由于在掃描電子顯微鏡中，樣品會反射部分的電子，從而能顯示待檢測樣品表面的一些狀況。
電子背散射衍射（EBSD）的應用
電子背散射衍射（EBSD）的應用 EBSD系統中自動花樣分析技術的發展，加上顯微鏡電子束和樣品臺的自動控制使得試樣表面的線或面掃描能夠迅速自動地完成，從采集到的數據可繪制取向成像圖OIM、極圖和反極圖，還可計算取向（差）分布函數，這樣在很短的時間內就能獲得關于樣品的大量的晶體學信息，如：織構和取向差
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
硬X射線自由電子激光裝置啟動建設
上海張江綜合性國家科學中心又一重大裝置項目——“硬X射線自由電子激光裝置”日前獲批啟動。據悉，該項目作為《國家重大科技基礎設施建設“十三五”規劃》優先布局的、國內迄今為止投資最大的重大科技基礎設施項目，在國家發展改革委、上海市和中科院的共同關心與支持下，在項目各參建單位的共同努力下，取得了階段性
電子衍射與x射線衍射有何異同
多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。這種晶體取向稱為擇優取向或織構，它引起X射線衍射花樣發生變化，使得連續均勻的衍射環成不連續、強度加強的斑點或弧段，而另一些晶面的衍射線強度變小甚至消失。測定織構的方法有多種中，但X射線方法具有準確、全面等特點，所
電子衍射與X射線衍射有什么異同
含義不同: 電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律。形成不同: 多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝,往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。當電子波（具有一定能量的電子）落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電
X射線光電子能譜儀原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
電子衍射與X射線衍射有什么異同
含義不同: 電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律。形成不同: 多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝,往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。當電子波（具有一定能量的電子）落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電
電子衍射與X射線衍射有什么異同
含義不同: 電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律。形成不同: 多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝,往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。當電子波（具有一定能量的電子）落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電
電子衍射與X射線衍射有什么異同
含義不同: 電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律。形成不同: 多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝,往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。當電子波（具有一定能量的電子）落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電
電子衍射與X射線衍射有什么異同
含義不同: 電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律。形成不同: 多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝,往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。當電子波（具有一定能量的電子）落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電
電子衍射和X射線衍射的異同點
電子衍射與X射線衍射一樣，遵從衍射產生的必然條件（布拉格方程+反射定律，衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等）和系統消光規律。但電子波是物質波，按入射電子能量的大小，電子衍射可分為高能電子衍射、低能電子衍射和反射式高能電子衍射，而X射線衍射是X射線照射樣品。
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
電子衍射與X射線衍射有什么異同
含義不同: 電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律。形成不同: 多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝,往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。當電子波（具有一定能量的電子）落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電
X射線管中X射線的產生原理
實驗室中X射線由X射線管產生,X射線管是具有陰極和陽極的真空管,陰極用鎢絲制成,通電后可發射熱電子,陽極（就稱靶極）用高熔點金屬制成（一般用鎢,用于晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料）.用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子,電子束轟擊靶極,X射線從靶極發出.
背散射電子像的工作原理
電子照射到待測樣品的過程中，樣品能發射一部分電子，背散射電子探頭就會檢測到這些電子，從而產生相應的電信號，通過放大電路之后，在對其進行相應的轉換，后在檢測器上顯示相應待檢測樣品表面的相關信息圖像。