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案例簡要案情:方某,男,16歲,某日16:00許,在自家飲食店門口收太陽棚,當其雙手握住金屬搖桿時,突然倒地死亡。據其父回憶,當時方某左手握住搖桿上端,右手握住搖桿把。現場發現太陽棚卷軸上捆綁著一根電纜,電纜接觸到卷軸一側的表皮破損。經檢測證實金屬搖桿帶電。 ......閱讀全文
目前，已經成功研制出的掃描電鏡包括了：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡( LVSEM)、環境掃描電鏡( ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM )、掃描探針顯微鏡( SPM )，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾
目前，已經成功研制出的掃描電鏡包括：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡( LVSEM)、環境掃描電鏡( ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM )、掃描探針顯微鏡( SPM )，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾種
目前，已經成功研制出的掃描電鏡包括：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡( LVSEM)、環境掃描電鏡( ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM )、掃描探針顯微鏡( SPM )，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾種
用X光能否鑒定人體內的石狀物體真的是鉆石？先要了解什么是X光。 X射線的本質和光一樣,是一種電磁輻射,它覆蓋了從0.01nm到10nm的波段范圍,對應的能量范圍從125eV到125keV。通常我們把波長在0.001nm～0.1nm之間，能量較高的X射線稱為硬X射線,；波長在0.1nm以上，能量
諾貝爾獎是以瑞典著名的化學家 阿爾弗雷德·貝恩哈德·諾貝爾的部分遺產（3100萬瑞典克朗）作為基金在1900年創立的。該獎項授予世界上在物理、化學、生理學或醫學、文學、和平和經濟學六個領域對人類做出重大貢獻的人，于1901年首次頒發，截止2016年共授予了881位個人和23個團體。今天我們將盤點
1 掃描電鏡的原理 掃描電鏡（Scanning Electron Microscope,簡寫為SEM）是一個復雜的系統，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發展和應用的拓展，
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
電子顯微鏡 電子顯微鏡是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。 電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點的最小間距來表示。20世紀70年代，透射式電子顯微鏡的分辨率約為0.3納米(人眼的分辨本領約為0.1毫米)。現在電子顯微
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
工作原理分析由莫塞萊定律可知，各種元素的特征X射線都具有各自確定的波長，并滿足以下關系：通過探測這些不同波長的X射線來確定樣品中所含有的元素，這就是電子探針定性分析的依據。而將被測樣品與標準樣品中元素Y的衍射強度進行對比，即:就能進行電子探針的定量分析。 當然利用電子束激發的X射線進行元
2011年度北京市電子顯微學研討會暨第八屆全國實驗室科學管理交流會通知 為推動電子顯微技術的進步和發展，提高廣大電子顯微技術工作者的學術及技術水平，促進電鏡分析技術在國內生命科學、材料科學、地學等領域中的應用和發展，北京理化分析測試技術學會、北京市電鏡學會計劃于2011年7月15日—20日(星
2013年12月24日， 2013年度北京市電子顯微學年會在北京天文館隆重召開，來自科研院所、高等院校、儀器耗材廠商的200余位電子顯微學專家學者、技術工程師，參加了此次電子顯微學年會。大會當日下午，來自中國地質科學院的周劍雄老師，布魯克公司的劉軍濤先生、牛津公司的孟麗君女士、北京建筑
電子顯微鏡已經成為表征各種材料的有力工具。 它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應用中非常有價值的工具。 其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。 在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點和不同點。 &nb
掃描電鏡一種新型的多功能的，用途最為廣泛的電子光學儀器。數十年來，掃描電鏡已廣泛地應用在生物學、醫學、冶金學等學科的領域中，促進了各有關學科的發展。關鍵詞：掃描電鏡;應用1938 年德國的阿登納制成了第一臺掃描電子顯微鏡，1965 年英國制造出第一臺作為商品用的掃描電鏡，使掃描電鏡進入實用階段。近
