能譜儀
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。......閱讀全文
能譜儀
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
能譜儀
原理編輯各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一?[1]??特點來進行成分分析的。性能指標編輯固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步
什么是能譜儀？能譜儀的原理簡介
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 原理 各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子
能譜儀用途
簡單說，就是根據射線粒子的能量，來分析物質的成份、含量。如γ射線能譜儀主要根據射線的能量判定核素，并分析放射性核素含量，在環境檢測、輻射防護、反應堆監控等廣泛應用。
能譜儀（EDS）
能譜儀：EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是電子顯微鏡（掃描電鏡、透射電鏡）的重要附屬配套儀器，結合電子顯微鏡，能夠在1-3分鐘之內對材料的微觀區域的元素分布進行定性定量分析。?原理：利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行成分分析。?EDS與WDS(Wave D
?能譜儀EDS
能譜儀EDS(Energy?Dispersive?Spectrometer)是電子顯微鏡（掃描電鏡、透射電鏡）的重要附屬配套儀器，結合電子顯微鏡，能夠在1-3分鐘之內對材料的微觀區域的元素分布進行定性定量分析。??原理：利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行成分分析。??與WDS(Wave?Dis
電子能譜儀概述
電子能譜儀：對固體表面進行微區成份分析及元素分布。可應用于半導體材料、冶金、地質等部門。X光光電子能譜儀：對固體進行化學結構測定、元素分析、價態分析。可應用于催化、高分子、腐蝕冶金、半導體材料等部門。 電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器
四道γ能譜儀
四道γ能譜儀是放射性礦產找礦勘探中常用的γ譜儀之一，目的是一次同時測量礦石、土壤中鈾、釷、鉀的含量。有地面四道γ能譜儀和四道γ能譜測井儀等。為了說明原理，先從基本的單道γ能譜儀的分析器說起。入射不同能量的γ射線，在探測器中產生不同幅度的脈沖電信號輸出；經過線性放大器放大之后，輸入到單道脈沖幅度分析器
什么是能譜儀
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡使用。包括以下幾指標：探頭：一般為Si(Li)鋰硅半導體探頭探測面積：幾平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV探測元素范圍：Be4～U92使用范圍：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；2、金屬材料的相分
能譜儀測試原理
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電流脈
能譜儀是什么？能譜儀與波譜議相比有哪些優點？
波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上
γ能譜儀的相關敘述
能譜儀主要有探測器、脈沖幅度分析器、記錄顯示電路三部分組成。工作時，探測器將不同能量的射線變成相應幅度的電脈沖并加以放大。放大的脈沖送到脈沖幅度分析器加以分離，然后由記錄顯示電路記錄。它既可以測量γ能譜，又可以測量總γ照射量率。野外輕便γ能譜儀常用于測量巖石或地層的鈾、鐳、釷、鉀等含量。一般實驗
能譜儀使用范圍
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
電子能譜儀的分類
電子能譜儀的類型有許多種，它們對樣品表面淺層元素的組成能做出比較精確的分析，有時還能進行在線測量如膜形成成長過程中成分的分布、變化的探測等，使監測制備高質量的薄膜器件成為可能。光電子能譜儀光電子譜儀分析樣品成分的基本方法，就是用已知光子照射樣品，然后檢測從樣品上發射的電子所帶有關于樣品成分的信息。試
電子能譜儀的構成
一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上，經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置，和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。?(1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空。現代電子能譜儀
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
多功能電子能譜儀
多功能電子能譜儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2007年10月31日啟用。 技術指標 X射線光電子能譜（XPS），可使用單色化Al靶X射線源及雙陽極Al/Mg靶X射線源，包括大面積XPS（0.8×2 mm），微區XPS（最小選區15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空間分辨率＜3
俄歇電子能譜儀
俄歇電子能譜儀（Auger Electron Spectroscopy，AES），作為一種最廣泛使用的分析方法而顯露頭角。這種方法的優點是：在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高；數據分析速度快；能探測周期表上He以后的所有元素。雖然最初俄歇電子能譜單純作為一種研究手段，但現在它已成為常規分析
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
牛津儀器超級能譜儀
近日，牛津儀器成功為西安交大、上海科技大學、中國科技大學、華為4家單位安裝調試了最新的超級能譜儀Extreme，取得到了客戶的一致好評。 Extreme超級能譜儀擁有獨到的設計，可以滿足在極低加速電壓下工作的需要，實現10nm左右空間分辨率的能力，是納米材料、薄膜材料分析的利器。 同
能譜儀的功能介紹
來自樣品的X光子通過鈹窗口進入鋰漂移硅固態檢測器。每個X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內產生電子空穴對。不同能量的X光子將產生不同的電子空穴對數。例如，Fe的Kα輻射可產生1685個電子空穴對，而Cu為2110。知道了電子空穴對數就可以求出相應的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高
能譜儀有哪些缺點？
(1)能量分辨率低,峰背比低。 由于能譜儀的探頭直接對著樣品，所以由背散射電子或X射線所激發產生的熒光X射線信號也被同時檢測到，從而使得Si(Li)檢測器檢測到的特征譜線在強度提高的同時，背底也相應提高,譜線的重疊現象嚴重。故儀器分辨不同能量特征X射線的能力變差。能譜儀的能量分辨率(130eV
能譜儀和波譜儀區別
剛剛學了這個，希望對同學你有用。波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，能譜儀有以下優點：1、分析速度快 2、靈敏度高 3、譜線重復性好。缺點：
XPS能譜儀XPS譜圖分析技術
在XPS譜圖中,包含極其豐富的信息,從中可以得到樣品的化學組成,元素的化學狀態及其各元素的相對含量。XPS譜圖分為兩類,一類是寬譜(wide)。當用AlKα或MgKα輻照時,結合能的掃描范圍常在0-1200eV或?0-1000eV。在寬譜中,幾乎包括了除氫和氦元素以外的所有元素的主要特征能量的光電子
關于電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
平插式能譜儀概述
平插式能譜儀是一種用于材料科學、礦山工程技術、能源科學技術領域的分析儀器，于2018年10月17日啟用。 技術指標 能量分辨率：MnKa優于127eV，主能譜儀在400,000CPS內MnKa始終優于127eV。元素分析范圍: B5～Cf98。譜峰穩定性：1,000cps到100,000cp
簡述能譜儀的性質指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好 檢出角：理論上該角度越大越好 探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器 能量分辨力：最高級別的能譜儀分辨力可達121eV 探測元素范圍：Be4～U92
電子能譜儀的分類介紹
電子能譜儀的類型有許多種，它們對樣品表面淺層元素的組成能做出比較精確的分析，有時還能進行在線測量如膜形成成長過程中成分的分布、變化的探測等，使監測制備高質量的薄膜器件成為可能。 光電子能譜儀 光電子譜儀分析樣品成分的基本方法，就是用已知光子照射樣品，然后檢測從樣品上發射的電子所帶有關于樣品成
能譜儀的測試原理簡介
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電