在鋰離子電池發展的過程當中，我們希望獲得大量有用的信息來幫助我們對材料和器件進行數據分析，以得知其各方面的性能。目前，鋰離子電池材料和器件常用到的研究方法主要有表征方法和電化學測量。 電化學測試主要分為三個部分：（1）充放電測試，主要看電池充放電性能和倍率等；（2）循環伏安，主要是看電池的充放
所有固體樣品定量分析的方法都是利用一個已知成分的標樣，在多數情況下，（尤其金屬）純元素是適用的。無論是樣品還是標樣，都是在相同的試驗條件下檢測的。測出的相對強度比k，必需很精確，否則任何定量分析方法均會造成相同的誤差。假設k已
掃描電鏡實驗室環境要求： 室內溫度：20±5，相對濕度：70%以下，不得有冷凝現象。 電源電壓：(220±20)伏;頻率：(50±0.5)赫茲。 冷卻水流量不低于2L/min，壓力不低于5×10^4Pa，水溫為20±5。 實驗室內雜散磁通量密度不超過5×10^-7T，地基振幅不超過5μm，不
一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性：一個是它的化學成分，另一個是它內部的組織結構。所以，對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求，也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析
掃描電子顯微鏡的設計思想和工作原理，早在1935年已經被提出來了，直到1956年才開始生產商品掃描電鏡。商品掃描電鏡的分辨率從第一臺的25nm提高到現在的0.8nm，已經接近于透射電鏡的分辨率，現在大多數掃描電鏡都能同X?射線波譜儀、X?射線能譜儀和自動圖像分析儀等組合，使得它是一種對表面微觀世界能
能譜儀（Energy Dispersive Spectroscopy）簡稱能譜，用于樣品微區元素的成分和含量分析，常與掃描電鏡（SEM）或者透射電鏡（TEM）搭配使用。經常使用掃描電鏡可以知道，我們只要在樣品表面選擇感興趣的區域，點擊開始便可以獲得樣品表面元素成分及含量信息，非常的簡單快捷。&n
掃描電鏡及相應附件已成為機械零部件研究和生產過程中發現問題的有利手段。隨著掃描電鏡分辨率及自動化程度的提高以及附件裝置的增多。在SEM下可完成越來越多的材料分析表征工作。因此，充分利用掃描電鏡的優勢將為汽車、機械裝備的大發展、大創新做出巨大的貢獻。1、掃描電子顯微鏡和能譜儀的原理掃描電鏡是由電子槍發
主要包括X射線光電子能譜XPS和俄歇電子能譜法AES（1）X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射線光電子能譜(XPS )就是用X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激而發射出來，測量這些光電子的能量分布，從而獲得所需的信息。隨著
超全面石墨烯檢測方法大匯總，看完就是石墨烯檢測專家了！ 2004年，康斯坦丁博士通過膠帶從石墨上分離出石墨烯這種“神器的材料”，它的出現在全世界范圍內引起了極大轟動…… 石墨烯具有非同尋常的導電性能、極低的電阻率極低和極快的電子遷移的速度、超出鋼鐵數十倍的強度，極好的透光性……這些優異的性能
主要包括X射線光電子能譜XPS和俄歇電子能譜法AES（1）X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射線光電子能譜(XPS )就是用X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激而發射出來，測量這些光電子的能量分布，從而獲得所需的信息。隨著微電子技
一.圖像顯示和記錄系統高能電子束與樣品相互作用產生各種信息，如圖24-3所示，在掃描電鏡中采用不同的探測器接收這些信號。圖24-3 高能電子束與樣品作用產生信號電子示意圖二次電子的探測系統如圖24-4所示，它包括靜電聚焦電極(收集極或柵極)、閃爍體探頭、光導管、光
EDS元素分析 一、實驗目的 1.了解能譜儀（EDS）的結構和工作原理。 2.掌握能譜儀（EDS）的分析方法、特點及應用。 二、實驗原理 在現代的掃描電鏡和透射電鏡中，能譜儀（EDS）是一個重要的附件，它同主機共用一套光學系統，可對材料中感興趣部位的化學成分進行點分析、面分析、線分析。
掃描電子顯微鏡X-射線能譜分析儀,是一種多功能、超顯微、形貌與成分分析相結合的現代顯微分析儀器,可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、亞微米局部范圍內的表面特征和微米區域成份的定性和半定量分析。X射線能譜分析儀目前一般作為附件安裝在掃描電鏡和帶掃描附件的透射電鏡上,并在掃描電鏡的引導下
在介紹各種圖象成象機理‘信號檢測與處理技術、對比度與分辨率的關系，以及x射線光譜、能譜定性定量分析等過程中，列舉過一些應用實例。近年來由于探針和掃描電鏡電子光學性能及信號檢測與處理技術的改善和提高，x射線光譜和能譜技術的新發展，以及各種新的成象機理的應用和動態試驗技術的日趨完善，加以電子束儀器具有在
該系統為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量，足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束，作為X射線的激發源。為此，一般也采用鎢絲熱發射電子槍和2-3個聚光鏡的結構。 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流(在10-9-10-7A范圍)，常用的加速電壓為